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公开(公告)号：CN108188480A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810046403.8
申请日：2018-01-17
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了一种磨粒参数化排布锯片的磨粒参数优选设计方法，其包括如下步骤：(1)、根据加工结果设定磨粒切厚分布，给出设定锯切用量，初始化锯片表面磨粒参数；(2)、将锯片表面磨粒参数与锯切用量进行磨粒切厚分布计算，算出磨粒切厚分布；(3)、将步骤(2)算出的磨粒切厚分布与步骤(1)设定的目标磨粒切厚分布进行比较，若两者差异太大，调整磨粒锯切用量，再次进行步骤(2)、(3)循环，直到步骤(3)算出的磨粒切厚分布与步骤(1)中设定的磨粒切厚分布差异符合设定标准后，停止计算，此时锯片表面磨粒参数即为优选结果。(4)以优选结果锯片磨粒参数为依据进行锯片制备。采用该锯片进行加工，可以行之有效的达到预期加工目的。
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公开(公告)号：CN104197856A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410421514.4
申请日：2014-08-25
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种在位表面形貌检测工作台，包括机座和显微镜，机座包括下底板和上框体，上框体为其上端呈开口状的中空框体，上框体以可下底板的前后方向平移滑动的方式架设在下底板的上表面上方，下底板的前侧或后侧设有控制上框体前后滑行的X轴平移驱动装置，上框体的上端端面上架设有可沿上框体左右平移的放置平台，且上框体内设有控制放置平台左右移动的Y轴平移驱动装置，放置平台上竖设有安装立柱，安装立柱上设有可上下移动的安装块，显微镜安装在上述安装块上，安装立柱上安装有控制安装块上下移动的Z轴升降驱动装置。本发明的有益效果：其可实现在位和线下测量，适用范围广，并具有整体结构简单、合理、紧凑的特点。
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公开(公告)号：CN104006764A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410212609.5
申请日：2014-05-20
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/245
Abstract: 本发明公开一种去除数字微镜器件微镜抖动的装置及方法，装置包括激光光源、DMD、第一CCD相机及第二CCD相机；激光光源发出光束照射在DMD表面，经由DMD表面的微镜反射后，于反射空间内出现一对互补像，该一对互补像的对应反射光束分别被第一CCD相机和第二CCD相机同时接收，将所接收的一对互补像进行叠加处理，即实现消除DMD微镜抖动，从而可以消除DMD用于表面形貌测量时所产生的重要误差源。去除抖动装置结构简单，去除抖动方法简洁、易于控制，所达到的去除抖动效果优良。
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公开(公告)号：CN112091403B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202010923875.4
申请日：2020-09-04
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了纵扭推挽式压电振子，包括工具头和预紧机构，该工具头包括一焊头和两分别固设在焊头两端的调幅器；该工具头两端对称设有由内往外依序布置的纵扭夹心式换能器和齿轮转子，且通过预紧机构将纵扭夹心式换能器和齿轮转子装接在工具头；该纵扭夹心式换能器包括一变幅前盖板、N片压电陶瓷片、N片电极和一模态转换后盖板，该变幅前盖板与调幅器接触，该模态转换后盖板和齿轮转子接触，该N片压电陶瓷片和N片电极交错布置且设于变幅前盖板和模态转换后盖板间；该模态转换后盖板外周壁具有回转壁且回转壁上周向均匀分布有多个凹腔。它具有如下优点：实现固结与传动的双重功能，并且分时复用。
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公开(公告)号：CN117761068A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410172472.9
申请日：2024-02-07
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供了一种电子封装外壳引脚双面同步检测系统，包括支撑机构、传送装置、治具、视觉检测模块、图像处理系统，所述传送装置与视觉检测模块安装于所述支撑机构，所述治具用于承载待测样品，所述传送装置用于传送所述治具承载的待测样品至视觉检测模块检测，所述视觉检测模块包括以所述治具传送平面为中心对称布置的正面视觉检测模块和背面视觉检测模块，所述正面视觉检测模块与所述背面视觉检测模块均分别包括至少二组视觉检测机构，所述至少二组视觉检测机构分别对应检测待测样品的一列引脚，所述图像处理系统用于对视觉检测机构采集的引脚进行尺寸和缺陷检测。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN109916315B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN201910249806.7
申请日：2019-03-29
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/03
Abstract: 本发明提供一种基于分离式光栅的测量装置，包括控制模块、基座、平面移动平台、光栅刚体以及光栅读数头和测头，所述光栅刚体上开设有穿孔，所述测头与所述光栅刚体的栅面位于同一平面，所述光栅刚体上设置有两组以上的栅线组，所述栅线组包括多条相互平行且等间距依次排列的栅线，所述光栅读数头的数量与所述栅线组的数量相同，各所述光栅读数头与各所述栅线组一一对应布置，且所述测头与所述光栅读数头之间的连线和与该光栅读数头对应的所述栅线组中的所述栅线垂直布置。本发明实现了零阿贝误差设计，对导向元件的精度要求相对较低，成本也相对较低；同时，环境适应性较强，适用范围相对较广。
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公开(公告)号：CN116288751A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211666687.3
申请日：2022-12-23
Applicant: 华侨大学 , 厦门纳莱科技有限公司
Abstract: 本发明涉及静电纺丝领域，公开了一种同轴光辅助多射流静电纺丝检测系统及其使用方法，包括静电纺丝装置、激光光源组件、图像采集模块和计算机控制模块，静电纺丝装置的纺丝喷头上设有同轴针头，激光光源组件用于在内针头内形成朝向垂直向下的激光光束，图像采集模块用于采集同轴针头静电纺丝时的射流图像，计算机控制模块用于根据射流图像通过图像处理算法得到电纺射流的特征信息，并自动控制高压电源和可控注射泵调整电纺电压和可控注射泵的注射速度，激光光束和同轴针头上的射流耦合，使得图像采集模块能够清楚采集射流的特征信息，有利于计算机控制模块及时调整供液速度和电压，保证射流的稳定性。
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公开(公告)号：CN114754705B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202210374730.2
申请日：2022-04-11
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了垂直扫描白光干涉谱辅助穆勒矩阵椭偏测量系统和方法，垂直扫描白光干涉模块既可以辅助穆勒矩阵椭偏仪高精度调平，又可以实现衬底表面粗糙度的纳米级测量。穆勒矩阵椭偏测量模块实现衬底光学特性高精度、快速测量；数据处理模块包括表面形貌参数提取单元和光学特性参数提取单元；表面形貌参数提取单元包括所属垂直扫描白光干涉模块所采集的单帧图像和层析图像；基于单帧图像对样品台进行高精度调平，以保证椭偏测量数据精度，基于层析图像对表面形貌进行恢复和参数提取，提供对应测量点椭偏光学模型中粗糙层的初值，为椭偏参数解耦提供基础。
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