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公开(公告)号：CN115904915B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202310068013.1
申请日：2023-02-06
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器，属于芯片测试技术领域。所述芯片功能验证系统包括：一个或多个分布式处理器，分别位于一个或多个测试位处，且分别被配置有被测芯片接口，用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能；主控处理器，经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连，用于经由该第一CAN总线发送控制所述一个或多个分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。本发明的芯片功能验证系统可以支持多芯片并行测试，且能够有效消除测试指令和测试信号的传输时延。
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公开(公告)号：CN116736089B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202311026936.7
申请日：2023-08-16
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片高低温可靠性测试设备及方法。设备包括温控装置、顶板、电路板以及连接于顶板与温控装置之间的升降杆和伸缩返流管；温控装置的顶面开设有若干第一气流口；顶板的底面开设有若干第二气流口，顶板的内部开设有气流通道；电路板其中一面的面板上设有若干用于放置待测芯片的安装槽，安装槽与第二气流口适配；安装槽的槽底壁开设有气孔；所述电路板的另一面上与安装槽所在位置相对应处设有与所述第一气流口相适配的对接口；电路板上预先焊接有测试所需的连接线路以及测试板卡。采用该装置可延长测试板卡的使用寿命，并实现批量准确的高低温可靠性测试。
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公开(公告)号：CN116736089A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202311026936.7
申请日：2023-08-16
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片高低温可靠性测试设备及方法。设备包括温控装置、顶板、电路板以及连接于顶板与温控装置之间的升降杆和伸缩返流管；温控装置的顶面开设有若干第一气流口；顶板的底面开设有若干第二气流口，顶板的内部开设有气流通道；电路板其中一面的面板上设有若干用于放置待测芯片的安装槽，安装槽与第二气流口适配；安装槽的槽底壁开设有气孔；所述电路板的另一面上与安装槽所在位置相对应处设有与所述第一气流口相适配的对接口；电路板上预先焊接有测试所需的连接线路以及测试板卡。采用该装置可延长测试板卡的使用寿命，并实现批量准确的高低温可靠性测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115271058A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202211202953.7
申请日：2022-09-29
Applicant: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京航空航天大学
Abstract: 本发明实施例提供一种类脑计算芯片和数据处理终端，属于芯片技术领域。所述类脑计算芯片包括类脑计算阵列，用于类脑计算任务的数据处理，所述类脑计算阵列包括多个脉冲神经处理单元，所述多个脉冲神经处理单元呈阵列分布，所述多个脉冲神经处理单元中的每一个脉冲神经处理单元用于处理神经元计算和突触计算。本发明实施例提供的类脑计算芯片包括由多个脉冲神经处理单元组成的类脑计算阵列；每一个脉冲神经处理单元都可以同时处理神经元计算和突触计算；替代了传统的类脑计算架构中分离式的神经元和神经突触，减少了因神经元和神经突触之间频繁的数据交换造成的能量损失和计算时延，显著提高了运算速度，降低了芯片在处理大量数据时的系统功耗。
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公开(公告)号：CN114333943A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111370794.7
申请日：2021-11-18
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 复旦大学
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明实施例提供一种阻变存储器的写操作方法及系统，属于存储技术领域。所述方法包括：获取待写入数据，并基于预设基准时间将所述待写入数据写入到存储器阵列各目标单元中；获取各目标单元的需求写入时间，将需求写入时间大于所述预设基准时间的目标单元确定为检测单元，并执行以下步骤：1)分别进行各检测单元自读取；2)根据自读取的结果确定各检测单元中是否存在存储错误的检测单元，并获取存储错误的检测单元的错误比特位；3)根据所述错误比特位对存储错误的检测单元进行数据重新写入；重复执行步骤1)‑3)，直至确定不存在存储错误的检测单元。本发明方案缩短了整个阻变存储器系统的写入时间，提高了写入效率。
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公开(公告)号：CN114222142A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202210165456.8
申请日：2022-02-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 复旦大学
Abstract: 本申请实施例提供一种基于脉冲神经网络的图像编码方法及装置，属于神经计算及图像处理技术领域。方法包括：获取待处理图像；对于待处理图像中的每一像素点，获取像素点的特征属性，依据像素点的特征属性确定像素点的信息强度值；将像素点编码为表征像素点在预设时间窗口内对应的脉冲发放时刻的时域编码数据，并以时域编码数据作为待处理数据输入输入神经元，像素点对应的脉冲发放时刻与像素点的信息强度值负相关。本申请通过将像素点的信息强度值近似线性地映射到预设时间窗口内的脉冲发放时刻，使得输入输入神经元的像素点的信息强度值越高，输入神经元的脉冲发放时间越早，从而有助于提高有效数据的区分度，降低数据处理的延时和计算复杂度。
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公开(公告)号：CN220399960U
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202322025208.6
申请日：2023-07-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06K19/077
Abstract: 本实用新型实施例提供一种基于磁性存储器的U盾，属于信息安全技术领域。所述基于磁性存储器的U盾包括：主控安全电路、磁性存储电路、USB接口电路以及稳压电路；所述主控安全电路的SPI通讯端口与磁性存储器电路的通讯端口连接，所述主控安全电路的差分数据端口与USB接口电路的差分数据端口连接；所述稳压电路与所述USB接口电路的电源端口连接，USB接口电路输入的5V电源转换为3.3V电源，为所述主控安全电路、磁性存储电路、USB接口电路供电。该U盾采用磁性存储电路作为数据存储元件，具有无限次数的擦写耐久性，功耗更低，读写速度更快，无需擦除即可再次写入信息。
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公开(公告)号：CN218647637U
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202320121205.X
申请日：2023-02-06
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
Abstract: 本实用新型实施例提供一种抗磁测试装置，属于芯片测试技术领域。所述抗磁测试装置包括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述被测产品在所述热流管中的位置。所述抗磁测试装置解决了现有抗磁测试装置有限空间中提供强磁场环境的电磁铁与温控设备协同工作的问题。
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