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公开(公告)号：CN102820056B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201110151742.0
申请日：2011-06-07
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G11C13/004 , G11C13/0004 , G11C13/0026 , G11C2013/0054
Abstract: 一种相变存储器的数据读出电路，涉及一个或多个相变存储单元，每一个相变存储单元通过位线和字线与控制电路连接；所述数据读出电路包括：钳位电压产生电路，用于产生钳位电压；预充电电路，在钳位电压的控制下对位线进行快速充电；钳位电流产生电路，在钳位电压的控制下产生使位线维持在钳位平衡态时的钳位电流；钳位电流运算电路，将钳位电流进行求差和倍乘运算，增大高阻态时钳位电流和低阻态时钳位电流的差值；比较放大电路，将经过运算处理后的钳位电流与参考电流比较，输出读出结果。相比于现有技术，本发明的相变存储器的数据读出电路能有效地提高数据的读出速度、减小高低阻间的误读窗口、减小数据读出时的串扰、提高读出数据的可靠性。
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公开(公告)号：CN102831929A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210324598.0
申请日：2012-09-04
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的读写转换系统及方法，所述读写转换系统包括用于产生读脉冲及写脉冲的读写脉冲产生模块、用于锁存需要进行操作的目标地址的地址锁存模块、用于读取目标地址相变存储单元的数据的读模块、用于将待写入的数据写入到目标地址的相变存储单元的写模块、用于锁存所述读模块读出的目标地址的数据或者所述写模块已经写入目标地址的数据的数据锁存模块、以及用于比较目标地址的数据和待写入数据的数据比对模块。本发明能够通过控制读写次序使相变存储器自动在速度优先模式和功耗优先模式间切换，从而达到在不降低存储器系统可靠性的前提下，对于功耗优先的应用场合，最大限度地降低存储器的操作功耗的目的。
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公开(公告)号：CN101976724A
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN201010255203.7
申请日：2010-08-17
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种相变存储器单元的SPICE模型系统，其包括：相变电阻模块、温度计算模块、状态存储模块和结晶率计算模块。相变电阻模块主要用于表述相变存储单元的电阻模型，温度计算模块用于计算相变存储单元在电压或电流作用下的温度情况，状态存储模块用于存储相变存储单元Set和Reset状态的变化，结晶率计算模块用于相变存储单元温度变化时的结晶率的变化情况。采用Verilog-A语言进行描述，对相变存储单元可以进行模拟，调节各个参数，可以得到和实际测试结果相吻合的结果，并提供给电路设计者使用。
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公开(公告)号：CN113539327B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202110779019.0
申请日：2021-07-09
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00 , G06F16/903
Abstract: 本发明涉及一种相变存储单元实现快速逻辑计算装置及数据检索方法，装置包括相变存储阵列和外围控制电路，相变存储阵列包括两个相变存储逻辑算子；相变存储逻辑算子包括两个相变存储单元，两个相变存储单元的一端均与同一位线相连，另一端与各自的选通管的漏端相连，选通管的源端接地，相变存储逻辑算子中的一个相变存储单元的选通管的栅极与第一字线相连，另一个相变存储单元的选通管的栅极与第二字线相连；外围控制电路将初始数据信息写入相变存储阵列中，选通管根据第一字线和第二字线上的信号选通相变存储单元，使得相变存储单元中存储的信息与位线上的脉冲信号进行逻辑运算。本发明能够减少数据匹配计算量，实现高效的数据检索。
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公开(公告)号：CN113315506B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202110494507.7
申请日：2021-05-07
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海新氦类脑智能科技有限公司
IPC: H03K19/0185
Abstract: 本发明涉及一种相变存储器时序可重构布尔逻辑电路、方法及装置，其中电路包括相变存储单元和选通器件，所述相变存储单元的第一端与第一输入电极相连，第二端与所述选通器件的漏端相连，所述选通器件的源端与第二输入电极相连，栅端与控制端相连；通过控制所述第一输入电极、第二输入电极、控制端的输入信号以及所述相变存储单元的初始状态实现逻辑运算操作。本发明能够在单个相变存储单元中实现多种逻辑计算。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112350728B
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN202011178033.7
申请日：2020-10-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03M1/46
Abstract: 本发明涉及一种减少电容阵列的逐次逼近型模数转换器，包括电容阵列、开关阵列、电压比较器和逻辑控制模块，所述电容阵列包括N个并联的电容，其中，第一个电容的容值为单位电容的容值C，所述第i个电容的电容的容值为2i‑2C，i≥2；所述开关阵列包括预比较开关，电容开关阵列和电压比较器参考电压开关；所述预比较开关在所述逻辑控制模块的控制下实现在采样阶段对输入电压信号的预比较；所述电容开关阵列在所述逻辑控制模块的控制下按照逐次逼近的逻辑实现采样、保持与电荷重分配的过程；所述电压比较器参考电压开关在所述逻辑控制模块的控制下实现所述电压比较器参考电压的选择。本发明还涉及上述模数转换器的工作方法。本发明可以减少电容阵列。
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公开(公告)号：CN112859996B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN109903805B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201910139097.7
申请日：2019-02-25
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供的一种存储器片内自测试方法、装置和存储器，通过获取自测试信号后令所述存储器进入自测试状态；在所述存储器中寻找由一或多个连续无故障的所述存储单元构成的满足预设大小的存储区域作为无故障区域；对所述存储器的各存储单元进行测试并将存在故障的存储单元的故障信息存储到所述无故障区域；在自测试结束后将所述无故障区域存储的首地址输出到外部端口以供读取。本发明能够降低了测试成本，而且可以对存储器进行全速测试，增加了测试的故障覆盖率和测试效率，减小了测试的面积开销，能够更加方便及时地发现存储器的问题所在。
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公开(公告)号：CN110619906B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910763063.5
申请日：2019-08-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供了一种多级相变存储器的读出电路及读出方法，涉及微电子技术领域，解决了传统方法无法读出多级相变存储单元存储的多位数据的技术问题。本发明提供的多级相变存储器的读出方法应用于存储有N位二进制数据的相变存储单元，读出方法按照由高位到低位的顺序逐位读取目标相变存储单元的N位二进制数据，读出方法包括N个阶段，第M阶段包括步骤：获取目标相变存储单元当前状态所对应的读电流；获取参考电流，其中，当M＝1时选择起始参考电流，当M>1时根据之前读出的数据位选择对应阶段的参考电流；比较读电流和对应阶段的参考电流，获得读出电压信号；处理读出电压信号，获得二进制数据的第N‑M+1位数据信号；其中，1≤M≤N。
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公开(公告)号：CN112859996A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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