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公开(公告)号：CN119645875A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411859310.9
申请日：2024-12-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F11/3668 , G06F17/16 , G06F18/2415 , G06N3/006 , G06N5/01
Abstract: 本发明公开了一种基于序贯‑并行测试模式的复杂系统最优测试策略生成方法，首先构建故障测试模型，然后划分故障概率分布类别以及测试时间分布类别，在此基础上，利用启发函数对故障集合不断拓展生成复杂系统最优测试策略即生成最优的序贯‑并行测试策略(SPTS,Sequential‑Parallel Test Strategy)，其中，启发函数由双层感知器拟合，双层感知器的权重矩阵集合由粒子群算法迭代确定。本发明在测试流程中动态调整测试序列，平衡测试成本与准确度，提升复杂系统故障诊断的效率与精确性；与此同时，本发明通过建立混合分布模型，引入动态代价评估机制，将测试对待拓展节点的分割能力纳入判断依据，实现了对不同故障分布的最优测试策略生成，进一步提高了故障诊断的速度与准确度，确保在复杂测试环境下的高效故障隔离与诊断。
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公开(公告)号：CN114646891A
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202210240027.2
申请日：2022-03-10
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/392 , G01R31/389 , G01R31/396 , G01R31/367
Abstract: 本发明公开了一种结合LSTM网络和维纳过程的剩余寿命预测方法，本发明一种结合长短期记忆神经网络和维纳过程的剩余寿命预测新方法，通过加速待测器件的寿命实验，获取待测器件在不同时刻的退化量；然后利用退化数据训练一个LSTM网络；接着通过迁移学习的方法对训练好的LSTM网络进行微调，并将微调后的LSTM网络用于代替维纳过程中的退化趋势函数；最后通过逆高斯分布计算出当前时刻下待测器件RUL的概率密度函数，具有预测精度高、实时性好、预测速度快等特点。
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公开(公告)号：CN113391938B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202110654918.8
申请日：2021-06-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于混合策略的快速序贯故障诊断方法，先构建待测系统的故障测试模型，然后基于故障测试模型，通过样本模拟获得预测函数及切换比较矩阵，从而得到待测系统内部故障状态与系统中测点输出的关系，最后根据当前节点的规模选择使用由上而下或由下而上算法完成待测系统的实时故障诊断。
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公开(公告)号：CN114355173A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202210004437.7
申请日：2022-01-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于多输入残差网络的模拟滤波电路故障诊断方法，先设置蒙特卡洛分析相关参数，通过蒙特卡洛统计分析方法对模拟滤波电路进行仿真分析，得到不同故障状态下模拟滤波电路输出端的电压信号；再利用经验小波变换得到电压信号的模态分量，将其分别组成训练集和测试集，将训练集用于训练多输入ResNet，将测试集用于测试，并保存测试精度最高时对应的多输入ResNet模型及参数Parameters；最后通过训练好的多输入ResNet模型和Parameters诊断模拟滤波电路未知的故障状态。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109839583B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201910233065.3
申请日：2019-03-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于改进遗传算法的模拟电路多故障诊断方法，首先分析得到模拟电路在不同测点处的传输函数，测量得到模拟电路在不同频率激励信号下这些测点处的输出电压，构成故障输出电压向量，将元件参数值向量作为遗传算法中的个体，在进行个体交叉时，根据个体中故障元件数量分不同情况选择交叉位置，将最后一代种群中最优个体中参数值位于故障范围内的代表性故障元件作为故障诊断结果。本发明利用遗传算法找到与模拟电路故障输出电压向量最接近的输出电压向量，从而得到故障诊断结果，对个体交叉的方法进行改进以提高遗传算法的效率。采用本发明可以能够找到事前没有存储的故障源，提高故障诊断准确率。
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公开(公告)号：CN106980721A
公开(公告)日：2017-07-25
申请号：CN201710172644.2
申请日：2017-03-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种虚焊检测有限元仿真分析方法，基于涡流脉冲热成像技术建立焊点的有限元模型并引入虚焊进行仿真分析，通过提取焊点相应引脚位置的表面温度分布情况来区分正常焊点和虚焊焊点，再利用热电类比方法计算焊点区域的热阻值，根据焊点热阻的差异性来区分不同的虚焊，这样为虚焊的无损检测提供一种分析方法，且检测速度快、检测缺陷精准，同时也为工程中的虚焊检测提供理论依据和预测结果。
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公开(公告)号：CN104090228B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201410336727.7
申请日：2014-07-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路模糊组识别方法，通过理论推导出模拟电路元件故障电压所具有的一般特性：实部虚部满足圆方程，根据该特性提出模糊组识别方法：对于各个故障源，先进行无故障仿真得到测点的无故障电压值，再在两个故障条件下进行仿真得到两个故障电压值，根据三个电压值求解圆方程组得到圆特征参数，比较每个故障源对应的圆特征参数，将三个参数均相同的故障源归为一个模糊组。本发明无需传输函数，其实现方法简单，并模糊组识别结果与测试方法无关，精度与传输函数和符号分析法相同。
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公开(公告)号：CN105955927A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610279253.6
申请日：2016-04-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分解‑并行遗传算法的约束优化算法，将约束优化算法所针对的问题分解成Q个子问题和1个常规问题，先采用遗传算法分解得到的Q个子问题并行进行迭代进化，直到每个子问题所对应的种群中至少有一半以上的染色体满足该子问题的约束条件，从子问题中选择满足约束条件的染色体按顺序组成多条染色体，作为常规种群的初始种群；然后对常规问题和子问题进行并行遗传算法迭代，达到迁移间隔时即分别进行前向迁移和后向迁移，当迁移次数达到阈值，从常规问题的种群中选择最优染色体作为约束优化问题的解。本发明采用分解‑并行遗传算法，可以快速求解出约束优化问题的最佳或近优解。
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公开(公告)号：CN104090228A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410336727.7
申请日：2014-07-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路模糊组识别方法，通过理论推导出模拟电路元件故障电压所具有的一般特性：实部虚部满足圆方程，根据该特性提出模糊组识别方法：对于各个故障源，先进行无故障仿真得到测点的无故障电压值，再在两个故障条件下进行仿真得到两个故障电压值，根据三个电压值求解圆方程组得到圆特征参数，比较每个故障源对应的圆特征参数，将三个参数均相同的故障源归为一个模糊组。本发明无需传输函数，其实现方法简单，并模糊组识别结果与测试方法无关，精度与传输函数和符号分析法相同。
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