公开(公告)号：CN110006367B

公开(公告)日：2021-08-13

申请号：CN201910307373.6

申请日：2019-04-17

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/26 ,  G01C1/00

Abstract: 本申请公开了一种偏摆角、俯仰角测量方法和装置。该方法包括：采用数字散斑干涉法测量物面偏摆所引起的相位分布信息；根据所述相位分布信息确定所述物面的偏摆角。本申请提供的技术方案可以测量物面偏摆角的全局分布。

公开(公告)号：CN110006367A

公开(公告)日：2019-07-12

申请号：CN201910307373.6

申请日：2019-04-17

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/26 ,  G01C1/00

Abstract: 本申请公开了一种偏摆角、俯仰角测量方法和装置。该方法包括：采用数字散斑干涉法测量物面偏摆所引起的相位分布信息；根据所述相位分布信息确定所述物面的偏摆角。本申请提供的技术方案可以测量物面偏摆角的全局分布。

公开(公告)号：CN111457855A

公开(公告)日：2020-07-28

申请号：CN202010314839.8

申请日：2020-04-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/16

Abstract: 本公开涉及一种数字散斑干涉系统的测量精度确定方法及装置。所述方法包括：采用激光双频干涉仪监控物面绕偏摆轴执行多次偏摆，其中，所述物面绕所述偏摆轴每次偏摆的角度为第一预设角度；采用数字散斑干涉系统测量所述物面中的目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变；根据所述第一预设角度和所述目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变，确定所述数字散斑干涉系统的面外形变测量精度。本公开可以实现对数字散斑干涉系统的面外形变测量的精度评价，进而可以在面外形变测量时有效实现对数字散斑干涉系统的标定和校准。

公开(公告)号：CN111457855B

公开(公告)日：2025-03-28

申请号：CN202010314839.8

申请日：2020-04-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/16

Abstract: 本公开涉及一种数字散斑干涉系统的测量精度确定方法及装置。所述方法包括：采用激光双频干涉仪监控物面绕偏摆轴执行多次偏摆，其中，所述物面绕所述偏摆轴每次偏摆的角度为第一预设角度；采用数字散斑干涉系统测量所述物面中的目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变；根据所述第一预设角度和所述目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变，确定所述数字散斑干涉系统的面外形变测量精度。本公开可以实现对数字散斑干涉系统的面外形变测量的精度评价，进而可以在面外形变测量时有效实现对数字散斑干涉系统的标定和校准。