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公开(公告)号：CN117911734B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410048373.X
申请日：2024-01-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06V10/762 , G06V10/80
Abstract: 本发明提出一种基于图像聚类离散度计算的红外检测数据预融合处理方法，该方法通过将检测图像中所有信号点进行聚类，计算每个像素点与其他像素点的距离确定自己的聚类；确定过滤阈值K，计算每个像素点第K距离范围内的所有点离散度均值；最后将该像素点第K范围内离散均值与该像素点第K范围内所有像素点的第K范围平均离散度的均值比较，最终得到该点的聚类离散值。所述方法能够实现数据的预融合处理与标准化。
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公开(公告)号：CN117571712B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202311034355.8
申请日：2023-08-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88 , G01N21/95 , G01N29/34 , G01N25/72 , G01N29/14 , G06T7/00 , G06T5/50 , G06T1/00 , G06T1/20 , G06F30/27 , H04B7/185 , G06V10/34 , G06V10/774 , G06V10/762 , G06V10/82 , G06V10/80 , G06N3/08
Abstract: 本发明提出一种重用航天器多类型跨尺度损伤的混频激光诱导超声红外多场成像检测装置与方法，本发明从原理上将激光、超声、红外、多源探测、多传感融合等关键技术进行有机融合，克服了当前主流的接触式超声红外检测适用范围窄的问题，以非接触式混频激光激励作为激发源，通过超声、红外探测器分别获取超声回波信号以及热辐射信号，该热辐射信号是由混频激光与超声共同诱发，极大提高了跨尺度多类型损伤成像的缺陷检测适用性与灵敏度，最终可以实现重用航天器复合材料及金属材料的多源激励与多场响应，比传统超声红外检测缺陷信噪比提高50％，同时可实现完全非接触式检测。
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公开(公告)号：CN117911734A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202410048373.X
申请日：2024-01-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06V10/762 , G06V10/80
Abstract: 本发明提出一种基于图像聚类离散度计算的红外检测数据预融合处理方法，该方法通过将检测图像中所有信号点进行聚类，计算每个像素点与其他像素点的距离确定自己的聚类；确定过滤阈值K，计算每个像素点第K距离范围内的所有点离散度均值；最后将该像素点第K范围内离散均值与该像素点第K范围内所有像素点的第K范围平均离散度的均值比较，最终得到该点的聚类离散值。所述方法能够实现数据的预融合处理与标准化。
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公开(公告)号：CN115165888A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210574563.6
申请日：2022-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种管道表面及亚表面缺陷的采集装置、检测装置、检测方法，涉及管道表面及亚表面缺陷的无损检测领域。解决了现有红外检测方法造成光纤、电缆缠绕造成检测工作效率低下的问题。所述方法包括：将所述采集装置放入待测管道内部；通过控制采集装置中的驱动机构，带动采集装置沿待测管道轴线做匀速运动；在运动过程中，半导体激光器发射激光信号，所述激光信号经第二90°锥形反射镜反射，在待测管道内表面形成环形光斑，所述环形光斑为热源；红外相机采集经第一90°锥形反射镜反射的待测管道内壁的环形红外图像序列；根据所述环形红外图像序列，获得缺陷信息。本发明适用于异形孔管道内部表面及亚表面缺陷的检测与定位。
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公开(公告)号：CN108416778A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810231062.1
申请日：2018-03-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N25/72 , G06T2207/10048 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明公开了一种集成电路微缺陷的锁相热成像层析表征系统与方法，所述包括中波红外相机、数据采集卡、计算机、三维移动台和直流电源，其中：所述计算机控制数据采集卡控制直流电源触发并对集成电路样件进行幅值调制变化，使频率恒定的电流注入；所述计算机同时控制数据采集卡控制中波红外相机进行同步触发采集图像序列；所述中波红外相机采集的图像序列传送至计算机进行同步锁相处理，得到该频率下的幅值图和相位图，通过改变频率得到不同频率的幅值与相位图，利用计算机的锁相热成像层析软件得到集成电路样件的深度层析结果。本发明是一种具有信噪比高、无损伤、快速、直观、准确、探测面积大及效率高等优势的红外热波无损检测新方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105915179A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201610222997.4
