基于测量应变的相控阵天线幅相补偿方法

    公开(公告)号:CN109472059B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN201811208952.7

    申请日:2018-10-17

    Abstract: 本发明公开的基于测量应变的相控阵天线幅相补偿方法,属于天线技术领域,通过利用嵌入相控阵天线的光纤光栅应变传感器,得到天线阵在服役中的实时应变信息,根据应变电磁耦合算法计算出激励电流的幅值和相位调整量,将计算出天线激励电流的幅值和相位调整量,由波控电路控制T/R组件电路中的移相和衰减器完成相应调整,不仅恢复了相控阵天线的波束指向,而且可以降低相控阵天线的副瓣,提高了相控阵天线电性能的稳定性,解决了现有技术存在的相控阵天线在服役中,因气动、振动、冲击和温度变化等原因,导致天线阵面发生变形,从而进一步导致天线电性能恶化的缺陷。

    面向微波组件的芯线绕焊互联最佳形态参数确定方法

    公开(公告)号:CN110069862B

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN201910333559.9

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 本发明公开了一种面向微波组件电性能的芯线绕焊互联最佳形态参数确定方法,包括:确定芯线绕焊互联几何参数与物性参数,对芯线绕焊互联形态进行参数化表征,计算芯线绕焊互联结构中芯线长度,建立芯线绕焊互联结构‑电磁分析模型,设计芯线绕焊互联形态参数与电磁传输性能指标的正交试验,计算芯线绕焊互联形态参数灵敏度、芯线绕焊互联形态参数影响度;确定芯线绕焊互联形态关键参数并进行参数关键度计算;确定面向电磁传输的芯线绕焊互联最佳形态参数;确定面向电磁传输的芯线绕焊互联最佳芯线长度。本方法可指导微波组件设计与优化,提升微波产品研制品质。

    基于机电耦合理论的变形阵列天线远场方向图分析方法

    公开(公告)号:CN107103124B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201710229466.2

    申请日:2017-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于机电耦合理论的变形阵列天线远场方向图分析方法,包括阵列天线结构几何模型建立;阵列天线结构有限元模型的建立;辐射单元位置坐标的提取;根据辐射单元位置坐标计算辐射单元的空间相位参数以及考虑互耦效应的等效激励参数,最后根据阵列天线远场方向图计算表达式得到变形阵列天线辐射远场方向图,据此可求解相关电磁性能参数,分析结构变形对阵列天线电性能的影响关系。本发明可精确分析变形阵列天线辐射特性,对于实际工作中的阵列天线电性能分析具有很强的工程意义。

    面向微波组件电性能的芯线绕焊互联最佳形态参数确定方法

    公开(公告)号:CN110069862A

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201910333559.9

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 本发明公开了一种面向微波组件电性能的芯线绕焊互联最佳形态参数确定方法,包括:确定芯线绕焊互联几何参数与物性参数,对芯线绕焊互联形态进行参数化表征,计算芯线绕焊互联结构中芯线长度,建立芯线绕焊互联结构-电磁分析模型,设计芯线绕焊互联形态参数与电磁传输性能指标的正交试验,计算芯线绕焊互联形态参数灵敏度、芯线绕焊互联形态参数影响度;确定芯线绕焊互联形态关键参数并进行参数关键度计算;确定面向电磁传输的芯线绕焊互联最佳形态参数;确定面向电磁传输的芯线绕焊互联最佳芯线长度。本方法可指导微波组件设计与优化,提升微波产品研制品质。

    面向机电耦合的有源相控阵天线性能仿真置信度的计算方法

    公开(公告)号:CN106021764B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201610369219.8

    申请日:2016-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种面向机电耦合的有源相控阵天线性能仿真置信度的计算方法,包括确定有源相控阵天线性能的影响因素;建立天线有限元模型;进行温度场分析,计算热参数的置信度;基于阵面温度均方根误差计算网格大小的置信度;计算天线结构热变形,提取天线单元几何中心节点的位置偏移量;计算结构位移提取的置信度;使用机电耦合模型计算天线的电性能;将计算结果与电磁仿真软件计算结果进行对比,计算机电耦合模型的置信度;基于层次分析法,确定加权系数;建立置信度计算公式,计算并最终确定有源相控阵天线性能仿真的置信度。本发明建立了天线性能仿真置信度计算方法,给出了有源相控阵天线结构热变形对电性能影响仿真计算结果的评判标准。

    面向结构形变重构的两步序列应变传感器优化布局方法

    公开(公告)号:CN107515980A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201710710715.X

    申请日:2017-08-18

    CPC classification number: G06F17/5072

    Abstract: 本发明涉及一种传感器的优化布局方法,具体涉及面向结构形变重构的两步序列应变传感器优化布局方法,属于传感器优化布局技术领域。面向结构形变重构的两步序列应变传感器优化布局方法,包括:(1)对从有限元模型中提取出的对应候选布点位置的模态应变矩阵的转置矩阵ΨT进行列主元QR分解,确定m个线性独立的初始传感器布置集合,其中,m为正整数;(2)建立重构精度准则和信息冗余度准则,然后建立传感器布局优化模型,采用逐步累加的方式不断优化迭代以确定最终的传感器布局。

    面向数字器件量化的变形有源相控阵天线幅相补偿量确定方法

    公开(公告)号:CN106991211A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710121413.9

    申请日:2017-03-02

    Abstract: 本发明公开了面向数字器件量化的变形有源相控阵天线幅相补偿量确定方法,该方法包括:确定天线阵元理想幅度和阵元理想相位、最小衰减量、最小相移量、天线阵元位置偏移量;基于有源相控阵天线机电耦合补偿模型,计算补偿变形天线电性能的阵元幅度和阵元相位;分别计算阵元幅度与最小衰减量的比值、阵元相位与最小移相器的比值,确定部分阵元量化幅度和量化相位;再分别选取幅度参考阵元和相位参考阵元,更新剩余阵元幅度和阵元相位,并与最小衰减量、最小相移量比较,确定剩余阵元量化幅度和量化相位;最终得到天线幅相补偿量。本发明可在考虑数字器件量化误差的同时,保证天线电性能最优,对有源相控阵天线电性能补偿具有工程指导意义。

    一种基于路耦合的全桥式开关电源纹波系数预测方法

    公开(公告)号:CN107947592B

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201711377639.1

    申请日:2017-12-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于路耦合的全桥式开关电源纹波系数预测方法,包括确定全桥式开关电源电路拓扑图及电路器件参数;确定变压器副边两端的电压;计算输出滤波电感L两端的电压;计算输出滤波电感L上的电流;计算通过输出滤波电容C和等效串联电阻ESR的纹波电流;计算理想输出滤波电容C两端的电压;基于电容滞后特性,计算输出滤波电容C两端电压的滞后时间Δt;确定实际输出滤波电容C两端的电压;计算等效串联电阻ESR两端的电压;确定全桥式开关电源总纹波电压表达式;计算全桥式开关电源总纹波电压的峰峰值;计算全桥式开关电源纹波系数。本发明建立了一种全桥式开关电源中电路器件参数与纹波系数的路耦合模型,实现了不同电路器件参数下的纹波系数的快速预测。

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