-
公开(公告)号：CN115914278A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211277431.3
申请日：2022-10-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种工业设备监测系统、方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该系统包括低频采样信号处理模块、高频采样信号处理模块以及监测服务器；低频采样信号处理模块通过无线网络接收低频采样信号，并将低频采样信号上传至监测服务器；高频采样信号处理模块通过专属有线网络接收高频采样信号，对高频采样信号进行本地异常监测，并将高频采样信号上传至监测服务器；监测服务器接收低频采样信号以及高频采样信号，并分别对低频采样信号以及高频采样信号进行异常监测。整个方案将低频采样信号与高频采样信号进行区分，实现不同数据的高效传输，同时对高频采样信号数据进行本地监测，及时发现异常，实现高效的监测处理。
-
公开(公告)号：CN115795920A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202310049470.6
申请日：2023-02-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F17/18 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种基于多应力耦合加速模型的产品可靠性评价方法和装置。所述方法包括：基于目标产品在加速应力测试下的失效模式对应的累计失效概率密度函数，构建目标产品在加速应力测试下的耦合竞争失效模型；将耦合竞争失效模型中参数的求解结果代入耦合竞争失效模型中，得到目标产品的可靠度函数；对可靠度函数的函数项进行积分处理，得到目标产品在加速应力测试下的初始特征寿命；基于初始特征寿命和加速应力测试包含的应力，确定目标产品的多应力耦合加速模型；对多应力耦合加速模型进行运算处理，得到目标产品的可靠性。采用本方法能够提高产品的可靠性评价精度。
-
公开(公告)号：CN114384365A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202210292440.3
申请日：2022-03-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种暴露产品薄弱环节测试方案的确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取目标产品的各组成部件，并确定与各组成部件分别对应的失效模式；确定与各失效模式分别对应的应力类型以及破坏程度等级；统计各应力类型分别对应的破坏程度总等级；依据各应力类型和各破坏程度总等级，确定测试方案；测试方案包括应力测试模式和应力测试顺序。本方法中的测试方案是针对目标产品的特性确定出的，因此按照本方法确定出的测试方案对目标产品进行薄弱环节激发测试，能够全面准确地暴露产品的薄弱环节。
-
公开(公告)号：CN114355094A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202210270597.6
申请日：2022-03-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G01M7/02 , G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/14 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测产品每一部件在实际使用过程中的故障数据，故障数据包括故障时刻；根据每一部件的故障数据，确定每一部件的平均故障前时间；根据每一部件的平均故障前时间，将最小平均故障前时间对应的部件作为待测产品实际使用的薄弱环节；采用可靠性仿真分析软件，获取每一部件的仿真故障率；将最大仿真故障率对应的部件作为待测产品仿真过程的薄弱环节；根据薄弱环节集合，确定待测产品的可靠性薄弱环节；薄弱环节集合包括待测产品实际使用的薄弱环节和待测产品仿真过程的薄弱环节。
-
公开(公告)号：CN114239326A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202210187886.X
申请日：2022-02-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/14 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种产品可靠性加速系数评估方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取产品的器件结构信息；基于所述器件结构信息，确定所述产品的可靠性评估模型；获取产品的各器件分别在常规使用条件下的常规失效率和在加速使用条件下的加速失效率；基于所述可靠性评估模型和各所述器件的常规失效率，确定所述产品的常规平均故障间隔时间，以及基于所述可靠性评估模型和各所述器件的加速失效率，确定所述产品的加速平均故障间隔时间；根据所述常规平均故障间隔时间和所述加速平均故障间隔时间，确定所述产品的可靠性加速系数。采用本方法能够提高产品的可靠性加速系数的评估精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111273102A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010123096.6
