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公开(公告)号:CN117795288A
公开(公告)日:2024-03-29
申请号:CN202280055466.4
申请日:2022-06-29
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01B11/30 , G01N21/958
Abstract: 本发明提供与以往相比可检测出格外微小的缺陷的光透射性积层体的检查方法。本发明的光透射性积层体的检查方法是具有第1主面与第2主面的单片光透射性积层体的检查方法,该检查方法包含以下步骤:以位移传感器检测该光透射性积层体的该第1主面的高度而获得位移数据;以光学系统扫描该光透射性积层体,并从由此所得的扫描图像制作缺陷的坐标图;以及基于该缺陷的坐标图来检测缺陷,该检查方法基于该位移数据,一边将获得该扫描图像时的该光学系统的焦点的高度位置与该第1主面的高度位置的距离维持固定,一边进行该光透射性积层体的扫描。
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公开(公告)号:CN116507572A
公开(公告)日:2023-07-28
申请号:CN202180077327.7
申请日:2021-11-16
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: B65H35/00
Abstract: 本发明提供一种片状产品的制造方法,能够帮助片状产品产生了异常的情况下的原因查明、提高片状产品的成品率。本发明是将卷绕成卷筒状的长条的卷料(S1)送出并进行输送并切断,或者将卷绕成卷筒状的长条的卷料(S1)送出并进行输送并切出大型片状的中间体,将中间体切断,制造多个片状产品(S2)的方法,包括:第一标注工序(ST1),相对于卷料,在通过检查卷料而检测出的缺陷(F)所在的位置标注第一标记(M1);以及第二标注工序(ST2),对卷料或多个片状产品标注表示卷料中的位置信息的第二标记(M2),在第二标注工序中,以在切断后的多个片状产品分别存在多个第二标记的方式,对卷料标注第二标记。
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公开(公告)号:CN115989407A
公开(公告)日:2023-04-18
申请号:CN202180053420.4
申请日:2021-03-08
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 提供一种能够抑制对存在于剥离膜的表面的缺陷的过度检测并高精度地检测存在于偏光片与光学膜之间的缺陷的光学层叠体的检查方法。本发明包括以下工序:透射检查工序(S1),基于利用透过光学层叠体(S)的光生成的透射图像来检测缺陷候选;正交尼科尔棱镜检查工序(S2),基于利用透过检查用偏振滤光片(6a、6b)和光学层叠体的光生成的正交尼科尔棱镜图像来检测缺陷候选,该检查用偏振滤光片(6a、6b)以相对于偏光片(10)的偏光轴成为正交尼科尔棱镜的方式配置;反射检查工序(S3),基于利用由光学层叠体反射的光生成的反射图像来检测缺陷候选;以及运算工序(S4),将在透射检查工序和正交尼科尔棱镜检查工序这两方中检测出而在反射检查工序中未检测出的缺陷候选判定为是存在于偏光片与光学膜(20)之间的缺陷。
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公开(公告)号:CN101541865A
公开(公告)日:2009-09-23
申请号:CN200880000625.0
申请日:2008-08-01
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: G02B1/14 , B29C59/16 , B29C2035/0838 , B29C2791/009 , C08J5/18 , C08J2333/06 , C08J2345/00 , C08J2365/00 , G02B1/105 , Y10T428/24479
Abstract: 本发明提供一种已实施不会使薄膜断裂的刻痕(knurling)加工的薄膜及其制造方法。本发明中的薄膜的特征在于,利用激光照射,在高分子树脂薄膜的至少任意一面的宽度方向的两端部,实施刻痕加工从而构成。
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