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公开(公告)号：CN116429783A
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202310374050.5
申请日：2023-04-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于可见光图像与红外热图像序列诊断电路板故障的方法，分别采集正常电路板和待测电路板的红外图像和可将光图像，通过对两种电路板的红外图像和可将光图像异源配准后，计算出两种电路板上各个器件的热特征向量；然后计算各个器件在正常电路板热特征向量与待测电路板热特征向量之间的热相似度，并判断热相似度是否超过器件的性能失效阈值，进而判定待测电路板的故障状态。
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公开(公告)号：CN113221496A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110489544.9
申请日：2021-05-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06F17/18 , G06F17/16 , G06F111/08 , G06F111/10 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了一种基于三维测试性分析模型的故障诊断方法，通过故障和测点间的依赖关系，以及温度对于测点可靠性的影响来构建三维测试性分析模型，然后在某一固定温度kq下，通过测试结果序列与故障依赖矩阵实现待测系统在不同温度环境的单故障、多故障定位。
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公开(公告)号：CN108563875B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201810345727.1
申请日：2018-04-18
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/12 , G01R31/28 , G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于多目标优化的模拟电路测点和频率联合优选方法，对模拟电路的每个元件模糊组代表元件进行多次故障模拟，得到不同频率下各个测点对应的故障电压，从而得到模拟电路数据；初始化多目标遗传优化算法中的个体，然后根据个体对应的选择方案从模拟电路数据中筛选出对应特征向量，对预设的分类器进行交叉验证，将得到的分类准确率作为个体的适应度值，采用精英策略生成新的种群并进行非支配排序，然后生成下一代种群继续进行处理，直到达到迭代结束条件，将当前得到的非支配个体集合作为优选方案集合，其中每个个体对应一个选择方案。本发明可在保证故障诊断精度的同时降低故障诊断的工作量。
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公开(公告)号：CN112464551A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011033126.0
申请日：2020-09-27
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/27 , G06F30/367 , G06N3/12 , G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于非支配的模拟电路故障参数范围确定方法，将元件参数向量作为遗传算法种群的个体，在生成初始种群的时候，故障元件的参数值在预设的故障取值范围中取值，其余元件在容差范围内取值，遗传算法迭代过程中，在个体优选时根据帕累托最优的思想进行个体优选，并周期性地精细化故障元件参数的取值范围，在迭代完成后根据最后一代种群提取出故障元件参数的范围。本发明采用帕累托非支配思想，实现对于故障元件参数范围的精确确定。
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公开(公告)号：CN111289886A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN202010181745.8
申请日：2020-03-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种基于边界扫描测试链路的故障注入方法，提取待测试电路的网表文件信息、边界扫描描述语言文件信息，然后根据网表文件信息以及边界扫描描述语言文件中的Port信息、Constant信息生成边界扫描测试链路，对边界扫描测试链路上的边界扫描器件输入输出管脚所在网络修改，根据修改的网络生成网表文件，实现短路故障注入。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106980721B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201710172644.2
申请日：2017-03-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/23
Abstract: 本发明公开了一种虚焊检测有限元仿真分析方法，基于涡流脉冲热成像技术建立焊点的有限元模型并引入虚焊进行仿真分析，通过提取焊点相应引脚位置的表面温度分布情况来区分正常焊点和虚焊焊点，再利用热电类比方法计算焊点区域的热阻值，根据焊点热阻的差异性来区分不同的虚焊，这样为虚焊的无损检测提供一种分析方法，且检测速度快、检测缺陷精准，同时也为工程中的虚焊检测提供理论依据和预测结果。
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公开(公告)号：CN110109005A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201910439946.0
申请日：2019-05-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3163
Abstract: 本发明公开了一种基于序贯测试的模拟电路故障测试方法，通过条件熵评估测点的有效性，选择故障识别能力强的测点的特征值作为极限学习机输入层信息，产生表达故障状态识别结果的证据矢量；再基于D-S理论生成信任函数，根据相似性传播将故障状态集合分离成若干故障子集，并进一步生成故障子集的诊断模型，直至故障状态全部分离或者分离到最优状态，具有故障识别精度高、故障识别效率高等特点。
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公开(公告)号：CN109164377A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811242553.2
申请日：2018-10-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851
Abstract: 本发明公开了一种高速AD/DA混合芯片的故障测试装置及方法，用于诊断电路板上的高速ADC和DAC器件；对于ADC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机通过AD/DA一体模块产生模拟电压，并加载至被测ADC，产生测试指令和测试向量，在通过IEEE1149.1控制器作用于AD测试模块，AD测试模块快将采集到的电压量化值串行移出至IEEE1149.1控制器，继而IEEE1149.1控制器将数据发送给PC上位机，并与预期响应作比较，可以判断ADC故障情况；对于DAC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机将电压值转化为测试向量并产生测试指令，经IEEE1149.1控制器译码后，测试向量通过TDI移入DA测试模块，进而加载至被测DAC，再接收由AD/DA一体模块采集到的被测DAC输出的模拟电压，与预期响应作比较，可以判断DAC故障情况。
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公开(公告)号：CN117893557A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202410139155.7
申请日：2024-01-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种电路故障区域图像边缘轮廓提取方法，首先从电路板的图片中提取相应的边缘信息，抽取每行最左侧和最右侧点作为信息点，建立图像边缘矩阵和信息点队列；然后依据信息点队列选择搜索的起始点；再根据起始点的8‑邻域选择起始点的下一个轮廓点；将下一轮廓点带入找点规则，递归寻找最外侧轮廓点；最后，根据求得的全部故障区域轮廓点，得出被检测电路板上故障区域元器件的外部轮廓。
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公开(公告)号：CN117176269A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311084362.9
申请日：2023-08-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04B17/17 , H04B17/29 , G06N3/0464
Abstract: 本发明公开了一种射频前端模拟收发通道的故障诊断方法，将功率为p、频率为f1，f2的双音信号作为待测射频前端模拟收发通道故障诊断时其输入端的激励信号，然后利用蒙特卡洛统计分析方法重复实验，获取各种故障状态下待测电路的故障响应信号；接着利用自适应信号变分模态分解对故障响应信号进行分解，获取各个模态分量evdn，k，q(t)，并计算每个模态分量的瞬时频率fnkq(t)；随后将各模态分量的瞬时频率进行拼接组成表征故障状态n的特征向量Fnk＝[fnk1；fnk2；…；fnkQ]，并使用特征向量训练交错组卷积深度神经网络IGCDNN模型，将训练后的模型作为故障分类器，最后通过故障分类器诊断射频前端模拟收发通道未知的故障状态。
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