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公开(公告)号：CN107407735B
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
Abstract: 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
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公开(公告)号：CN108720855A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810354238.2
申请日：2018-04-19
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01N23/041 , A61B6/4035 , A61B6/4291 , A61B6/4452 , A61B6/484 , G01N23/083 , G01N23/20075 , G01N2223/32 , G01T1/1648 , G21K1/10
Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置。该X射线相位成像装置包括：位置切换机构，其使一个或多个光栅的相对位置在退避位置与检测位置之间切换，其中，该退避位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围外的位置，该检测位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围内的位置；以及焦点直径变更部，其使X射线源的焦点直径与一个或多个光栅的相对位置的切换联动地变更。
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公开(公告)号：CN104779261A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201510019150.1
申请日：2015-01-14
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01L27/146 , G01T1/24
CPC classification number: H01L31/115 , H01L27/14658 , H01L27/14661 , H01L27/14696 , H01L31/022408 , H01L31/0296
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器。在X射线条状检测器中，在感应所入射的X射线并生成电荷的感应半导体膜的X条侧和Y条侧的面的、至少转换膜的整个敏感区域的整面上形成有接合用半导体膜。接合用半导体膜的电阻比感应半导体膜的电阻高。因此，当由感应半导体膜生成的电荷被X条和Y条收集时，能够分别抑制电荷向相邻的条状电极移动。因而，能够抑制电荷向相邻的条状电极漏出的串扰。
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公开(公告)号：CN102413763B
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN200980158928.X
申请日：2009-04-24
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 在本发明的放射线摄像装置中，改变在电容器中蓄积将利用X射线转换层对起因于流经X射线转换层的暗电流的暗电流噪声进行转换而得到的电荷信号的时间来获得暗图像信号，由此能够得到暗电流噪声的准确的温度特性。由此，从进行X射线摄像时得到的X射线检测信号中去除周期性地获取到的偏置信号，并且使用暗电流噪声的温度特性进行基于获取偏置信号时与进行X射线摄像时的温度差的暗电流噪声的变化量的校正，从而能够高精度地去除起因于暗电流的噪声。
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公开(公告)号：CN102007759B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN200880128629.7
申请日：2008-07-24
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 田边晃一
IPC: H04N5/32 , H04N5/357 , G01T1/24 , H01L27/146 , H01L31/115
CPC classification number: H04N5/32 , A61B6/585 , G01T1/247 , G01T7/005 , H01L27/14676 , H01L31/115 , H04N5/357 , H04N5/361 , H04N5/3651
Abstract: 本发明提供一种光或放射线摄像装置。放射线摄像装置具备X射线检测器，X射线检测器中包括以下两类区域：X射线检测用图像区域；和对X射线检测器电路发生的时变噪声进行检测的时变噪声检测用图像区域。由此，通过在栅极驱动电路变为ON之前，从时变噪声检测用图像区域读取电荷信号，能够可靠地检测出时变噪声，不论有源矩阵基板的栅极电路有无损伤。其结果，能够制造出画质提升的放射线摄像装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102007759A
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN200880128629.7
申请日：2008-07-24
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 田边晃一
IPC: H04N5/32 , H04N5/357 , G01T1/24 , H01L27/146 , H01L31/115
CPC classification number: H04N5/32 , A61B6/585 , G01T1/247 , G01T7/005 , H01L27/14676 , H01L31/115 , H04N5/357 , H04N5/361 , H04N5/3651
Abstract: 本发明提供一种光或放射线摄像装置。放射线摄像装置具备X射线检测器，X射线检测器中包括以下两类区域：X射线检测用图像区域；和对X射线检测器电路发生的时变噪声进行检测的时变噪声检测用图像区域。由此，通过在栅极驱动电路变为ON之前，从时变噪声检测用图像区域读取电荷信号，能够可靠地检测出时变噪声，不论有源矩阵基板的栅极电路有无损伤。其结果，能够制造出画质提升的放射线摄像装置。
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公开(公告)号：CN100350879C
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200410056356.3
申请日：2004-08-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 通过减法处理(DSA处理)，从活动物体图像和掩蔽图像中获得减影图像。在每一个X射线检测信号中所包括的滞后部分被认为是由于由指数函数所形成的冲激响应所造成的。通过递归计算从每一个X射线检测信号中去除滞后部分，以便获得校正后的X射线检测信号。从这样的校正后的检测信号中获得活动物体图像和掩蔽图像。
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公开(公告)号：CN100337592C
公开(公告)日：2007-09-19
申请号：CN200410056337.0
申请日：2004-08-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/171 , A61B6/4233 , A61B6/4441 , A61B6/583 , A61B6/587 , Y10S378/901
Abstract: 一种放射线照相设备，当从X射线管发出X射线时，该放射线照相设备基于以下假设从取自平板X射线检测器(FPD)的放射线检测信号中除去滞后部分：在每一X射线检测信号中包括的滞后部分是由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数构成的脉冲响应引起的。当临时设置单一衰减时间常数和强度时，检查在X射线发射态之后的X射线非发射态下到X射线检测信号的噪声级的衰减是否发生了。当发现设定的衰减时间常数和强度是适当的(OK)，确定具有单一指数函数的脉冲响应有效。通过利用确定的脉冲响应除去滞后部分，获得校正的放射线检测信号。
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公开(公告)号：CN1871999A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200610084500.3
申请日：2006-05-25
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 当通过从获得的X射线检测信号中消除滞后部分来执行滞后部分的滞后校正时，在成像事件中X射线照射之前的非照射时间内获取多个X射线检测信号，并根据X射线检测信号获取滞后图像。通过从X射线检测信号中减去获取的滞后图像来执行滞后校正。因此，以简单的方式从X射线检测信号中消除了滞后部分。
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公开(公告)号：CN1575755A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410063348.1
申请日：2004-07-08
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H04N5/325
Abstract: 根据由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的冲激响应引起了包含在每个X射线检测信号中的滞后部分的假设，当X射线管发射X射线时，射线照相设备从得自FPD的辐射检测信号中去除滞后部分。例如，通过使用与在荧光检查图像拾取中使用的X射线剂量和在射线照相图像拾取中使用的X射线剂量相对应的FPD的冲激响应来去除滞后部分。根据从其中去除了滞后部分的已校正辐射检测信号来创建X射线图像。
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