申请日：2020-02-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请公开了一种母线电容老化测试方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及伺服驱动技术领域，该母线电容老化测试方法包括：控制所述伺服驱动电路进行功率消耗，在伺服驱动电路进行功率消耗的过程中，控制电路周期性地控制功率驱动电路停止运行，控制电路控制放电电路对母线电容进行放电，并控制电容检测电路采集母线电容在放电过程中的电压数据；对于每次采集到的电压数据，根据电压数据确定母线电容的容值；根据每次确定的母线电容的容值确定母线电容的老化测试结果。在伺服驱动电路工作过程中，周期性地对母线电容的进行老化测试，将母线电容的老化测试放入伺服驱动电路这一实际工作场景中进行，因此，对老化测试的测试结果更准确。
-
公开(公告)号：CN109856483A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910089275.X
申请日：2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种MMC功率模块的关键器件可靠性评估方法和装置。所述方法包括：获取各关键器件对应的性能参数；性能参数为在多个时间点对关键器件进行测试得到；基于各性能参数、以及各关键器件对应的性能初始值运行参数估计模型，得到性能参数的平均退化速率和平均扩散系数；采用可靠度模型处理平均退化速率、平均扩散系数和各性能初始值的平均值，得到可靠度分布图；根据可靠度分布图评估关键器件的可靠性，输出可靠性评估结果。本申请利用测试获得的关键器件运行过程的性能参数来评估关键器件的可靠性，代替了传统技术中利用关键器件的故障数据信息来评估关键器件的可靠性，进而能够准确地、高效地评估质量越来越高的关键器件的可靠性。
-
公开(公告)号：CN108908408B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN201810962062.9
申请日：2018-08-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: B25J19/00
Abstract: 本发明涉及一种机器人测试装置及测试方法，机器人测试装置包括：安装框架、滑动组件、第一滑轮、第二滑轮与连接件。上述机器人测试装置在使用时，首先根据机器人待检测部位调整机器人测试装置与所述机器人之间的距离，然后将预设重量的砝码装设在机器人测试装置中，并通过连接件与砝码相连，从而实现砝码的悬挂。此时，只需调节连接件的伸出方向，然后将连接件的另一端与机器人的待检测部位相连，即可实现机器人测试装置对于机器人不同方向的应力测试，提高了机器人测试装置的使用效果。
-
公开(公告)号：CN116228045B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310512578.4
申请日：2023-05-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639 , G06Q10/20 , G06Q50/04 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/12
Abstract: 本申请涉及一种基于性能退化的产品可靠性薄弱环节评估方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：获取待评估产品各部件在各测试时间对应的性能退化参数；针对任一部件，通过故障时间评估模型对任一部件在各测试时间对应的性能退化参数进行评估，得到任一部件对应的故障前工作时间；采用基于置信度的不可靠度评估方法对任一部件对应的故障前工作时间进行评估，得到任一部件对应的不可靠评估结果；根据任一部件对应的不可靠评估结果，筛选出对应的目标部件寿命分布模型；根据目标部件寿命分布模型评估任一部件对应的平均故障间隔时间，筛选出待评估产品的可靠性薄弱环节。采用本方法能够提高对产品的可靠性薄弱环节的评估精度。
-
公开(公告)号：CN115809569B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202310049362.9
申请日：2023-02-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F17/18 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于耦合竞争失效模型的可靠性评价方法和装置。方法包括：获取目标产品在加速试验下的目标相关系数，并确定目标相关系数所属的目标线性转换函数；基于目标线性转换函数，建立目标产品的非线性维纳过程；根据对非线性维纳过程中参数的求解结果，得到目标产品多元性能退化失效时的第一不可靠度函数，并获取目标产品突发失效时的第二不可靠度函数；基于多元性能退化失效和突发失效之间的耦合竞争关系、第一不可靠度函数及第二不可靠度函数，构建耦合竞争失效模型，并根据耦合竞争失效模型确定目标产品的目标可靠度函数；根据目标可靠度函数，得到目标产品在加速试验下的可靠性评价结果。采用本方法可提高产品的可靠性评价结果准确率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
75
records
(took 0.075 seconds)
