一种可通过电压调节等效发射率的热控皮肤及其在航天器中的应用

    公开(公告)号:CN109870863B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201910299103.5

    申请日:2019-04-15

    Abstract: 本发明涉及一种可通过电压调节等效发射率的热控皮肤及其在航天器中的应用。所述热控皮肤从下至上包括基底、内层、外层和保护层,并且内层和外层之间具有间隔物,所述间隔物使内层和外层之间形成有间距为微纳米量级的真空间隙;所述内层和/或所述外层中包含金属‑绝缘体‑半导体结构,且在结构中的半导体和金属之间加载直流可调电压;所述保护层具有高红外发射率或同时具有高红外发射率和低太阳光谱吸收率。这一热控皮肤一方面具有良好的空间环境适应性,解决了电致变色材料因直接暴露于太空环境而产生的性能退化问题,另一方面能提供较大的发射率调节范围,可以应用在航天器中。

    垃圾气化及飞灰高温熔融处理装置及方法

    公开(公告)号:CN101201167B

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200710144924.9

    申请日:2007-12-25

    CPC classification number: Y02E20/348

    Abstract: 垃圾气化及飞灰高温熔融处理装置及方法,它涉及垃圾气化及飞灰高温熔融一体化处理技术。本发明为解决垃圾焚烧炉布袋捕集灰中重金属、二噁英严重超标的问题。装置:流化床气化炉与旋风炉相通,旋风炉与燃尽室相通,燃尽室与烟道相通。方法:垃圾在流化床气化炉中气化产生的烟气进入旋风炉中在煤粉助燃下燃烧,飞灰中的重金属氧化物被还原为金属得以回收,飞灰中的二噁英被分解,排出的烟气进入燃尽室、过热器、省煤器和空气预热器后进入尾气处理设备。本发明使垃圾在流化床气化炉内气化燃烧后,产生的烟气及飞灰进入旋风炉内进行高温熔融处理,使得尾气捕集灰和尾气中的二噁英浓度分别低于50ng-TEQ/kg、0.1ng-TEQ/m3。

    垃圾气化及飞灰高温熔融处理装置及方法

    公开(公告)号:CN101201167A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200710144924.9

    申请日:2007-12-25

    CPC classification number: Y02E20/348

    Abstract: 垃圾气化及飞灰高温熔融处理装置及方法,它涉及垃圾气化及飞灰高温熔融一体化处理技术。本发明为解决垃圾焚烧炉布袋捕集灰中重金属、二噁英严重超标的问题。装置:流化床气化炉与旋风炉相通,旋风炉与燃尽室相通,燃尽室与烟道相通。方法:垃圾在流化床气化炉中气化产生的烟气进入旋风炉中在煤粉助燃下燃烧,飞灰中的重金属氧化物被还原为金属得以回收,飞灰中的二噁英被分解,排出的烟气进入燃尽室、过热器、省煤器和空气预热器后进入尾气处理设备。本发明使垃圾在流化床气化炉内气化燃烧后,产生的烟气及飞灰进入旋风炉内进行高温熔融处理,使得尾气捕集灰和尾气中的二噁英浓度分别低于50ng-TEQ/kg、0.1ng-TEQ/m3。

    一种仿生年轮结构的多孔碳化硅陶瓷骨架及其制备方法和在高性能复合相变材料中的应用

    公开(公告)号:CN116589299B

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202310495273.7

    申请日:2023-05-05

    Abstract: 巨大的应用潜力。本发明公开了一种仿生年轮结构的多孔碳化硅陶瓷骨架及其制备方法和在高性能复合相变材料中的应用,属于高性能复合相变材料及其制备技术领域。本发明以碳化硅为主体的混合粉末,基于冷冻铸造制备具有定向环状结构的多孔碳化硅骨架,其轴向为紧密的碳化硅实体,径向为多层环状孔隙结构,经过高温烧结的作用下,轴向堆积的碳化硅颗粒发生熔融、联结反应后就形成了连续、坚固的多孔载体骨架。然后采用真(56)对比文件US 2005107244 A1,2005.05.19赵峰 等.基于冰模板法构筑孔道结构的合成策略及研究进展《.精细化工》.2023,第40卷(第3期),全文.赵兰 等.相变蓄热复合传热强化技术综述.《储能科学与技术》.2022,第11卷(第11期),全文.Yanan Song et al..High-performancethermal energy storage and thermalmanagement via starch-derived porousceramics-based phase change devices.《International Journal of Heat and MassTranser》.2022,第197卷全文.汤玉斐;苗芊;赵康;魏俊琪;胡龙.静电场下冷冻干燥法制备层状Al_2O_3多孔陶瓷.硅酸盐学报.2013,(第12期),全文.徐贵钰;何廷鸿;殷海青;祝永强;王广乐.多元氯化物熔盐储能材料的制备及其热性能评价.四川理工学院学报(自然科学版).2017,(第04期),全文.孙李平;吴玉庭;马重芳.太阳能高温蓄热熔融盐优选的实验研究.太阳能学报.2008,(第09期),全文.

