公开(公告)号：CN104949925A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201510261943.4

申请日：2015-05-21

Applicant: 浙江科技学院 ,  浙江阮仕珍珠股份有限公司

Inventor： 冯晞 ,  施秧 ,  于爱华

IPC: G01N21/25 ,  G01B11/08 ,  G01B11/24 ,  G01N21/57

CPC classification number: G01N33/381 ,  G01N21/31 ,  G01N21/57 ,  G01N21/6456 ,  G01N21/87 ,  G01N21/8914 ,  G06K9/2018 ,  G06K9/469 ,  G06T7/0004 ,  G06T7/40 ,  G06T7/62 ,  G06T7/64 ,  G06T2207/10024 ,  G06T2207/10028

Abstract: 本发明提供一种珍珠分级方法，包括以下步骤：（1）确定待分级珍珠的颜色类别；（2）生成待分级珍珠的模拟三维图形；（3）计算圆度，得出圆度等级；（4）计算模拟三维图形的直径，得出直径等级；（5）绘制照度-波长反射光谱；（6）改变被检部位，再次绘制待照度-波长反射光谱；（7）重复步骤（6）至少两次；（8）作加权平均得到修正曲线；（9）将修正曲线与各光泽度等级光谱基准线比对，由重合度最高的光谱基准线确定光泽度等级。本发明的有益效果：通过图像识别及光谱分析技术对待分级珍珠自动分级，成本低、速度快、结果一致性好，且检测精度高。

公开(公告)号：CN104662740A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201380049148.8

申请日：2013-07-22

Applicant: 株式会社自动网络技术研究所 ,  住友电装株式会社 ,  住友电气工业株式会社

Inventor： 坂喜文 ,  大久保将之 ,  渡边玄

IPC: H01R13/03 ,  C25D5/10 ,  C25D7/00

CPC classification number: H01R13/03 ,  C23C18/1653 ,  C25D5/34 ,  C25D5/44 ,  C25D7/00 ,  G01N21/57 ,  G01N2201/12 ,  Y10T428/12736 ,  Y10T428/12903 ,  Y10T428/12986 ,  C25D5/12 ,  C25D5/505

Abstract: 本发明提供一种最表面具有锡层的连接器端子及其材料，所述连接器端子及其材料无论最表面的具体微观结构如何，均可实现低插入力，而接触电阻不会过度上升。所述连接器端子于包含与其它导电部件接触的接点部的区域的母材表面上形成复合被覆层，该复合被覆层由最表面露出锡的区域和露出铜-锡合金的区域构成，所述复合被覆层表面的光泽度在50～1000％的范围。

公开(公告)号：CN104145178A

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201280068234.9

申请日：2012-11-14

Applicant: 涂层国外知识产权有限公司

Inventor： W.凯特勒 ,  P.耶伦 ,  O.科滕

IPC: G01J3/46 ,  G01J3/50 ,  G01J3/02 ,  G01N21/57

CPC classification number: G01J3/463 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/46 ,  G01J3/462 ,  G01J3/504 ,  G01N21/4785 ,  G01N21/57

Abstract: 本发明涉及一种用于针对无光泽颜色标准的颜色配方计算的方法，所述方法具有下述步骤：A)利用积分球颜色测量仪器以实验方式确定颜色标准的反射光谱R(exp)，该反射光谱包括第一反射光谱(SPIN)和第二反射光谱(SPEX)，其中在(A1)d/8°几何布局，在包括镜面反射分量的情况下，获得所述第一反射光谱(SPIN)，并且在(A2)d/8°几何布局，在排除镜面反射分量的情况下，获得所述第二反射光谱(SPEX)；B1)基于已针对镜面反射分量校正的在包括镜面反射分量的情况下以实验方式确定的反射光谱R(exp)计算针对无光泽颜色标准的配方，B2)把已针对镜面反射分量被校正的在包括镜面反射分量的情况下以实验方式确定的反射光谱R(exp)和与有光泽色度的颜色配方数据库的颜色配方关联的反射光谱相比较，并且从所述颜色配方数据库识别与以实验方式确定的无光泽颜色标准的反射光谱R(exp)最接近的存储的反射光谱，以及关联的颜色配方；C)将以实验方式确定的无光泽颜色标准的反射光谱(SPIN，SPEX)的反射光谱数据转换成光泽度值，和D)借助于预先准备的可用着色剂系统的校准曲线将获得的光泽度值转换成消光剂(MAA)的量。

