磁记录介质基底及其制造方法、磁记录介质以及磁记录装置

    公开(公告)号:CN1973322A

    公开(公告)日:2007-05-30

    申请号:CN200580020548.1

    申请日:2005-06-20

    Abstract: 本发明是由B2O3-Al2O3-SiO2-Li2O型非晶玻璃制成的磁记录介质基底,其中在所述基底的外周侧或内周侧处的端面和所述基底的主平面之间形成倒角,并且在所述内或外周侧端面的表面区域和所述倒角的表面区域处的钠和钾的含量大于所述磁记录介质基底的钠和钾的平均含量。利用本发明,可以防止由于在由包括锂的非晶玻璃制成的磁记录介质基底中锂离子的移动而在磁性膜、保护膜等上产生凸起。

    磁盘基底以及磁盘的制造方法

    公开(公告)号:CN101010736B

    公开(公告)日:2010-12-29

    申请号:CN200580028744.3

    申请日:2005-08-26

    CPC classification number: G11B5/7315

    Abstract: 本发明涉及一种磁盘玻璃基底,其能够在磁盘制造过程中防止出现灰尘以及颗粒粘附到磁盘表面,并涉及一种制造方法和一种磁盘。一种用于磁盘的玻璃基底具有以下结构,其中在主表面的圆周边缘部分附近形成的外周缘形状在以该主表面的另外的平坦部分作为参考时具有以下特征:外周缘部分的滑雪跳跃值不大于0μm;外周缘部分的滚降值是-0.2至0.0μm;以及外周缘部分的dub-off值是0至120;该玻璃基底具有在主表面(数据面)和外周缘表面(竖直表面)之间的斜面,并且具有在玻璃基底的数据面和斜面之间的曲率半径为0.013至0.080mm的R表面。

    利用刷子对用于记录介质的基底的内缘端面进行抛光的方法

    公开(公告)号:CN100537141C

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200580028056.7

    申请日:2005-08-24

    Abstract: 提供一种抛光方法,该抛光方法在对用于记录介质的多个盘形基底的内缘端面进行抛光时没有加工量差量。提供一种利用刷子对用于记录介质的盘形基底的内缘端面进行抛光的方法,包括:提供多片用于记录介质的盘形基底,其在中心部分具有圆形孔从而形成内缘端面,并且层叠该多片盘形基底,同时对准圆形孔,从而形成在中心部分具有圆形孔的抛光对象;将包含抛光材料的抛光材料浆液接触到所述抛光对象;在所述浆液接触到所述抛光对象的情况下,将抛光刷从所述抛光对象的第一端插入到抛光对象的圆形孔中,其中抛光刷在杆形轴的周边散布有刷毛,然后以该轴作为中心轴来旋转抛光刷,从而对基底的内缘端面进行抛光;以及在所述浆液接触到所述抛光对象的情况下,将所述抛光刷从与第一端相对的第二端插入到所述抛光对象的圆形孔中,然后以该轴作为中心轴来旋转抛光刷,从而对基底的内缘端面进行抛光。

    磁盘基底以及其磁盘
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101313356A

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200680043383.4

    申请日:2006-12-13

    Abstract: 本发明的目的是提供一种使用硅基底的磁盘基底,其中在所述硅基底的主表面和外周表面之间设置倒棱的表面;滑雪跳跃值H0,其中H0≤0μm,表示从基平面到点A3的距离;滚降值H1,其中H1≥-0.2μm且H1≤0.0μm,表示从所述基平面到点A1的距离;标记值H2,其中H2≥0μm且H2≤0.012μm,表示所述主表面的边界线相对于线A1到A2的最大偏移;在所述主表面和所述倒棱的表面之间设置曲面;且所述曲面的曲率半径R,其中R≥0.013mm且R≤0.080mm。

