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公开(公告)号：CN107186364A
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201710561322.7
申请日：2017-07-11
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064
CPC classification number: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064 , B23K26/0648 , B23K2103/32
Abstract: 本发明提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的方法,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间，使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭；激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑；主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上；激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元，M≥0；在主光斑覆盖的N个微单元中，只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线，n≤N，其它的N‑n+M个微单元为关闭状态；使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时，也呈现中空的闭合曲线，从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。
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公开(公告)号：CN105091785A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510500177.2
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统，系统包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本发明将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
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公开(公告)号：CN105067634A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510500219.2
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了一种用于平板表面质量的检测系统，其系统包括沿光源发出光束的光路上依次设置准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜；待测平板对应于色散透镜的出射侧设置，且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本发明将数字微镜器件作为线型光源，结合色散透镜产生线型色散光，可对平板表面进行横向线扫描，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的一维运动获取被测平板表面的三维信息，以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息，极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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公开(公告)号：CN204945056U
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201520613937.6
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于平板表面质量的检测系统，其包括沿光源发出光束的光路上依次设置准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜；待测平板对应于色散透镜的出射侧设置，且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本实用新型将数字微镜器件作为线型光源，结合色散透镜产生线型色散光，可对平板表面进行横向线扫描，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的一维运动获取被测平板表面的三维信息，以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息，极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN204944455U
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201520613878.2
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本实用新型公开了一种用于砂轮表面形貌的检测系统，其包括沿光源发出光束的光路上依次设置的准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜；待测砂轮对应于色散透镜的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本实用新型将数字微镜器件作为线型光源，结合色散透镜产生线型色散光，可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
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公开(公告)号：CN211855280U
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202020187845.7
申请日：2020-02-20
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01C3/00
Abstract: 本实用新型提供了基于色散透镜与滤光片的视觉测距系统，包括沿光路方向依次设置的成像透镜(1)、成像光路单元(2)、滤光单元(3)、成像单元(4)和图像计算处理单元(5)；所述成像透镜(1)为色散透镜；所述成像光路单元(2)包括多片分光片以及反射镜，用于将来自目标景物的入射光分为多个光束并分别进入多个并行光路；所述滤光单元(3)位于每一个并行光路的末端，用于保留每个光路的对应窄带波段光信号；所述成像单元(4)包括多个图像传感器，用于采集各窄带波段光信号；所述图像计算处理单元(5)与成像单元(4)相连。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN207037241U
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201720834019.5
申请日：2017-07-11
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B27/09 , B23K26/38 , B23K26/046
Abstract: 本实用新型提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的装置,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间，使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭；激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑；主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上；激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元，M≥0；在主光斑覆盖的N个微单元中，只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线，n≤N，其它的N-n+M个微单元为关闭状态；使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时，也呈现中空的闭合曲线，从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204944452U
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201520614001.5
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本实用新型公开了一种用于砂轮表面形貌的检测系统，包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本实用新型将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
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公开(公告)号：CN204945055U
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201520613899.4
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于平板表面质量的检测系统，其包括沿光源发出光束的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测平板对应于微透镜阵列的出射侧设置，且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本实用新型将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测平板表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的运动获得待测平板表面的三维信息，以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息，极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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