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公开(公告)号：CN118394301B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410866938.5
申请日：2024-07-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F7/544
Abstract: 本申请涉及一种函数处理电路的构建方法、函数处理电路和硬件加速器，涉及数据处理技术领域。所述方法包括：对目标函数进行连续二阶函数转换处理，得到所述目标函数的第一子函数；其中，所述目标函数为正弦函数或余弦函数；对所述目标函数进行插值处理，得到所述目标函数的第二子函数；其中，所述第一子函数和所述第二子函数之积表征所述目标函数；根据所述第一子函数、所述第二子函数，以及所述第一子函数和所述第二子函数之积对应的连接乘法器，构建所述目标函数对应的函数处理电路。采用本方法能够提高构建的函数处理电路的收敛速度和吞吐量。
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公开(公告)号：CN118606087A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410740370.2
申请日：2024-06-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/07 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本公开提供一种电子板卡故障分析方法、装置、电子设备及存储介质，属于故障诊断技术领域，获取待分析电子板卡的多通道数据；输入所述多通道数据至预先训练完成的混合注意力网络，得到所述多通道数据的特征数据；根据所述多通道数据的特征数据和预设的故障知识字典，得到所述待分析电子板卡的故障类型；其中，所述混合注意力网络基于多通道数据样本训练得到，所述多通道数据样本基于对电子板卡进行故障模拟得到。本公开通过对电子板卡进行故障模拟，解决电子板卡单通道数据的多通道数据的特征数据较少的问题，通过预先训练完成的混合注意力网络提取待分析电子板卡的多通道数据的特征，解决多通道输入的网络特征提取不足的问题。
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公开(公告)号：CN118363712A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410405886.1
申请日：2024-04-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F9/455 , G06F40/186 , G06F9/445
Abstract: 本申请涉及一种嵌入式示例工程自动生成方法、装置、设备和存储介质。方法包括：从预设驱动程序库中获取主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板；并将主控芯片和外设芯片的配置和连接进行硬件抽象描述，得到硬件抽象文件。进一步地，根据硬件抽象文件与主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板，生成嵌入式示例工程。本申请中，通过硬件抽象文件和预设驱动工程模板，生成完整的嵌入式示例工程，从而可以提高嵌入式软件的开发效率。
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公开(公告)号：CN118275846A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410419724.3
申请日：2024-04-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种通过加速寿命试验进行退化评价的方法，涉及半导体技术领域。通过开展在特定温度、湿度、电场强度下的加速试验，叠加可控的腐蚀性气体，可以开展在高湿、高腐蚀性应用场景下的可靠性评价及寿命预测，是一种能够更好地评估功率半导体分立器件及其模块的封装、钝化层及终端的稳健性的加速试验方法。在试验指定时间节点或试验结束后，能检测待测件的电学敏感参数，并根据电学敏感参数的变化情况，分析界面处腐蚀性离子的吸附剖面，实现对其封装、钝化层及终端结构的退化进行全面评估，有利于明确在高温、高湿、高电场强度及腐蚀性气体环境下的退化原因，为后续产品改进提供指导。
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公开(公告)号：CN118209832A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410387700.4
申请日：2024-04-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种碳化硅场效应晶体管的体二极管退化试验电路及其控制方法，该体二极管退化试验电路包括：待试验组件、驱动模块、开关模块、储能模块和电源模块；其中，待试验组件包括至少一碳化硅场效应晶体管，开关模块的控制端与驱动模块连接，开关模块的第一端与电源模块的正极连接，开关模块的第二端与待试验组件的第一端连接；储能模块分别与开关模块的第二端、待试验组件的第一端、电源模块的负极、待试验组件的第二端连接；其中，驱动模块用于提供周期性的脉冲驱动电压至开关模块，控制开关模块周期性导通和关断，以产生施加在碳化硅场效应晶体管的体二极管的脉冲电流，能够有效地对SiC MOSFET体二极管的双极退化进行可靠性试验。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117828279B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410240011.0
申请日：2024-03-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种脉冲信号测量数据处理方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：对原始测量数据进行数据拓展处理，构造原始测量数据对应的奇次谐波信号数据；对奇次谐波信号数据进行快速傅里叶变换处理，得到频率域信号数据；基于频率域信号数据和预设双端口正向传播S参数，确定输出信号数据；对输出信号数据进行快速傅里叶逆变换处理，得到时域信号数据；对时域信号数据进行去噪处理，得到脉冲信号时域测量结果。本申请通过构造的奇次谐波信号数据再结合傅里叶算法来消除原始测量数据中的直流偏置，将频率响应的线性和非线性区域完美连接起来，结合噪声去噪，可以实现对脉冲信号的精准时域宽带波形测量。
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公开(公告)号：CN118169492A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410297566.9
申请日：2024-03-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种功率器件测试系统、方法、计算机设备和存储介质。该系统包括处于自然大气辐照环境下的多个并联连接的待测功率器件、监测装置和高压电源；多个并联连接的待测功率器件与高压电源连接，实现高压电源向多个待测功率器件供电，以将多个待测功率器件均置于高压反偏状态或高压阻断状态；在此状态下，监测装置监测每一待测功率器件在关断状态下的电流值，并根据所监测到的每一待测功率器件的电流值，确定每一待测功率器件的失效情况。上述系统，可以实现同时对大规模功率器件阵列进行失效检测，提高了功率器件失效情况检测的检测效率；并且增加了样本数量，排除了少量样本数量存在的偶然性问题，提高了功率器件失效情况检测结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN118150967A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410280716.5
申请日：2024-03-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种功率器件失效检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：针对预设多个海拔高度中每个海拔高度，获取海拔高度处地面宇宙射线的粒子通量，确定在海拔高度处的地面宇宙射线辐照下，参考功率器件组的器件失效率，并根据粒子通量和器件失效率，确定海拔高度的目标量化值；根据各海拔高度的目标量化值，选取测试海拔高度；确定在测试海拔高度处测试功率器件组的器件失效率；根据任一目标海拔高度处的粒子通量和测试海拔高度处的粒子通量，得到失效率因子；根据测试功率器件组的器件失效率以及失效率因子，得到在目标海拔高度处测试功率器件组的器件失效率。采用本方法能够提高功率器件组失效率确定准确性。
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公开(公告)号：CN118011292A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410158778.9
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R33/06
Abstract: 本申请涉及一种磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、SMA同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；所述第一导线的第一端与所述驱动环路的第一端连接，所述第一导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第一端连接；所述第二导线的第一端与所述驱动环路的第二端连接，所述第二导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第二端连接；所述探测环路，用于探测电子系统的内部组件之间的磁场信号，并基于所述磁场信号生成感应电流，并通过所述第一导线和所述第二导线向所述SMA同轴连接器传输所述感应电流。采用本装置能提高磁场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN117763483A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410009187.5
申请日：2024-01-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/2433 , G06F18/241 , G06F18/213 , G06F40/289 , G06F40/30 , G06N3/0442 , G06N3/0464 , G06N3/082
Abstract: 本申请涉及一种故障检测方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取目标故障文本对应的目标词向量矩阵，并将目标词向量矩阵输入至预设故障检测模型中。通过预设故障检测模型提取目标词向量矩阵对应的至少一个故障检测类型的检测特征值，并对至少一个故障检测类型的检测特征值进行标准化处理，以输出目标故障文本对应的故障检测结果。本申请中，通过预设的故障检测模型，提取目标词向量矩阵对应的故障检测类型的检测特征值，有利于提取出目标故障文本的深度特征，从而可以提高基于目标故障文本故障检测的准确性。
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