公开(公告)号：CN102854411A

公开(公告)日：2013-01-02

申请号：CN201210215861.2

申请日：2012-06-27

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 大岛广美

IPC分类号： G01R31/00

CPC分类号： G01R31/31919 ,  G01R31/31932

摘要： 本发明提供一种以正确的时序比较取样的数据值的测试装置，用于测试输出数据信号和表示取样所述数据信号的时序的时钟信号的被测试器件，其具备：缓冲部，缓冲所述数据信号；图案发生部，在该测试装置的每个测试周期，发生控制信号及数据信号的期望值；读出控制部，在每个测试周期，以控制信号指示从缓冲部读出数据为条件，自缓冲部读出所述数据信号；判断部，比较被所述读出控制部读出的所述数据信号和被所述图案发生部发生的期望值。

公开(公告)号：CN102841478A

公开(公告)日：2012-12-26

申请号：CN201210212928.7

申请日：2012-06-21

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 原英生 ,  增田伸 ,  关淳

IPC分类号： G02F1/313

CPC分类号： G02F1/2255 ,  G02F1/0121 ,  G02F1/0316

摘要： 本发明提供一种以低半波长电压、高频率来调制输入光的光调制器。提供一种光器件，具有：基板；电介质膜，形成在基板上、且具有并行的第一光导波路以及第二光导波路；绝缘膜，形成在电介质膜上；共面线路，具有形成在绝缘膜上且配置在第一光导波路以及第二光导波路之间的信号线、配置在对着第一光导波路的第二光导波路相反侧的第一区域中的第一接地线以及配置在对着第二光导波路的第一光导波路相反侧的第二区域的第二接地线；以及辅助电极，在第一区域以及第二区域中与电介质膜相接或者设置在绝缘膜的内部、且施加对于第一光导波路以及第二光导波路的偏置电压。

公开(公告)号：CN101803127B

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN200780100582.9

申请日：2007-09-11

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 我田浩隆 ,  中村隆之

IPC分类号： H01R13/24 ,  H01R13/6585 ,  H01R43/00 ,  G01R1/04

CPC分类号： G01R1/0433 ,  H01R13/2442 ,  H01R13/2492 ,  H01R13/6585 ,  H01R13/6592 ,  H01R24/40 ,  H01R2103/00 ,  H01R2201/20

摘要： 本发明公开一种插座连接器(322)，安装在功能板本体(310)上，连接有同轴插头(440)。该插座连接器(322)具有外壳(610)与多个导电部件(500)。导电部件(500)各自具有与同轴插头(440)的信号线接触的内部导体(510)，以及包围内部导体(510)的外部导体(520)。外部导体(520)具有遮蔽部(521)，当连接着同轴插头(440)时，该遮蔽部(521)覆盖内部导体(444)的端面的位于插脱方向及圆周方向的一部分。内部导体(510)在较外部导体(520)的中心更偏向遮蔽部(521)侧的位置，向同轴插头(440)的插脱方向延伸。

公开(公告)号：CN102800367A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201210170582.9

申请日：2012-05-28

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 大岛广美

IPC分类号： G11C29/56

CPC分类号： G11C29/56012

摘要： 本发明提供一种进行高精度测试的测试装置，是对输出数据信号和表示所述数据信号取样的时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置，其具有：数据取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；屏蔽部，在被测试器件不输出时钟信号期间，屏蔽数据取得部的数据取得；判断部，基于将数据取得部取得的数据信号与期望值比较后的结果，判断被测试器件的好坏。

公开(公告)号：CN102798773A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201210169716.5

申请日：2012-05-28

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 大岛广美

IPC分类号： G01R31/00

CPC分类号： G01R31/31937 ,  G11C29/56012

摘要： 本发明的目的是确实取得数据并测试。本发明提供一种用于测试输出数据信号和表示数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件的测试装置，包括：取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；缓冲部，具有多个条目，在与被测试器件输出的时钟信号对应的时序中，依次在各条目对被取得部取得的数据信号进行缓冲，以根据该测试装置的测试周期发生的时序信号的时序输出在各条目缓冲后的数据信号；判断部，其将被缓冲部输出的数据信号与期望值进行比较。

