公开(公告)号：CN101296786A

公开(公告)日：2008-10-29

申请号：CN200680039851.0

申请日：2006-10-17

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： G·蔡特勒 ,  H·施赖讷马赫尔 ,  C·R·龙达

IPC: B28B3/02 ,  B30B15/34 ,  C04B35/547 ,  C04B35/645 ,  C09K11/77

CPC classification number: B28B3/025 ,  B30B15/34 ,  C04B35/547 ,  C04B35/645 ,  C04B2235/3224 ,  C04B2235/3229 ,  C04B2235/6581

Abstract: 本发明涉及用于制备陶瓷材料的单轴冲压和加热装置，其包括加热器(4)、模具(5)和模头(3)，其中，模具(5)设置在加热器(4)内部，模具(5)在至少一个开口处接纳模头(3)，其中，模头(3)在压力下驱动进入模具(5)中，其中，加热器(4)的长度与模具(5)的长度的比例为≥1.5至≤4。本发明还涉及陶瓷的制备方法和陶瓷材料。

公开(公告)号：CN102124372B

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：CN200880108832.8

申请日：2008-09-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·博伊默 ,  G·蔡特勒 ,  K·J·恩格尔 ,  C·赫尔曼 ,  R·斯特德曼布克

IPC: G01T1/16

CPC classification number: G01T1/17

Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18)，所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24)，其中，所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16)，使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理，并且其中，所述处理电子器件(18)包括处理器(34)，所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32)，并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K)，从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

公开(公告)号：CN101573309B

公开(公告)日：2013-05-29

申请号：CN200780046903.1

申请日：2007-12-19

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： G·蔡特勒 ,  H·施赖讷马赫尔 ,  C·R·龙达

IPC: C04B35/547 ,  C04B35/645 ,  C04B35/50 ,  C09K11/84

CPC classification number: C04B35/645 ,  B30B15/0017 ,  C04B35/547 ,  C04B2235/3224

Abstract: 一种用于烧结陶瓷粉末、尤其是掺杂的Gd2O2S的轴向热压方法，包括以下步骤：将第一多孔体(7)、陶瓷粉末(9)和第二多孔体(7)放入由支撑件(13，14)支撑的型壳(5)中。陶瓷粉末(9)位于多孔体(7)之间。气态组分被从陶瓷粉末(9)中抽出，达到小于0.8bar的环境压力。多孔体(7)和陶瓷粉末(9)被加热到至少900℃的最高温度、并且被施加压力达到至少75MPa的最大压力。根据本发明，加热步骤的时间变化与施加压力步骤的时间变化被相互调整，使得所述型壳(5)被所述多孔体(7)和/或所述陶瓷粉末(9)保持在相对于所述支撑件(13，14)的分开状态。

公开(公告)号：CN101523196B

公开(公告)日：2011-10-05

申请号：CN200780030252.7

申请日：2007-08-09

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·R·龙达 ,  G·蔡特勒 ,  H·施赖讷马赫尔

IPC: G01N21/64 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01T1/202

Abstract: 本发明涉及陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器。具体地说，本发明涉及通过测量Eu-、Tb-和/或Yb-含量来测量和/或判断陶瓷材料，尤其是Gd2O2S材料和/或前体材料中的余辉的方法。

公开(公告)号：CN101680954A

公开(公告)日：2010-03-24

申请号：CN200880017990.2

申请日：2008-05-22

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·赫尔曼 ,  R·斯特德曼 ,  C·博伊默 ,  G·蔡特勒

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/171

Abstract: 一种装置包括定标因子确定器(236)，其基于针对能量阈值测量的探测到的光子的数量的计数以及估计的探测到的光子的所述数量的实际计数确定计数定标因子。所述光子包括由辐射敏感探测器探测到的多能光子。该装置还包括计数定标器(136)，其使用所述计数定标因子以针对不同能量阈值对测量的探测到的光子的计数进行定标。

公开(公告)号：CN101558325A

公开(公告)日：2009-10-14

申请号：CN200780045780.X

申请日：2007-12-11

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R·斯特德曼布克 ,  C·博伊默 ,  C·赫尔曼 ,  G·蔡特勒

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/17 ,  G01T1/2928

Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12，14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12，14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数，除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24)，并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12，14)所需的时间的知识发现对光子(12，14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22)，可以解决堆积事件，即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。

公开(公告)号：CN101542315A

公开(公告)日：2009-09-23

申请号：CN200780042651.5

申请日：2007-11-12

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： K·J·恩格尔 ,  G·蔡特勒 ,  C·博伊默 ,  C·赫尔曼 ,  J·维格特 ,  R·普罗克绍 ,  E·勒斯尔 ,  R·斯特德曼布克

IPC: G01T1/29

CPC classification number: G01T1/2928

Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(200)，具体而言是一种X射线探测器，其包括至少一个用于将入射光子(X)转换成电信号的敏感层(212)。电极(213)的二维阵列位于该敏感层(212)的正面，而其背面携带对电极(211)。电极(213)的尺寸可在辐射方向(y)上变化以适应电极的计数工作量。此外，电极(213)相对于辐射方向(y)的位置提供关于所探测到的光子(X)的能量的信息。

公开(公告)号：CN101542313A

公开(公告)日：2009-09-23

申请号：CN200780042907.2

申请日：2007-11-19

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： K·J·恩格尔 ,  C·博伊默 ,  G·蔡特勒 ,  C·赫尔曼

IPC: G01T1/164

CPC classification number: G01T1/1647

Abstract: 本发明涉及一种用于确定探测单元(6)的探测器能量加权函数的设备。该设备包括用于确定探测单元(6)的谱响应函数的确定单元(21)，以及用于通过对探测单元(6)的谱响应函数与给定的理想探测器能量加权函数的乘积进行积分而确定探测器能量加权函数的计算单元(22)。

公开(公告)号：CN101507369A

公开(公告)日：2009-08-12

申请号：CN200780031823.9

申请日：2007-08-21

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·勒夫 ,  G·福格特米尔 ,  G·蔡特勒

IPC: H05G1/12

CPC classification number: H05G1/10

Abstract: 公开了一种用于产生高输出电压的电源，该电源用于向具有至少一个X射线源(17)的X射线发生器系统供电，尤其是向用于计算机断层摄影(CT)应用的X射线发生器系统供电，其中该高输出电压包括至少两个不同的可快速切换的高输出电压电平(U1；U1±U2)，从而可以利用一个常规的X射线管(17)执行能谱CT测量。此外，还公开了一种包括该电源和至少一个X射线管(17)的X射线管发生器系统以及一种包括该电源的计算机断层摄影(CT)设备。

公开(公告)号：CN101501527A

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200780030087.5

申请日：2007-08-10

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·赫尔曼 ,  R·斯特德曼 ,  G·蔡特勒 ,  C·博伊默

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/17

Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器，尤其是X射线探测器(100)，其包括对探测器的(子)像素(2)产生的电脉冲进行计数的计数电路(10，20，30)。在该计数电路中，每隔一段时间将快速计数级(10)计数的结果传送到慢速计数级(20)。快速计数级(10)例如可以包括具有低位深的快速计数器(111)，所述快速计数器(111)作为慢速计数级(20)中的高位深慢速计数器(121)前方的分频器而工作。任选地，可以经由多路复用器(4)向计数电路(10，20，30)提供若干(子)像素(2)的信号。此外，辐射装置的像素(1，2)可以任选提供能量分解脉冲。