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公开(公告)号：CN116968442B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311217564.6
申请日：2023-09-20
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于墨路系统监测的技术领域，公开了一种墨路系统监测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测墨路系统的墨路监测数据，以及墨路数据库的墨路监测训练样本，墨路监测训练样本包括历史墨路监测数据及对应的状态数据，根据历史墨路监测数据及对应的状态数据，构建模型预测控制算法模型，将墨路监测数据输入模型预测控制算法模型，计算得到待测墨路系统的预测状态数据，基于预测状态数据，结合预设的状态参考阈值和预设的状态约束条件，对待测墨路系统进行监测，通过墨路监测数据、模型预测控制算法模型、预设的状态参考阈值和预设的状态约束条件，对墨路系统进行监测，提高了墨路系统的监测效率。
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公开(公告)号：CN116394657A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310663504.0
申请日：2023-06-06
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J2/145
Abstract: 本申请属于打印技术领域，公开了一种多分辨率打印方法及装置，所述装置包括安装座，安装座能够绕z轴转动；至少两个喷头，每个喷头包括多个沿x轴方向以第一间隔等间隔排布的喷孔，各喷头沿y轴方向以第二间隔等间隔排布地设置在安装座上，且第二间隔可调；沿y轴方向，从第二个喷头起，各喷头的喷孔依次沿x轴的同一方向相对上一个喷头的喷孔偏移第一偏移距离，第一偏移距离与第一间隔满足关系：Of=No/M，其中Of为第一偏移距离，No为第一间隔，M为喷头的总数；从而能够实现多种分辨率的打印，且分辨率的调节范围大，适用性强。
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公开(公告)号：CN114441149B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202210371679.X
申请日：2022-04-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
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公开(公告)号：CN119509626A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202510062761.8
申请日：2025-01-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于液体检测的技术领域，公开了一种液体非接触式检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测液体的储存容器的三维数据，基于三维数据，建立储存容器的高度体积关系匹配模型，运用安托因方程、达西定律和拉乌尔定律，根据待测液体在预设时间后的液面高度和待测液体的物理参数，计算得到待测液体的密度，将待测液体在预设时间后的液面高度输入至高度体积关系匹配模型得到待测液体的体积后，根据体积和密度，计算得到待测液体的质量；通过高度体积关系匹配模型，运用安托因方程、达西定律和拉乌尔定律，根据液体在预设时间后的液面高度，计算得到体积、密度和质量，以对液体进行非接触式检测，提高了液体的检测效率。
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公开(公告)号：CN118966484A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411454162.2
申请日：2024-10-17
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于预测食品风味的技术领域，公开了一种食品风味特征预测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测食品的成分数据和光谱数据，根据成分数据，采用相关性分析方法，计算得到第一关键组分，将光谱数据输入至预设的风味评分模型，得到光谱数据对应的风味评分，通过核密度估计法，匹配第一关键组分对应的关键组分含量概率分布图和风味评分对应的光谱评分概率分布图，得到与风味评分匹配的第二关键组分，将由第二关键组分转化的扩展连通分子指纹输入至食物风味预测模型，预测得到待测食品的风味特征；通过核密度估计法、相关性分析方法、风味评分模型和食物风味预测模型，对食品风味进行预测，提高了食品风味的预测效率。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN115451638B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202211201566.1
申请日：2022-09-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种制冷控制方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括步骤：获取基板上的目标区域的第一温度值；若第一温度值大于第一预设阈值，则输出制冷指令至半导体制冷装置；制冷指令用于控制半导体制冷片启用制冷功能，并控制制冷压缩机启用液冷功能，制冷功能用于降低目标区域的温度，液冷功能用于半导体制冷片热端散热，以保证半导体制冷片的制冷效果；在半导体制冷装置启动后，获取目标区域的第二温度值；基于第二温度值的大小，输出调整指令至半导体制冷装置；调整指令用于调整半导体制冷片的制冷功率，并维持制冷压缩机功率不变，以控制半导体制冷装置的制冷效果。
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公开(公告)号：CN114246578A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202210189460.8
申请日：2022-03-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种腺样体肥大初筛装置、系统以及终端设备，通过获取模块获取被测对象的平静呼吸数据与体质信息数据，其中，所述平静呼吸数据包括被测对象平静呼吸时的鼻腔压力数据与呼吸流速数据，所述体质信息数据包括所述被测对象的年龄、性别、身高、体重以及民族中的一项或多项；通过分析模块将所述平静呼吸数据与体质信息数据输入预先建立的腺样体初筛模型进行分析，得到所述被测对象的腺样体肥大程度的预估结果。本发明可以简单高效地筛查腺样体的肥大程度，提高了腺样体肥大判断的便利性与准确性。
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公开(公告)号：CN114235759A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202210174486.5
申请日：2022-02-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于晶圆缺陷检测领域，公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。该方法包括：获取待检测晶圆的光致发光检测结果；根据所述光致发光检测结果和预设热力图模型生成所述待检测晶圆对应的缺陷热力图，所述预设热力图模型基于电致发光缺陷标记后的光致发光检测结果样本构建；根据所述缺陷热力图确定所述待检测晶圆的缺陷检测结果。由于本发明是根据光致发光检测结果通过预设热力图模型生成待检测晶圆对应的缺陷热力图，根据缺陷热力图确定待检测晶圆的检测结果。相对于现有的通过晶圆的光致发光检测结果和电致发光检测结果确定晶圆的缺陷检测结果的方式，本发明上述方式能够提高晶圆的检测效率和检测精度。
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