申请日：2016-04-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H02S50/15
CPC classification number: H02S50/15
Abstract: 本发明公开了一种晶圆及太阳能电池的光致载流子辐射锁相成像检测方法与系统，所述系统包括近红外相机、信号采集卡、计算机、三维移动台、长通滤波片、第一激光器和第二激光器，被测样件固定在三维移动台上，调节三维移动台使被测样件在近红外相机视野内清晰可见；计算机通过控制信号采集卡控制激光器对被测样件进行光激励，同时控制近红外相机进行同步触发采集图像序列；近红外相机采集的图像序列传送至计算机进行锁相处理，进而实现高信噪比的载流子辐射信号成像。本发明激光采用面激励方式激发样件，探测面积大、检测效率高；采用锁相算法，可以提高信噪比，在自然光背景下仍然可以得到良好检测结果，无需暗室环境，检测方便。
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公开(公告)号：CN103926274A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201410162717.6
申请日：2014-04-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/72
Abstract: 一种CFRP层板缺陷的红外热波雷达成像无损检测方法与系统，所述方法为：调整激光光源扩束整形装置与被测样件的空间位置，使激光均匀照射到试样表面，控制数据采集卡产生线性调频脉冲信号，驱动激光功率驱动器，使光纤激光器的功率按照线性调频脉冲信号规律变化；采集被测CFRP试样表面的热波雷达信号；对采集的表面热波雷达信号进行处理，提取热波雷达信号的时频域特征信息，通对特征信息图像的处理与分析，提取样件内部缺陷的特征参数，实现对样件内部缺陷及损伤的无损检测。所述系统包括光纤激光器、激光功率驱动器、数据采集卡、激光光源扩束整形装置、焦平面红外热像仪及计算机。本发明实现了对CFRP层板缺陷的快速、准确检测。
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公开(公告)号：CN103884737A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201410162688.3
申请日：2014-04-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/18
Abstract: 一种碳纤维束热扩散率的红外锁相热波检测方法与系统，所述方法为：将碳纤维束放置到真空干燥箱内的中心位置处，抽真空，调整激光光束准直镜与声光调制器、聚焦镜与碳纤维束的空间位置，使激光光束入射角度满足布拉格衍射条件，使激光光束聚焦到碳纤维束上；对激光光束进行正弦调制，通过激光功率驱动器控制光纤激光器的输出功率；采集被测试样的表面热波信号，提取热波信号的幅值与相位信息，利用幅值及相位分布与材料热扩散率的关系计算出材料热扩散率。所述系统包括光纤激光器、激光功率驱动器、准直镜、声光调制器、聚焦镜、信号发生器、真空干燥箱、真空泵、焦平面红外热像仪及计算机。本发明实现了对碳纤维束热扩撒率的快速、准确检测。
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公开(公告)号：CN119666848A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411660653.2
申请日：2024-11-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法，它涉及一种近临界CO2介质增强光热显微成像方法。本发明为了解决目前光热显微成像技术信号微弱，无法分离出被测物体的光热数据信号与检测过程中的噪声信号的问题。本发明基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法融合热透镜特性机制、光热信号调制、远场显微成像、多源信号解混与特征提取、图像反卷积、深度学习等多方面技术领域，可实现针对复合材料、纳米材料、金属材料以及高分子聚合物浅表层缺陷的强信号高对比度光热显微成像。本发明属于光热科学与探测及信号处理技术领域。
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公开(公告)号：CN119619014A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411731050.7
申请日：2024-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法，属于光热科学与探测及信号处理技术领域，解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题，具体包括：明确待检测样品，制备玻片样品；开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器；开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器；设置检测参数，设置激光功率/电流参数，设置调制参数，对检测样件进行扫描检测；加载磁场；计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像；改变不同的激光参数和磁场大小，重复上述步骤，获得圆二色、磁圆二色检测结果，进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。
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