SOI晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN101978467A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200980110193.3

    申请日:2009-03-23

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L21/30608

    Abstract: 本发明提供一种制造SOI晶片的方法,该方法能够有效去除存在于离子注入层中的离子注入缺陷层,所述离子注入层位于通过离子注入剥离方法剥离的剥离表面附近;确保基板的面内均一性;还能实现低成本和高产量。所述制造SOI晶片的方法至少包括以下工序:将硅晶片或含有氧化膜的硅晶片与支撑晶片贴合以制备贴合基板的工序,所述硅晶片通过注入氢离子和/或稀有气体离子而形成离子注入层;沿所述离子注入层进行剥离,从而将所述硅晶片转印至所述支撑晶片上,制成剥离后的SOI晶片的工序;将所述剥离后的SOI晶片在氨-过氧化氢水溶液中浸渍的工序;对经过所述氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片施以900℃以上的热处理的工序;和/或通过10-50nm的CMP研磨,对所述经过氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片的硅膜层进行研磨的工序。

    III族氮化物单晶基板的制造方法
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119301315A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202380044300.7

    申请日:2023-03-28

    Inventor: 久保田芳宏

    Abstract: 提供了一种III族氮化物单晶基板的制造方法,该方法可以缩短器件的制造时间,并且可以抑制器件制造期间的裂纹和特性劣化。该III族氮化物单晶基板的制造方法包括执行以下:准备包括氮化物陶瓷的支承基板的支承基板准备步骤;在支承基板的上表面上设置平坦化层的平坦化层形成步骤;在平坦化层的上表面设置晶种层的晶种层形成步骤;在晶种层的上表面上外延生长目标III族氮化物单晶来形成复合基板的外延成膜步骤;和除去平坦化层和晶种层中的至少一者从而将由III族氮化物单晶制成的III族氮化物单晶基板与复合基板的剩余部分分离的分离步骤。

    III族氮化物基板的制造方法和III族氮化物基板

    公开(公告)号:CN114901876A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202080092360.2

    申请日:2020-12-03

    Abstract: 本发明的III族氮化物基板的制造方法包括以下工序:在基板的两面形成表面为III族元素面的III族氮化物膜,制作III族氮化物膜担载体;对III族氮化物膜担载体的III族氮化物膜进行离子注入,在III族氮化物膜上形成离子注入区;将已进行离子注入的III族氮化物膜与主要成分为III族氮化物的多晶基底基板贴合,将III族氮化物膜担载体接合于基底基板;使III族氮化物膜担载体从基底基板上分离,将离子注入区转印至基底基板,在基底基板上形成表面为N面的III族氮化物膜;以及利用THVPE法在基底基板的表面为N面的III族氮化物膜上形成III族氮化物膜,制作III族氮化物膜的厚膜。本发明的III族氮化物基板是利用本发明的III族氮化物基板的制造方法制造的。根据本发明,可提供:可制造大口径和高品质的III族氮化物基板的III族氮化物基板的制造方法;以及利用该制造方法制造的III族氮化物基板。

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