公开(公告)号：CN103451651B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201210177696.6

申请日：2012-05-31

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 刘勇 ,  劳伦特.克里特格尼 ,  陈晓宾 ,  蔡国双 ,  彭志学 ,  武颖娜 ,  吴勇

IPC: C23C26/02 ,  B23H1/00

CPC classification number: B23H1/02 ,  B23H9/003 ,  B23H9/10 ,  B23K9/04 ,  B23P6/00 ,  B23P17/00 ,  B23P23/00 ,  C23C4/12 ,  C23C4/18 ,  C23C26/00

Abstract: 本发明提供了一种沉积-加工组合方法及系统，该方法包括：在第一操作过程中往基体上沉积粉末材料，以及在第二操作过程中从该基体上去除材料。其中所述第一操作包括：设置电极的操作参数使其可以用来进行材料沉积；往所述电极和基体之间的放电间隙中输送粉末材料；以及在离开基体表面一定距离的情况下沿基体表面移动电极。所述第二操作包括：改变至少一个电极参数，其中包括倒转电极和基体的极性和增大峰值电流中的至少一个；以及通过在离开基体表面一定距离的情况下沿基体表面移动电极来实现从所述基体上去除材料。

公开(公告)号：CN105334216A

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201410255206.9

申请日：2014-06-10

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 宋桂菊 ,  凯文·乔治·哈丁 ,  迪恩·迈克尔·鲁滨孙 ,  罗伦特·克里特葛尼 ,  瓦斯姆·艾不拉黑姆·菲迪 ,  小李察·罗伊·沃辛 ,  贾明 ,  杜晓明 ,  陶立 ,  蔡国双 ,  丽莎·卡姆达·阿曼

IPC: G01N21/88

Abstract: 公开了用于自动部件检查的方法与系统。用于部件检查的方法包括使用目视检查系统确定部件的潜在缺陷并生成缺陷图，该缺陷图包括潜在缺陷和与该潜在缺陷在部件上的潜在位置有关的信息。进一步，该方法包括根据潜在缺陷的严重性来分类缺陷图。分类取决于缺陷图和该部件的在先信息。该方法还包括基于潜在缺陷的第一组特性和分类的缺陷图来开发部件的检查策略。检查策略包括多个检查决策。该方法还包括基于该检查策略为部件进行的检查，生成在该部件上存在的一个或多个缺陷的缺陷信息。

公开(公告)号：CN101642848B

公开(公告)日：2013-08-21

申请号：CN200810144387.2

申请日：2008-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 蔡国双 ,  黄小平 ,  李延民 ,  齐欢 ,  麦格迪·阿泽尔 ,  刘勇 ,  陈晓宾

IPC: B23K26/00 ,  B23K26/34 ,  B23K26/42

Abstract: 本发明涉及一种激光加工系统及方法。该激光加工系统包括激光发生器、喷嘴、光学单元、图像处理单元、过程模型及控制装置。激光发生器用来产生激光于基板上形成熔池。喷嘴可向所述熔池中提供熔覆材料。光学单元可获取加工过程中一个或多个内征参数的图像。图像处理单元可处理所述图像以获得所述内征参数的测量值。过程模型用于设定所述内征参数的目标值，其中至少一个内征参数的目标值是变量。控制装置可基于所述内征参数的测量值和目标值的比较来控制加工过程中的可控参数。

公开(公告)号：CN103088398A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201110337184.7

申请日：2011-10-31

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡登基 ,  徐惠宇 ,  武颖娜 ,  徐文龙 ,  蔡国双 ,  魏斌 ,  L.B.库尔 ,  L.T.拉希 ,  T.E.马特库斯基 ,  M.K.梅耶 ,  彭志学 ,  陈晓宾

IPC: C25F5/00 ,  G05B19/04

Abstract: 本发明涉及一种多通道电化学去金属涂层系统，包括若干通道及控制器，每一通道包括电位调整单元，电性连接一电极部件及一零件，该电极部件与该零件之间可形成回路，该电位调整单元用于调整对应零件的表面电位；一电流侦测单元，用于感应流经对应零件的电流；参比电极部件；及隔离模组。该控制器通过每一通道内的隔离模组电性连接对应通道内的电位调整单元与电流侦测单元。该控制器用于比较每一通道内的零件与参比电极部件之间的电位差，并通过控制电位调整单元对该零件的表面电位进行调整以将该电位差维持在预设的电位范围内。该控制器还用于接收每一通道内的电流侦测单元感应的电流值，并在该电流值位于预设的电流范围内时切断该回路上的电压。