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公开(公告)号:CN101064139A
公开(公告)日:2007-10-31
申请号:CN200610115463.8
申请日:2006-08-10
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B7/263 , G11B7/2403 , G11B7/24097 , G11B7/259 , G11B2007/2571 , G11B2007/25713
Abstract: 提供了一种光学记录介质及其制造方法。光学记录介质包括:具有相位坑的基片;反射层,用于对发射到基片和相位坑的光束进行反射;以及反射层的光入射侧上的反射率减小层,用于减小反射层的反射率。形成介电层作为反射率减小层,以使得折射率改变。在另一变型例中,将金属层用作反射率减小层,所述金属层由具有比反射层折射率更高的折射率的金属膜形成。
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公开(公告)号:CN1945713A
公开(公告)日:2007-04-11
申请号:CN200610153854.9
申请日:2003-01-10
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B11/105 , G11B7/00 , G11B20/10
CPC classification number: G11B11/10584 , G11B7/0052 , G11B7/00718 , G11B7/0079 , G11B7/126 , G11B7/24038 , G11B7/24085 , G11B11/10528 , G11B11/10543 , G11B11/10578 , G11B11/10597 , G11B20/0021 , G11B20/1217 , G11B20/1426 , G11B2007/0013 , G11B2020/1242 , G11B2020/1248 , G11B2020/1274 , G11B2020/1461
Abstract: 一种光信息记录介质。在同时读出ROM-RAM信息时,可以稳定地再生RAM信息。上述光信息记录介质具有:包括形成作为ROM信号的相位凹坑的ROM区域的基板;以及形成在与上述基板的上述ROM区域对应的区域上的用于记录RAM信号的光磁记录膜,上述ROM区域中的至少用户区域的上述相位凹坑的调制度为10%~37%,上述用户区域的相位凹坑的调制度优选为15%~25%。作为一种实施方式,使上述相位凹坑的光学深度约为λ/8~λ/10(其中,λ是用于记录或再生的激光的波长)。
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公开(公告)号:CN1650361A
公开(公告)日:2005-08-03
申请号:CN02829432.7
申请日:2002-08-13
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 细川哲夫
IPC: G11B11/105
CPC classification number: G11B11/10591 , G11B11/10515 , G11B11/10593
Abstract: 一种磁光记录媒体,其特征在于具有:基板;设置在该基板上,以Tb和FeCo为主成分,在室温下补偿组分或过渡金属占优势,且表现出垂直磁化的第1记录层;以及设置在上述第1记录层上,具有大于等于100℃的补偿温度,在室温下稀土类元素占优势,且表现出垂直磁化的第2记录层;在上述第1记录层和第2记录层的居里温度分别为Tc1、Tc2,室温下的矫顽力为Hc1、Hc2,膜厚为t1、t2时,有以下的关系:60℃<Tc2<Tc1,Hc1·t1>Hc2·t2。
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公开(公告)号:CN1615518A
公开(公告)日:2005-05-11
申请号:CN03802122.6
申请日:2003-01-10
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B11/105
CPC classification number: G11B20/1403 , G11B7/005 , G11B7/0079 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/24085 , G11B11/1051 , G11B11/10515 , G11B11/10543 , G11B11/10554 , G11B11/10584 , G11B11/10597 , G11B20/10 , G11B2007/0013 , G11B2020/1259
Abstract: 一种记录装置,对于通过相位凹坑记录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息记录介质,可以进行记录或者再现,具有能进行以下控制的主控制器:检测从光信息记录介质反射的激光的反射光,当在生成与ROM信息和RAM信息对应的信号的记录信息检测系统的输出中,同时具有与ROM信息和RAM信息对应的ROM信号和RAM信号时,利用上述记录信息检测系统的输出中的ROM信号,对半导体激光器的发光进行负反馈控制,并且通过实施控制,从检测上述激光强度的光强度检测系统的输出中获得所读取再现的ROM信号。
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公开(公告)号:CN1615517A
公开(公告)日:2005-05-11
申请号:CN03802095.5
申请日:2003-01-10
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B11/105
CPC classification number: G11B11/10584 , G11B7/0052 , G11B7/00718 , G11B7/0079 , G11B7/126 , G11B7/24038 , G11B7/24085 , G11B11/10528 , G11B11/10543 , G11B11/10578 , G11B11/10597 , G11B20/0021 , G11B20/1217 , G11B20/1426 , G11B2007/0013 , G11B2020/1242 , G11B2020/1248 , G11B2020/1274 , G11B2020/1461
Abstract: 一种光信息记录介质。在同时读出ROM-RAM信息时,可以稳定地再现RAM信息。上述光信息记录介质具有:包括形成作为ROM信号的相位凹坑的ROM区域以及形成在与上述基板的上述ROM区域对应的区域上的用于记录RAM信号的光磁记录膜,上述ROM区域中的至少用户区域的上述相位凹坑的调制度为10%~37%,上述用户区域的相位凹坑的调制度优选为15%~25%。作为一种实施方式,使上述相位凹坑的光学深度约为λ/8~λ/10(其中,λ是用于记录或再现的激光的波长)。
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