    一种仿生年轮结构的多孔碳化硅陶瓷骨架及其制备方法和在高性能复合相变材料中的应用

    公开(公告)号:CN116589299A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310495273.7

    申请日:2023-05-05

    Abstract: 本发明公开了一种仿生年轮结构的多孔碳化硅陶瓷骨架及其制备方法和在高性能复合相变材料中的应用,属于高性能复合相变材料及其制备技术领域。本发明以碳化硅为主体的混合粉末,基于冷冻铸造制备具有定向环状结构的多孔碳化硅骨架,其轴向为紧密的碳化硅实体,径向为多层环状孔隙结构,经过高温烧结的作用下,轴向堆积的碳化硅颗粒发生熔融、联结反应后就形成了连续、坚固的多孔载体骨架。然后采用真空浸渍法使纯相变材料填充入多孔碳化硅陶瓷骨架中,得到高性能的复合相变材料。本发明获得高导热、高储热密度的定形复合相变材料,在光热储能系统与集成电子设备散热等领域具有巨大的应用潜力。

    基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法

    公开(公告)号:CN108344698B

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN201810156948.4

    申请日:2018-02-24

    Abstract: 基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法,属于光学常数测量技术领域。本发明是为了解决由于样品表面粗糙度的存在,使采用椭偏法测量的材料光学常数存在误差的问题。它包括:获取粗糙表面样品的椭偏参数、均方根粗糙度σ和自相关长度ζ;将椭偏参数作为粗糙表面样品光学常数的函数并用一阶泰勒级数展开;定义目标函数和迭代的终止条件,结合电磁第一性原理和迭代公式计算光学常数。本发明用于获得粗糙表面的光学常数。

    一种基于近场热辐射的热致相变热控皮肤及其在航天器中的应用

    公开(公告)号:CN110079774A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910245668.5

    申请日:2019-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种基于近场热辐射的热致相变热控皮肤及其在航天器中的应用。该热致相变热控皮肤,从下至上包括基底、内层膜系、外层膜系和保护层,并且内层膜系和外层膜系之间具有间隔物,所述间隔物使内层膜系和外层膜系之间形成有间距为微纳米量级的真空间隙;和所述内层膜系包含由热致相变材料组成的热致相变膜层;所述保护层具有高红外发射率或同时具有高红外发射率和低太阳光谱吸收率。这一热致相变热控皮肤一方面具有良好的空间环境适应性,解决了相变材料因直接暴露于太空环境而产生的性能退化问题,另一方面能提供窄温区内较大的发射率调节范围,可以应用在航天器中。

    基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法

    公开(公告)号:CN108344698A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201810156948.4

    申请日:2018-02-24

    Abstract: 基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法,属于光学常数测量技术领域。本发明是为了解决由于样品表面粗糙度的存在,使采用椭偏法测量的材料光学常数存在误差的问题。它包括:获取粗糙表面样品的椭偏参数、均方根粗糙度σ和自相关长度ζ;将椭偏参数作为粗糙表面样品光学常数的函数并用一阶泰勒级数展开;定义目标函数和迭代的终止条件,结合电磁第一性原理和迭代公式计算光学常数。本发明用于获得粗糙表面的光学常数。

    考虑光子晶体表面氧化膜分布的偏振特性数值计算方法

    公开(公告)号:CN104502282B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201510030651.X

    申请日:2015-01-21

    Abstract: 考虑光子晶体表面氧化膜分布的偏振特性数值计算方法,本发明涉及偏振特性数值计算方法。本发明为了解决现有的技术未考虑不同位置处膜厚的不均匀性及工作量大、速度慢的问题。具体是按照以下步骤进行的:步骤一、在已知光子晶体结构参数的情况下,通过FDTD数值模拟方法,求得光子晶体上方的空间电磁场分布;步骤二、计算辐射偏振特性,用光学椭偏参数表示;步骤三、计算穆勒矩阵元素,建立数据库;步骤四、利用仪器对光子晶体表面的光学椭偏参数进行测量,并计算穆勒矩阵元素,然后与数据库对比,得到对应的光子晶体表面氧化膜厚度及氧化膜分布不同位置。本发明应用于测量光子晶体表面氧化膜领域。

    一种利用椭偏参数测量固体材料表面粗糙度的方法

    公开(公告)号:CN104880161A

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201510341853.6

    申请日:2015-06-18

    Abstract: 一种利用椭偏参数测量固体材料表面粗糙度的方法,本发明涉及测量固体材料表面粗糙度的方法。本发明的目的是为了解决现有技术测量方法原子力显微镜速度慢、扫描电子显微镜需要测量样品能够导电以及光切显微镜精度不高的问题。通过以下技术方案实现的:步骤一、对不同固体材料粗糙表面特征参数进行模拟计算,即通过三维时域有限差分法求得该固体材料粗糙表面近场的空间电磁场分布;步骤二、通过近远场变换求得远场的复电场,计算镜反射方向的辐射偏振特性,并建立数据库;步骤三、当固体材料生产完成后,对该固体材料表面的光学椭偏参数进行测量,并与数据库比对,得到均方根粗糙度和自相关长度。本发明应用于测量表面粗糙度领域。

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