使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统

    公开(公告)号:CN113167917A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN201980073978.1

    申请日:2019-10-14

    Abstract: 提供了一种x射线成像系统(100),该系统包括x射线源(10)和相关联的x射线检测器(20),其中,该x射线检测器(20)是使得能够检测光子计数事件的光子计数x射线检测器。该x射线成像系统(100)被配置用于使得能够基于检测到的光子计数事件来获取至少一个相衬图像。该x射线检测器(20)基于多个x射线检测器子模块,也称为晶片,每个x射线检测器子模块包括检测器元件,其中,这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向,其边缘指向该x射线源,从而使x射线通过边缘进入。每个x射线检测器子模块或晶片具有厚度,其两个相对侧具有不同电势,以使得电荷能够朝向布置这些检测器元件的一侧漂移,这些检测器元件也称为像素。该x射线成像系统(100)进一步被配置为:确定该x射线检测器的x射线检测器子模块或晶片中的电荷扩散的估计或度量,该电荷扩散源自康普顿相互作用或通过与入射x射线光子相关的光电效应的相互作用;并且基于所确定的电荷扩散的估计或度量来确定该入射x射线光子在该x射线检测器子模块中的相互作用点的估计。

    能在光子计数X射线检测器中估计X射线光子初始相互作用点的方法和系统

    公开(公告)号:CN113039459A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN201980074283.5

    申请日:2019-10-14

    Abstract: 提供了一种使得能够估计x射线光子在光子计数x射线检测器中的初始相互作用点的方法,该光子计数x射线检测器基于多个x射线检测器子模块或晶片,每个x射线检测器子模块或晶片包括检测器元件,其中,这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向,边缘指向x射线源,从而使x射线通过边缘进入。每个检测器子模块或晶片具有厚度,其两个相对侧具有不同电势,以使得电荷能够朝向布置这些检测器元件的一侧漂移,这些检测器元件也称为像素。基本上,该方法包括:确定(S1)该x射线检测器的检测器子模块或晶片中的电荷扩散的估计,该电荷扩散源自康普顿相互作用或通过与该x射线光子相关的光电效应的相互作用;以及基于所确定的电荷扩散的估计来估计(S2)沿着该检测器子模块的厚度的初始相互作用点。

    X射线传感器、构造X射线传感器的方法以及包括这种X射线传感器的X射线成像系统

    公开(公告)号:CN112204431A

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN201980036862.0

    申请日:2019-05-27

    Abstract: 公开了一种X射线传感器(1),其具有包括设置于X射线传感器(1)的表面区域(3)上的多个检测器二极管(2)的有源检测器区域,该X射线传感器(1)还包括围绕包括多个检测器二极管(2)的表面区域(3)的结终端(4),该结终端(4)包括最靠近表面区域(3)的端部设置的防护件(5)、设置于防护件(2)外侧的场阑(6)和设置于防护件(5)和场阑(6)之间的N个场限环FLR(7),其中每个FLR(7)都位于所选的位置,以使不同FLR(7)之间以及防护件与第一FLR之间的距离处于有效区域内,该有效区域由线α=(10+1.3×(n‑1))μm和β=(5+1.05×(n‑1))μm限定,并选定为使连续FLR(7)之间的距离恒定或随n的增加而增加,其中n表示FLR(7)的指数且1≤n≤N。还公开了用于构造这种X射线传感器(1)的方法以及包括这种X射线传感器(1)的X射线成像系统(100)。

    用于x射线成像的辐射硬硅探测器

    公开(公告)号:CN110603464A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201880029904.3

    申请日:2018-04-25

    Abstract: 公开了一种用于x射线成像的探测器系统。该探测器系统包括具有多个侧立探测器模块的探测器。每个侧立探测器模块包括适于朝向x射线源定向的第一边缘和基本上平行于入射x射线的方向延伸的正面。该正面包括至少一个电荷收集电极。多个侧立探测器模块中的至少一个子集从正面到正面成对布置,由此在所述成对布置的侧立探测器模块的正面之间限定正面到正面的间隙。成对布置的侧立探测器模块与布置在x射线源与侧立探测器模块之间的x射线路径中并且与正面到正面的间隙重叠的防散射准直器相关联。

    基于光子计数的X射线探测器系统

    公开(公告)号:CN110383108A

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201880016121.1

    申请日:2018-02-05

    Abstract: 本发明提供了一种X射线探测器系统(1),包括多个探测器元件(2),每个探测器元件连接到各自的光子计数通道(4,PCC),用于提供至少一个光子计数输出;以及读出单元(9),连接到输出光子计数输出的光子计数通道。该X射线探测器系统(1)的特征是:光子计数通道(4,PCC)的至少一个子集的每一个包括至少两个光子计数子通道(40-1至40-M),每个光子计数子通道提供至少一个光子计数输出,并具有整形滤波器(6),整形滤波器是被配置为具有不同的整形时间;具有不同整形时间的整形滤波器的光子计数子通道是适用于计数不同能量水平的光子。而且,对于每个光子计数通道(PCC),读出单元(9)是被配置为从光子计数子通道选择光子计数输出。

    X射线光谱成像方法与系统
    37.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106233335B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201480077832.1

    申请日:2014-04-07

    Abstract: 本发明提供了一种用于处理以至少两个能量水平获得的放射照相图像的方法。第一个步骤(S1)涉及例如从检测器或者从中间存储器提供具有至少两个能量水平的放射照相图像的能量分辨的图像数据表示。第二个步骤(S2)涉及基于模型将所提供的图像数据分解为至少一个基础图像表示,在该模型中,至少两个基础函数的组合被用于表达至少一个线性衰减系数的表示,其中至少一个基础函数用于模拟物理材料,以及至少一个其它基础函数用于模拟非线性部分容积(NLPV)效应。

    用于估计转换器的相对增益和偏移的方法和系统

    公开(公告)号:CN109844568A

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201680088837.3

    申请日:2016-08-31

    Inventor: 马丁·舍林

    Abstract: 公开了用于估计转换器(200)的增益和偏移的度量的方法、系统、装置和计算机程序。该转换器用于基于数字设置生成参考电压,该参考电压将被x射线成像系统中的光子计数检测器中的比较器(10,20)用作阈值。该方法包括选择(S1)第一转换器充当参考转换器(100)和第二转换器充当目标转换器(200)的步骤。该方法还包括将不同的数字设置分配(S2)给参考转换器(100)以便通过与参考转换器(100)相关联的比较器生成至少两个不同的参考电压(R)以用作阈值的步骤。该方法还包括以下步骤:基于光子计数测量,获得(S3)表示在与比较器(20)相关联的光子计数器中登记的光子数量的信息,该比较器(20)的参考电压由目标转换器(200)生成。基于所获得的表示光子数量的信息和至少两个数字设置,该方法确定目标转换器相对于参考转换器的增益和偏移的估计。

Patent Agency Ranking