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公开(公告)号:CN111133282A
公开(公告)日:2020-05-08
申请号:CN201880060467.1
申请日:2018-08-21
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J1/02 , H01L27/146 , H01L31/02 , H04N5/369 , H04N5/3745
Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权,并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。
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公开(公告)号:CN111094914A
公开(公告)日:2020-05-01
申请号:CN201880060502.X
申请日:2018-09-19
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明提供一种形状测量传感器,其包括在测量线反射后的光入射的受光部和基于光的入射位置计算测量线上的各位置的位置信息的计算部。受光部包括多个像素对,该多个像素对分别包括生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿与照射方向交叉的第1方向与第1像素并列配置、且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素,该多个像素对沿第1方向排列。在第1像素,入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素,入射位置越接近第2方向上的一端,第2电信号的强度就越增强。计算部按每像素对取得第1电信号和第2电信号,基于所取得的第1电信号的强度和第2电信号的强度,按每像素对计算第2方向上的入射位置。
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公开(公告)号:CN111094913A
公开(公告)日:2020-05-01
申请号:CN201880060440.2
申请日:2018-08-21
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J1/02 , G01J1/44 , G01B11/24 , H01L27/144 , H01L27/146 , H01L31/0232 , H01L31/10
Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度就越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度就越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置,基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值,算出第1位置。
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公开(公告)号:CN107613847B
公开(公告)日:2019-05-21
申请号:CN201680030746.4
申请日:2016-03-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: A61B3/113
CPC classification number: A61B3/113 , A61B3/0025 , A61B3/08 , A61B3/112 , A61B3/145 , G06F3/0304 , G06K9/00248 , G06K9/00604 , G06K9/6215
Abstract: 本发明要解决的技术问题是简易而且恰当地评价被检查者双眼的行为的差异。双目测量系统(1)具备:光检测器(7),检测来自于被检查者的右眼(ER)以及左眼(EL)的反射光并输出该反射光的图像信号;特征量计算部(11),根据图像信号计算出对应于右眼(ER)的特征量和对应于左眼(EL)的特征量;以及比较值计算部(13),基于2个特征量计算出比较2个特征量的比较值。
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公开(公告)号:CN107613847A
公开(公告)日:2018-01-19
申请号:CN201680030746.4
申请日:2016-03-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: A61B3/113
CPC classification number: A61B3/113 , A61B3/0025 , A61B3/08 , A61B3/112 , A61B3/145 , G06F3/0304 , G06K9/00248 , G06K9/00604 , G06K9/6215
Abstract: 本发明要解决的技术问题是简易而且恰当地评价被检查者双眼的行为的差异。双目测量系统(1)具备:光检测器(7),检测来自于被检查者的右眼(ER)以及左眼(EL)的反射光并输出该反射光的图像信号;特征量计算部(11),根据图像信号计算出对应于右眼(ER)的特征量和对应于左眼(EL)的特征量;以及比较值计算部(13),基于2个特征量计算出比较2个特征量的比较值。
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公开(公告)号:CN1703613A
公开(公告)日:2005-11-30
申请号:CN200380100858.5
申请日:2003-10-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J9/00
Abstract: 一种相位分布测量装置,具有:通过在平面上矩阵状地配置多个聚光透镜(32)构成的复眼透镜(30);受光面只隔离聚光透镜(32)的焦矩而与复眼透镜(30)平行地配置的CMOS传感器(10);和相位计算装置(20)。中心位置计算部(243)通过与紧邻的像素亮度比较,算出受光面上焦点像的亮点(焦点)的中心位置。重心信息处理部(245)算出以亮点中心位置作为中心的重心演算区域的亮度的0次矩(重心演算区域的亮点亮度的总计值)、x方向1次矩及y方向1次矩。重心位置计算部(261)根据这些重心信息,算出各亮点的重心位置。
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公开(公告)号:CN111819490B
公开(公告)日:2024-04-16
申请号:CN201980017917.3
申请日:2019-02-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: SLM(4A)具备调制部(40A)和驱动电路(41)。调制部(40A)具有多个像素(40a),并且根据周期性地时间变化的驱动信号的振幅对每个像素(40a)调制入射光的相位或强度。驱动电路(41)将驱动信号提供给调制部(40A)。驱动电路(41)以使提供给多个像素(40a)中的第一像素组(401)的驱动信号(V1(t))的相位与提供给多个像素(40a)中的第二像素组(402)的驱动信号(V2(t))的相位互相反转的方式控制。由此,能够实现能够降低产生于调制后的光的波动的空间光调制器、光调制装置、以及空间光调制器的驱动方法。
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公开(公告)号:CN116981962A
公开(公告)日:2023-10-31
申请号:CN202280018234.1
申请日:2022-01-13
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01S17/894
Abstract: 本发明的距离图像获取装置(1)具备光源(2)、照射光学系统(3)、成像光学系统(4)、摄像元件(5)、以及处理部(6)。摄像元件(5)将从光源(2)输出并被对象物反射且经过成像光学系统(4)的光脉冲在受光面上受光。摄像元件(5)的受光面上的多个像素的各个具有根据受光产生电荷的光电二极管和蓄积由该光电二极管产生的电荷的电荷蓄积部。处理部(6)对摄像元件(5)的多个像素分别赋予共同的控制图案。控制图案指示将在多个像素的各个中由光电二极管产生的电荷蓄积于电荷蓄积部的期间。处理部(6)基于由多个像素的各个的光电二极管产生并且蓄积于电荷蓄积部的电荷的量,求出对象物的距离图像。由此,实现能够通过压缩感知技术容易地进行空间分辨率高的距离图像的获取的装置。
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公开(公告)号:CN111133282B
公开(公告)日:2021-10-19
申请号:CN201880060467.1
申请日:2018-08-21
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J1/02 , H01L27/146 , H01L31/02 , H04N5/369 , H04N5/3745
Abstract: 在位置检测传感器中,在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端,第1电信号的强度越减弱,在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端,第2电信号的强度越增强,在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端,第3电信号的强度越减弱,在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端,第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权,并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。
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公开(公告)号:CN111133283A
公开(公告)日:2020-05-08
申请号:CN201880060532.0
申请日:2018-08-28
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 位置检测传感器包括:受光部,其具有分别包含生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿第1方向与第1像素排列配置且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素并沿第1方向排列的多个像素对;和计算部,其通过使用第1电信号的强度和第2电信号的强度进行重心运算,计算第1方向上的入射位置即第1位置。在第1像素入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端,第1电信号的强度就越减弱,在第2像素入射位置越接近第2方向上的一端,第2电信号的强度就越增强。计算部还基于对第1电信号的强度进行累计而得到第1累计值和对第2电信号的强度进行累计而得到的第2累计值,计算第2方向上的入射位置即第2位置。
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