公开(公告)号：CN111024001A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201911284309.7

申请日：2019-12-13

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  李欣 ,  李伟仙

IPC: G01B11/26

Abstract: 本公开涉及一种滚转角测量方法及装置。所述方法包括：采用剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化；根据所述物面滚转所引起的相位变化，确定所述物面的滚转角。本公开可以有效提高滚转角的测量速度，并且由于剪切散斑干涉法在一定程度上放松了严格的机械和热稳定性要求，使得该方法可以适应非实验环境下的滚转角测量。

公开(公告)号：CN109357615A

公开(公告)日：2019-02-19

申请号：CN201811133659.9

申请日：2018-09-27

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  李洋洋 ,  李伟仙 ,  杨连祥 ,  董明利

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/16

Abstract: 本申请实施例公开了一种散斑干涉与剪切散斑干涉的共用装置，其特征在于，包括：散斑干涉光路、剪切散斑干涉光路和光路切换模块；其中，所述光路切换模块，用于进行所述散斑干涉光路和所述剪切散斑干涉光路之间的光路切换。本申请实施例可以通过光路切换模块，在一个测量装置中实现散斑干涉测量光路和剪切散斑干涉测量光路的切换，有效降低了切换不同测量装置导致的操作繁琐问题。

公开(公告)号：CN108627113A

公开(公告)日：2018-10-09

申请号：CN201810284041.6

申请日：2018-04-02

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  袁腾飞 ,  李伟仙 ,  杨连祥 ,  董明利

IPC: G01B11/16 ,  F21V13/02 ,  F21V5/04 ,  F21V5/00

Abstract: 本发明的实施例提供一种用于数字散斑干涉系统的匀光管照明装置。匀光管照明装置包括第一凸透镜、匀光管、非球面镜以及第二凸透镜，第一凸透镜以及第二凸透镜均为双凸镜，非球面镜的两端分别为凸面与平面，沿光束的照射方向，第一凸透镜、匀光管、非球面镜以及第二凸透镜依次设置，其中第一凸透镜和非球面镜分别连接在匀光管的两端，非球面镜上的凸面朝向光束的来向，第二凸透镜的入射焦点与非球面镜的折射焦点重合。本发明通过设置第一凸透镜、匀光管、非球面镜以及第二凸透镜，保证激光经过各部件时没有损失，进而保证激光照射到被测物上形成了均匀的光斑能量场，得到干涉条纹更加清晰的图像，提高了利用数字散斑干涉技术对于物体检测的准确性。

公开(公告)号：CN105973169A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201610394287.X

申请日：2016-06-06

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  杨连祥

IPC: G01B11/26

CPC classification number: G01B11/26

Abstract: 本申请公开了一种滚转角测量方法、装置和系统，其中，所述滚转角测量方法包括：采用数字散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位分布信息；至少根据所述相位分布信息确定所述物面的滚转角。本申请提供的技术方案应用广泛，所需器件少，系统结构简单，测量结果直观且实时。

公开(公告)号：CN103411941B

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201310367190.6

申请日：2013-08-21

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 祝连庆 ,  周哲海 ,  郭阳宽 ,  孟晓辰 ,  刘谦哲 ,  王君 ,  吴思进

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。

公开(公告)号：CN105093893A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201510260769.1

申请日：2015-05-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  杨连祥 ,  潘思阳 ,  祝连庆 ,  吕勇

IPC: G03H1/22

Abstract: 本发明涉及一种时空三维相位解包裹的方法和装置，所述方法包括：对对应于一待测物面的包裹相位图的至少一特征点进行时间相位解包裹，得到所述至少一特征点的绝对相位，所述至少一特征点为所述包裹相位图的部分点；以所述至少一特征点的至少之一为起始参考点，对所述包裹相位图进行空间相位解包裹，得到所述包裹相位图的至少一其他点的绝对相位。本发明可以较低的成本得到包裹相位图全场的绝对相位，还可处理对应于不连续物面的包裹相位图。

公开(公告)号：CN103424861B

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201310360812.2

申请日：2013-08-19

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 周哲海 ,  祝连庆 ,  娄小平 ,  吴思进 ,  刘谦哲 ,  孟晓辰 ,  潘志康

IPC: G02B21/36 ,  G02B27/09 ,  G02B27/28 ,  G01N21/64

Abstract: 本发明提出了一种基于柱偏振涡旋光束的超分辨共焦显微成像装置，包括针孔滤波器，使从激光器发出的光束经过后获得高斯基模光束；准直透镜，将所述高斯基模光束准直为平行光束；偏振及相位转换系统，使平行光束经过得到具有预定偏振及相位分布的柱偏振涡旋光束；光瞳滤波器，使柱偏振涡旋光束经过，经过分束镜反射并被聚光镜聚焦到待测样品上；滤光片，从样品反射的光信号经过聚光镜和分束镜后入射到一滤光片上，该滤光片只允许光信号中的荧光信号透射；探测器，所述荧光信号被聚光镜聚焦到探测针孔上，并被探测器探测转换为电信号输出；三维平移台，其上放置样品，通过移动三维平移台可实现样品不同位置的探测，从而实现样品的三维扫描成像。

公开(公告)号：CN111457855B

公开(公告)日：2025-03-28

申请号：CN202010314839.8

申请日：2020-04-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/16

Abstract: 本公开涉及一种数字散斑干涉系统的测量精度确定方法及装置。所述方法包括：采用激光双频干涉仪监控物面绕偏摆轴执行多次偏摆，其中，所述物面绕所述偏摆轴每次偏摆的角度为第一预设角度；采用数字散斑干涉系统测量所述物面中的目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变；根据所述第一预设角度和所述目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变，确定所述数字散斑干涉系统的面外形变测量精度。本公开可以实现对数字散斑干涉系统的面外形变测量的精度评价，进而可以在面外形变测量时有效实现对数字散斑干涉系统的标定和校准。

公开(公告)号：CN110766627A

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201910980587.X

申请日：2019-10-16

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 李伟仙 ,  宁雪玲 ,  吴思进 ,  董明利 ,  祝连庆

IPC: G06T5/00

Abstract: 本申请公开了一种散斑干涉图像的降噪方法和装置，该方法包括：通过正弦变换和余弦变换将不连续的原始相位图转换为连续的正弦相位图和余弦相位图；利用平稳小波变换对正弦相位图和余弦相位图分别进行降噪处理，得到正弦降噪相位图和余弦降噪相位图；根据正弦降噪相位图和余弦降噪相位图，确定目标降噪相位图。本申请能够有效、快速地滤除散斑干涉图像中的噪声。

公开(公告)号：CN105973169B

公开(公告)日：2018-09-11

申请号：CN201610394287.X

申请日：2016-06-06

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  杨连祥

IPC: G01B11/26

Abstract: 本申请公开了一种滚转角测量方法、装置和系统，其中，所述滚转角测量方法包括：采用数字散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位分布信息；至少根据所述相位分布信息确定所述物面的滚转角。本申请提供的技术方案应用广泛，所需器件少，系统结构简单，测量结果直观且实时。