一种IGBT模块封装焊接结构

    公开(公告)号:CN103985686A

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201410251618.5

    申请日:2014-06-09

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT模块封装焊接结构,包括基板、衬板、芯片和母排,所述基板和衬板上表面均涂有焊料或者放置有焊片,所述基板与所述衬板之间、所述衬板与所述芯片之间、所述母排与所述衬板之间均通过多个金属支柱连接。本发明在衬板正面金属层与基板正面焊接区域制作深度为0~5mm的金属支柱,用来支撑芯片,衬板,使焊料熔化后均匀地流动,填充间隙,以控制焊层的厚度和均匀性,该金属支柱还可以用来固定开设有通孔的焊片,避免了焊片在焊接过程中的滑动,漂移。

    一种功率器件
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104269392B

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201410537512.1

    申请日:2014-10-13

    Abstract: 本申请提供的一种功率器件,包括:芯片、两片电极、钼片组、陶瓷外壳和短路结构;其中,短路结构包括:压缩状态的金属弹簧、套设于金属弹簧外侧的套管和将金属弹簧封装于套管内的低熔点合金;其中,短路结构设置于两片电极之间,短路结构的一端与一电极的靠近另一电极的内侧相连,另一端靠近另一电极的内侧;当金属弹簧处于放松状态时,金属弹簧的两端分别与两片电极的内侧接触。采用该短路结构,当功率器件短路发散热量时,低熔点合金熔融,金属弹簧恢复放松状态,连接两片电极,使得该功率器件失效时,两片电极之间仍然具有连接导通结构,保证了该功率器件表现为短路失效模式,无需外接旁路晶闸管,功率器件整体结构简单,易于实现。

    压接式半导体模块及其制作方法

    公开(公告)号:CN105679750A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201410661590.2

    申请日:2014-11-19

    CPC classification number: H01L2224/33

    Abstract: 本发明公开了一种压接式半导体模块及其制作方法,模块包括:半导体芯片、上钼片、下钼片、管盖、底座、栅极引出端、PCB和引线。半导体芯片包括IGBT(或MOSFET)芯片,下钼片采用大钼圆片或单个子钼片或若干个子钼片的组合。IGBT(或MOSFET)芯片的集电极(漏极)烧结在下钼片上,上钼片烧结在IGBT(或MOSFET)芯片的发射极(源极)上。PCB设置在下钼片上或底座上,IGBT(或MOSFET)芯片的栅极通过引线键合方式互连至PCB上,并通过PCB的内部线路汇集至栅极引出端。本发明能够有效地解决现有压接式半导体模块制作方法过于复杂,压接过程中芯片受到的应力大,绝缘性能较差的技术问题。

    一种功率器件
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104269392A

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201410537512.1

    申请日:2014-10-13

    Abstract: 本申请提供的一种功率器件,包括:芯片、两片电极、钼片组、陶瓷外壳和短路结构;其中,短路结构包括:压缩状态的金属弹簧、套设于金属弹簧外侧的套管和将金属弹簧封装于套管内的低熔点合金;其中,短路结构设置于两片电极之间,短路结构的一端与一电极的靠近另一电极的内侧相连,另一端靠近另一电极的内侧;当金属弹簧处于放松状态时,金属弹簧的两端分别与两片电极的内侧接触。采用该短路结构,当功率器件短路发散热量时,低熔点合金熔融,金属弹簧恢复放松状态,连接两片电极,使得该功率器件失效时,两片电极之间仍然具有连接导通结构,保证了该功率器件表现为短路失效模式,无需外接旁路晶闸管,功率器件整体结构简单,易于实现。

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