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公开(公告)号：CN104374337A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410653973.5
申请日：2014-11-18
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供了一种双频模拟编码光容错相位展开工程方法。本发明双频模拟码由模拟码1和模拟码2组成，设定模拟码1周期长度a1和模拟码2周期长度a2为正整数，且a2=a1+1，便于计算；按上述关系，将a1和a2同比例缩放，可实现任意周期长度的双频模拟码。相位展开时，利用容错工程模型求得相位展开值，避免了最易出错的模拟码周期序数对相位展开值的影响。本发明在整个测量空间内，修正了由模拟码周期序数错误带来的相位展开值错误，从而避免了测量粗大误差；也即，避免了由图像信息提取误差带来的测量粗大误差。
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公开(公告)号：CN102519390B
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201110431402.3
申请日：2011-12-21
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明提供了一种的三编码周期灰度梯形相移结构光三维信息获取方法。本发明方法通过选择三个不同的编码周期，在保留相位编码方法对投影角连续划分的优点同时，对相位编码法的测量范围拓展了第三个编码周期倍，对同一个编码周期，投射三幅移动1/3周期的编码图案，可以提高抗干扰能力，同时减少了环境光照和被测物表面反射系数不一致对三维信息获取结果的影响。本发明提高相移编码结构光测量范围，减小测量误差，提高测量精度，克服被测物表面反射率不一致和环境光对测量影响。
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公开(公告)号：CN102519396B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201110431096.3
申请日：2011-12-21
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供了一种三个灰度对称线性编码周期的采样点三维信息获取方法，步骤为：选择编码周期，制备9幅由3个编码周期不同的灰度线性对称相移光栅；将光栅投射到被测物体表面，利用条纹图像获取装置，获得9幅条纹图像；计算得到采样点在此编码周期内对应于编码图案的相对编码点，得到采样点在该频率内的余数方程，联立余数方程，得到采样点在3个不同编码周期内的同余方程组，采用大衍求一术确定同余方程组的乘率，进而得到方程组的解；确定采样点的投影角，根据三角原理确定采样点的三维信息。本发明方法克服了传统双频相移三维测量中，误差大，测量范围受限，误差累计及传递的缺点。该方法是一种具有非接触，高采样密度，高精度的三维测量技术。
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公开(公告)号：CN102494637B
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201110431370.7
申请日：2011-12-21
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供了一种三个编码周期的三基色梯形相移三维信息获取方法，通过选择三个基色空间中不同的编码周期，在保留相位编码方法对投影角连续划分的优点同时，对相位编码法的测量范围拓展了第三个编码周期倍，对同一个基色空间，投射三幅移动1/3周期的编码图案，可以提高抗干扰能力，同时减少了环境光照和被测物表面反射系数不一致对三维信息获取结果的影响。本发明能够提高相移编码结构光测量范围，减小测量误差，提高测量精度，克服被测物表面反射率不一致和环境光对测量影响。
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公开(公告)号：CN113514009B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202110904262.0
申请日：2021-08-06
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种移位阶梯相位码与相移条纹非对称组合三维测量方法属于结构光三维测量技术领域。该方法包括以下步骤：依据相移法生成余弦相移图案；设计生成移位阶梯相位码字；将码字嵌入相移条纹中生成移位阶梯相位码图案；投射余弦相移条纹和移位阶梯相位码条纹图案并同步采集它们的图像；利用相移法获取包裹相位和包裹移位阶梯相位；将包裹移位阶梯相位转换为其十进制包裹数字码；对包裹数字码进行解包裹得到连续数字码；对包裹相位进行解包裹得到绝对相位；根据三角法使用绝对相位计算被测表面三维坐标。相比于阶梯相位码与相移条纹组合方法，本发明方法的测量结果不会产生由跳变误差导致的粗大误差，能更可靠地得到绝对相位，可提供更准确的测量结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106918307A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201710061027.5
申请日：2017-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种可靠的绝对模拟码检索方法属于结构光三维测量技术领域；该方法包括以下步骤：首先，分别计算理想高频绝对模拟码和理想低频绝对模拟码，然后，分别获得实际高频绝对模拟码和实际低频绝对模拟码，第三，计算实际高频绝对模拟码和实际低频绝对模拟码之间的差，第四，根据实际高频绝对模拟码和实际低频绝对模拟码之间的差，以及高频相移条纹周期，计算补偿参数，第五，计算校正的高频绝对模拟码，最后，确定本发明成立的条件；本发明可靠的绝对模拟码检索方法，重建三维结果中不存在粗大误差，重建结果较好地体现了被测表面的细节特征，效果理想。
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公开(公告)号：CN104930984B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201510330596.6
申请日：2015-06-16
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种n频编码结构光的量程计算方法属于结构光三维测量技术领域；该方法首先投射编码条纹，然后根据这些编码条纹的周期是否全为正整数而选择性地调整编码周期，再进行分解质因数，最后计算量程，并根据编码周期是否进行过调整而选择性地重新调整；本发明n频编码结构光的量程计算方法，不仅提供了一种n频编码结构光的量程计算方法，而且能够说明当一个编码条纹的周期是另一个编码条纹周期整数倍时，短周期编码条纹对量程的改变没有贡献；同时能够说明n频编码结构光的投影顺序不影响量程；此外，在质因数分解中，如果将质因数从小到大排列等，还能使得整个推导过程具有唯一性。
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公开(公告)号：CN104897084B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201510331009.5
申请日：2015-06-16
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 基于双频锯齿波的结构光相位解码方法属于结构光三维测量技术领域；该方法首先分别投影波形函数为y1＝k1×mod(x,a1)+b1的第一锯齿波和波形函数为y2＝k2×mod(x,a2)+b2的第二锯齿波；然后根据给定的空间位置X，求对应第一锯齿波的相位主值phi1和第二锯齿波的相位主值phi2；接着求解空间位置X所包含第一锯齿波的周期整数n1＝mod((phi1‑phi2),a2)/abs(a1‑a2)和第二锯齿波的周期整数n2＝mod((phi1‑phi2),a1)/abs(a1‑a2)；最后采用X＝n1×a1+phi1或X＝n2×a2+phi2求解相位展开值；本发明不仅保留了在先申请发明的全部技术优势，而且同在先申请发明相比，灵活性更好，算法更简单。
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公开(公告)号：CN102519390A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110431402.3
申请日：2011-12-21
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明提供了一种的三编码周期灰度梯形相移结构光三维信息获取方法。本发明方法通过选择三个不同的编码周期，在保留相位编码方法对投影角连续划分的优点同时，对相位编码法的测量范围拓展了第三个编码周期倍，对同一个编码周期，投射三幅移动1/3周期的编码图案，可以提高抗干扰能力，同时减少了环境光照和被测物表面反射系数不一致对三维信息获取结果的影响。本发明提高相移编码结构光测量范围，减小测量误差，提高测量精度，克服被测物表面反射率不一致和环境光对测量影响。
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公开(公告)号：CN102494638A
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN201110431404.2
申请日：2011-12-21
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提出了一种三个编码周期的三基色三角形相移三维信息获取方法，本发明方法通过选择三个基色空间中不同的编码周期，在保留相位编码方法对投影角连续划分的优点同时，对相位编码法的测量范围拓展了第三个编码周期倍。本发明是一种提高相移编码结构光测量范围，减小测量误差，提高测量精度，克服被测物表面反射率不一致和环境光对测量影响的基于三个编码周期三基色三角形相移采样点三维信息获取技术。
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