公开(公告)号：CN101529200B

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN200780038629.3

申请日：2007-10-17

Applicant: 芬兰技术研究中心

Inventor： H·克拉内

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/25 ,  G01S17/32 ,  D21F7/06 ,  G01B11/14 ,  G01N21/21 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01B11/0691 ,  D21F7/06 ,  G01B2210/50 ,  G01N21/41 ,  G01N21/57 ,  G01S7/499 ,  G01S17/46

Abstract: 光辐射处理单元(112)以这样的方式将从光源(104)发射的不同波长的光辐射从与被测量的表面(116)的法线(118)不同的方向引导至被测量的物体(114)，使得不同波长聚焦在被测量的表面(116)的法线(118)的方向上的不同高度处。可能的偏振器(120，122)以垂直于表面(116)的法线(118)的方向偏振反射的光辐射。光辐射处理单元(112)将其从被测量的物体(114)接收的偏振的光辐射引导至检测器(108)。信号处理单元(124)基于检测器(112)提供的信号从检测到的光辐射确定光辐射的强度最高的波长，并通过确定的波长来确定表面(116)的位置。当从两面测量物体(114)时，被测量的物体(114)的厚度可以使用表面的位置来确定。

公开(公告)号：CN102384899A

公开(公告)日：2012-03-21

申请号：CN201110224798.4

申请日：2011-07-28

Applicant: 毕克-加特纳有限责任公司

Inventor： 彼得·施瓦茨

IPC: G01N21/49 ,  G01N21/57

CPC classification number: G01N21/474 ,  G01N21/57 ,  G01N21/8806

Abstract: 一种用组合测量确定表面特征的设备和方法。该设备包括至少一个向该被测表面发射辐射线的第一辐射装置以及至少一个第一辐射探测装置，该第一辐射探测装置接收由至少一个辐射装置发出的、从该被测表面散射开来的至少部分辐射线、并输出至少一种标识所接收到的辐射线的特性的检测信号，还包括用于对该被测表面进行光泽度检测的第二辐射装置和第二辐射探测装置，该第二辐射装置以预设的入射角度向该被测表面发射辐射线，该第二辐射探测装置接收由至少该第二辐射装置辐射出的、从该被测表面反射出来的至少部分辐射线。该第二辐射装置向该被测表面发射辐射线的该入射角度不大于50°，该入射角度为辐射线的入射方向与该被测表面的法线方向所成的角度。

公开(公告)号：CN101910826A

公开(公告)日：2010-12-08

申请号：CN200980102369.0

申请日：2009-01-23

Applicant: 米卡埃尔·林德斯特兰德

Inventor： 米卡埃尔·林德斯特兰德

IPC: G01N21/57 ,  H01L27/146 ,  G01N33/34 ,  H04N3/15

CPC classification number: G01N21/57 ,  G01N21/27 ,  H01L27/14601 ,  H04N5/361

Abstract: 一种获取例如纸张等样本的样本表面的高动态范围的光谱、空间和角度分解的辐射的方法，通过电磁辐照器将受到控制的光谱分布的电磁辐射照射在样本的样本表面上，并且使用电磁感应传感器以记录所反射的光谱分布来实现该方法。电磁场的强度的光谱分布被建模为已经被样本的样本表面的多个空间适当限定的部分表面进行反射。关于输入辐射和输出信号之间的功能依赖性以及对于每一个单个传感器元件单独地选择的曝光时间段的记录适当限定电磁感应传感器，从而将代表所记录的高动态范围的光谱分解的电磁辐射的信息容量编译作为在测量过程中样本的样本表面内的部分表面的位置和对样本施加的各个角度的函数。