公开(公告)号：CN102017115B

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN200880128825.4

申请日：2008-04-25

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 梅村芳春 ,  甲元芳雄

IPC分类号： H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2891 ,  G01R1/0491 ,  G01R31/2893

摘要： 本发明提供一种探针装置，包括：设置多个端子的线路板；以与线路板形成密闭空间的状态设置的、载置半导体晶片的晶片托盘；设置在线路板与晶片托盘之间的探针晶片，其装置侧连接端子与线路板的端子电连接，其多个晶片侧连接端子与各个半导体芯片一并电连接；设置在线路板和探针晶片之间的装置侧各向异性导电片；设置在探针晶片和半导体晶片之间的晶片侧各向异性导电片；以及在线路板和晶片托盘之间的密闭空间进行减压，以使晶片托盘接近线路板，直至规定的位置为止，且使线路板与探针晶片电连接、探针晶片与半导体晶片电连接的减压部。

公开(公告)号：CN102576049A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN200980161607.5

申请日：2009-09-25

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 甲元芳雄

IPC分类号： G01R31/302 ,  G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R1/073

CPC分类号： G01R1/07 ,  G01R31/2886 ,  G01R31/3025

摘要： 本发明提供一种探针装置，是与对象器件之间传送信号的测试装置，其具备：接触部，其利用与对象器件的端子接触，而电连接于对象器件；非接触部，其在未与对象器件的端子接触的状态下，与对象器件传送信号；以及保持部，其用于保持接触部和非接触部，可在连结非接触部和对象器件的对应端子的连接方向，改变接触部和非接触部的相对位置。

公开(公告)号：CN1879027B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31928 ,  G01R31/31919

摘要： 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。

公开(公告)号：CN102362187A

公开(公告)日：2012-02-22

申请号：CN201080013407.8

申请日：2010-01-15

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 甲元芳雄

IPC分类号： G01R31/26 ,  H01L21/60

CPC分类号： G01R31/01 ,  G01R31/2886 ,  H01L22/20 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/014 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49149 ,  Y10T29/53039 ,  Y10T29/53061 ,  Y10T29/5317 ,  Y10T29/53174 ,  Y10T29/53178 ,  H01L2924/00

摘要： 提供一种制造装置，能免除对于晶片的测试。其具有：检测部，用于检测器件具有的器件端子的位置；生成部，在基板的与器件端子对应的位置上，生成连接器件端子的基板侧端子；及安装部，将器件安装在基板上，并使器件端子和基板侧端子连接，其中，检测部对器件进行摄像，并从拍摄的图像中检测出器件端子的位置；生成部，在基板上与器件端子对应的位置上，印刷基板侧端子的图案。

公开(公告)号：CN102317803A

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN200980124402.X

申请日：2009-07-09

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 田村贤仁

IPC分类号： G01R31/319 ,  G11C29/56

CPC分类号： G11C29/56 ,  G01R31/31908 ,  G01R31/31922 ,  G11C29/56008 ,  G11C29/56012

摘要： 提供一种减小信号的相位误差的测试装置、测试方法、及移相器。所述装置包括：基准时钟源，产生控制所述被测试设备的动作的基准时钟；再生时钟生成电路，其生成相位与所述被测试设备输出的输出数据的相位大致相等的再生时钟；数据取得部，其以基于所述再生时钟的选通信号所指示的定时取得所述输出数据的输出值；比较器，其对所述数据取得部取得的所述输出值与预设的期望值进行比较；判定部，其根据所述比较器的比较结果判定所述被测试设备的好坏；所述再生时钟生成电路具有：对所述被测试设备输出的所述输出数据的相位与所述再生时钟的相位进行比较的相位比较器；根据所述相位比较器的输出对所述基准时钟的相位进行连续移相的移相器。