    用于磁记录介质的硅基底以及磁记录介质

    公开(公告)号:CN101268508A

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN200680034998.0

    申请日:2006-09-12

    Abstract: 提供一种用于磁记录介质的硅基底,其中该基底在其具有包括磁性层的层的数据承载面(表面)与其外周端面(竖直面)之间具有倒棱面。该硅基底的特征在于,数据承载面的外周侧的dub-off值不大于120,其中,当第一位置(A)是在数据承载面上的与基底的外周端面相距1mm处在径向上向内设置的一个点时,第二位置(B)是在数据承载面上的与第一位置(A)进一步相距1.6mm的在径向上向内设置的一个点,此外,如果垂直线落到连接第一位置(A)和第二位置(B)的直线(A-B),则第三位置(C)是该垂直线与数据承载面相交的点,以及第四位置(H)是该垂直线与直线(A-B)相交的点,dub-off值定义为第三位置(C)和第四位置(H)之间的距离(C-H)的最大值。使用这种硅基底,对于磁记录介质,可以获得用于较高记录密度的小的雪崩点。还提供一种使用这种硅基底的磁记录介质。

    磁记录介质的基底、磁记录介质以及磁记录和再现装置

    公开(公告)号:CN101203909A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200680022097.X

    申请日:2006-06-30

    Abstract: 本发明提供一种磁记录介质基底产品,该基底产品能够增强基底端面和软磁层之间的接触强度,并能抑制腐蚀的发生,还提供一种包含所述基底产品的磁记录介质,该磁记录介质显示出没有退化的电磁转换特性并具有非常好的耐用性,还提供一种包含所述磁记录介质的磁记录和再现装置。所述磁记录介质基底产品包括一种圆盘形非磁性基底,该基底在其中心部分有圆孔,并且在将要在上面形成磁性层的主表面与外端面之间的部分以及所述主表面与界定所述圆孔的内端面之间的部分中的至少一个部分处形成斜切面,其中,通过AFM测量到的所述斜切面的表面粗糙度(Ra)在4.0≤Ra≤100范围内,优选是落在4.0≤Ra≤50的范围内。

    磁盘基底以及磁盘的制造方法

    公开(公告)号:CN101010169A

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN200580029285.0

    申请日:2005-08-29

    CPC classification number: B24B37/042 B24B57/04 C03C19/00 G11B5/8404

    Abstract: 本发明涉及一种磁盘基底的制造方法,其能够减少在玻璃基底表面上存在的滑痕的数量并增大玻璃基底的合格率。当通过利用每个都具有衬垫的抛光盘对玻璃基底的表面进行抛光时,通过将加工速率设定为0.15μm/分或更低并且将衬垫槽宽设定为2至4mm来对非晶或晶化玻璃基底进行抛光。而且,通过将加工速率设定为0.15μm/分或更低来对化学钢化玻璃基底进行抛光。

    利用刷子对用于记录介质的基底的内缘端面进行抛光的方法

    公开(公告)号:CN101005923A

    公开(公告)日:2007-07-25

    申请号:CN200580028056.7

    申请日:2005-08-24

    Abstract: 提供一种抛光方法,该抛光方法在对用于记录介质的多个盘形基底的内缘端面进行抛光时没有加工量差量。提供一种利用刷子对用于记录介质的盘形基底的内缘端面进行抛光的方法,包括:提供多片用于记录介质的盘形基底,其在中心部分具有圆形孔从而形成内缘端面,并且层叠该多片盘形基底,同时对准圆形孔,从而形成在中心部分具有圆形孔的抛光对象;将包含抛光材料的抛光材料浆液接触到所述抛光对象;在所述浆液接触到所述抛光对象的情况下,将抛光刷从所述抛光对象的第一端插入到抛光对象的圆形孔中,其中抛光刷在杆形轴的周边散布有刷毛,然后以该轴作为中心轴来旋转抛光刷,从而对基底的内缘端面进行抛光;以及在所述浆液接触到所述抛光对象的情况下,将所述抛光刷从与第一端相对的第二端插入到所述抛光对象的圆形孔中,然后以该轴作为中心轴来旋转抛光刷,从而对基底的内缘端面进行抛光。

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