公开(公告)号：CN101726472A

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200910174084.X

申请日：2009-10-13

Applicant: 毕克-加特纳有限责任公司

Inventor： 康拉德·莱克斯

IPC: G01N21/57

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01N21/57

Abstract: 用于测定材料光学特性的设备，包括具有第一辐射装置和第一辐射探测装置的第一测量装置，第一辐射装置以第一辐射角引导辐射到材料上，第一辐射探测装置与材料成第一接收角放置并接收至少部分第一辐射装置引导到材料上和从材料上散射回的辐射，第一辐射探测装置还发出反映射在其上的辐射强度特征的第一特征信号。该设备还包括具有第二辐射装置和第二辐射探测装置的第二测量装置，第二辐射装置以特定的辐射角引导辐射到材料上，第二辐射探测装置与材料成一定接收角放置并接收至少部分由第二辐射装置引导到材料上和从材料上散射回的辐射，第二辐射探测装置允许对入射辐射进行局部分解评价，并发出至少一个反映射在其上辐射特征的第二特征信号。

公开(公告)号：CN101313208A

公开(公告)日：2008-11-26

申请号：CN200680043871.5

申请日：2006-11-22

Applicant: 施雷德公司

Inventor： M·弗兰基奈特

IPC: G01N21/47 ,  G01N21/57 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/4738 ,  G01M11/005 ,  G01N21/474 ,  G01N21/57 ,  G01N2021/4783 ,  G01N2021/575 ,  G01N2201/0221

Abstract: 本发明涉及确定特定表面的光反射特性的方法，通过对多个比较表面测量依照CIE标准推荐的r表；用“便携式”测量设备对相同的多个比较表面测量所选的入射光角(γ)和反射光角(90°－α)和(β)的光反射参数；用所述“便携式”设备在所述特定表面的多个测量点上就地测量所述角(γ)、(α)和(β)的所述参数；选择性地考虑亮度系数Q0的重标度因数，将特定表面的所述参数的角分布与所述比较表面的所述参数的角分布进行比较，以便选择显示最佳分布拟合的比较表面；并用所述的选择性重标度因数将与所述所选的比较表面相对应的“r表”分配给所述特定表面。

公开(公告)号：CN101243313A

公开(公告)日：2008-08-13

申请号：CN200680029684.1

申请日：2006-08-04

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： S·瓦德曼

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/47 ,  G01B11/30 ,  G01N21/57

CPC classification number: G01N21/474 ,  G01N21/274 ,  G01N21/57 ,  G01N2021/4714 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/0642

Abstract: 提供了一种具有双光束设置的散射仪或二次散射仪和使用其的方法，以产生光学参数测量值。双光束二次散射仪包括在底部由基底(320)密封的半球形穹面外壳(318)。辐射源(302)分成两个光束产生辐射：用于照明样本表面(308)的照明光束(304)和用于提供与照明光束(304)有关的光学特征信息的校准光束(330)。经由分立的光路将每个光束引导到半球形穹面外壳(318)之内。定位光学成像装置(324)以获取由被照明光束(304)照明的样本表面(308)散射的散射辐射(314)的图像，并同时获取校准光束的图像。在分析散射辐射数据时，利用校准光束图像补偿辐射源(302)的光输出的变化。

公开(公告)号：CN1831519A

公开(公告)日：2006-09-13

申请号：CN200610065705.7

申请日：2006-03-10

Applicant: 富士施乐株式会社

Inventor： 桑田良隆

IPC: G01N21/57 ,  G06F19/00

CPC classification number: G01N21/57

Abstract: 光泽测量装置以及光泽测量方法。本发明提供了一种光泽测量装置，从光源照射光、根据由被测量物反射的正反射光求出表示上述被测量物的光泽度的评价值。该光泽测量装置具有取得单元、像素光泽度计算单元、评价值计算单元。取得单元根据来自上述被测量物表面的正反射光的各个预定像素的受光量，取得图像信息。像素光泽度计算单元根据由上述取得单元取得的图像信息的各个像素的受光量，算出各个像素的光泽度。评价值计算单元根据由上述像素光泽度计算单元算出的上述光泽度，算出表示上述被测量物的光泽度的评价值。