公开(公告)号：CN116504289A

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN202310086667.7

申请日：2023-01-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李硕汉 ,  姜信行 ,  孙敎民

IPC: G11C11/409 ,  G11C11/408 ,  G11C11/406

Abstract: 本公开提供了一种存储器件。该存储器件包括：存储单元阵列，被配置为存储数据；命令解码器，被配置为从外部接收命令以生成第一存储单元控制信号；PIM(存储器中处理器)块，被配置为基于内部存储的指令生成第二存储单元控制信号，并基于第二存储单元控制信号执行内部处理操作，该第二存储单元控制信号包括用于执行内部处理操作的命令；以及操作模式多路复用器，被配置为输出第一存储单元控制信号和第二存储单元控制信号中的任何一个，并将其提供给存储单元阵列。

公开(公告)号：CN116434796A

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN202310012218.8

申请日：2023-01-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜信行 ,  孙教民

IPC: G11C8/14 ,  G11C7/12 ,  G11C7/06

Abstract: 公开了一种存储器装置、一种存储器装置的操作方法和一种存储器模块。该存储器装置包括多个存储体和控制逻辑。控制逻辑接收多个列地址位和多个读命令。控制逻辑包括存储器中处理(PIM)地址生成器。在第一操作模式下，控制逻辑将多个列地址位发送至存储体。在第二操作模式下，当PIM地址生成器接收多个读命令中的第一读命令时，控制逻辑将基于多个列地址位中的除了一些列地址位之外的其余列地址位生成的第一PIM地址发送至存储体。

公开(公告)号：CN116246687A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202211538445.6

申请日：2022-12-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴哉垣 ,  姜信行

IPC: G11C29/12 ,  G11C29/56

Abstract: 提供一种存储器件、存储系统和使用BIST电路执行测试的方法。一种存储系统包括：多个存储器件，在所述多个存储器件中具有各自的存储单元阵列；总线，所述总线电耦接到所述多个存储器件并且由所述多个存储器件共享；以及存储器控制器。电耦接到所述总线的所述存储器控制器包括内置自测试(BIST)电路，所述BIST电路共同连接到所述多个存储器件。所述BIST电路被配置为经由所述总线向所述多个存储器件传送包括测试模式的命令集，并且经由所述总线向所述多个存储器件传送用于驱动所述测试模式的命令触发信号。

公开(公告)号：CN113805790A

公开(公告)日：2021-12-17

申请号：CN202011442348.8

申请日：2020-12-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 鲁有桓 ,  姜信行 ,  朴性旭 ,  徐承右

IPC: G06F3/06 ,  G06N3/063

Abstract: 提供了一种执行存储器内处理的存储器装置。所述存储器装置包括：存储器内操作单元，执行被流水线化为多流水线级的操作的存储器内处理；存储器存储体，被分配给存储器内操作单元，使得由n个存储器存储体形成的组被分配给每个存储器内操作单元，每个存储器存储体在流水线化的操作被执行的同时执行由多个存储器内操作单元中的每个请求的数据的访问操作，其中，n是自然数；存储器裸片，存储器内操作单元、存储器存储体和被配置为从外部源接收命令信号的命令垫布置在存储器裸片中。每个由n个存储器存储体形成的组包括具有到命令垫的第一数据传输距离的第一存储器存储体和具有大于第一数据传输距离的到命令垫的第二数据传输距离的第二存储器存储体。

公开(公告)号：CN111062475A

公开(公告)日：2020-04-24

申请号：CN201910822654.5

申请日：2019-08-30

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴炫宣 ,  李俊行 ,  姜信行

IPC: G06N3/08

Abstract: 一种量化神经网络的参数的方法包括：针对每个参数来计算比特移位值，该比特移位值指示在用于对参数进行量化的定点格式的比特范围之外的程度；基于所计算的参数的比特移位值来更新定点格式；以及根据经更新的定点格式来量化在学习或推断过程中更新的参数。