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公开(公告)号：CN104713641B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201510133777.X
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/16
Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。
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公开(公告)号：CN105973570A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610268331.2
申请日：2016-04-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明提出一种微光ICCD分辨力测量装置及测量方法，属于光学测量与计量领域。其特点是，用光源系统、分辨力靶、共轭透镜组、测量暗箱、视频图像采集系统、和计算机构建了分辨力测量装置，共轭透镜组对经光源系统照射的分辨力靶成像，并投射到被测微光ICCD上，被测微光ICCD视频输出线连接至视频图像采集系统，视频图像采集系统采集被测微光ICCD输出的分辨力靶图像并送入计算机，计算机用于显示视频图像采集系统传输的分辨力靶图像。本发明解决了微光ICCD分辨力测量问题，可推广至EMCCD分辨力测量等其它需要建立分辨力测量装置及研究分辨力测量方法的领域，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN113687507B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202110997954.4
申请日：2021-08-27
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于超高真空应用技术领域，涉及一种应用于光学校准装置的超高真空多光路切换机构，包括布儒斯特真空窗口及其安装机构、平板玻璃真空窗口及其安装机构、法兰真空窗口及其安装机构、双面反射镜、抽气接口、光路连接法兰、密封波纹管、真空穿仓平面旋转机构、垂直旋进机构、光路转换真空室抽气接口和光路连接法兰。本发明机构可以通过穿仓平面旋转机构和垂直旋进机构控制双面反射镜的角度和高度，在保证真空光路内超高真空环境不被破坏的前提下，实现激光偏振单色光、可见‑红外单色仪出射的非偏振单色光以及紫外‑真空紫外单色仪出射的非偏振单色光等三个光路的快速切换，大幅提高宽波段光学探测器校准的效率。
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公开(公告)号：CN114136444A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111400751.9
申请日：2021-11-19
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明属于光学计量测试领域，公开了一种基于低温辐射计的宽波段探测器光谱响应度校准装置，包括单色辐射源系统、多光路切换系统、真空比较通道、低温辐射计系统、真空探测器舱、含有传递标准探测器和待测探测器的探测系统、装有测量模块的计算机；单色光源系统输出的单色光通过多光路切换系统进入真空比较通道，分别由低温辐射计、传递标准探测器和待测探测器接收；低温辐射计、传递标准探测器和待测探测器的输出信号送入计算机进行处理，得出传递标准探测器和待测探测器光谱响应度的校准结果。本发明解决了探测器光谱响应度的准确校准问题，其光谱范围为115nm～20μm，具有测量准确度高，光谱范围宽，重复性好，应用前景广的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105973570B
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201610268331.2
申请日：2016-04-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提出种微光ICCD分辨力测量装置及测量方法,属于光学测量与计量领域。其特点是,用光源系统、分辨力靶、共轭透镜组、测量暗箱、视频图像采集系统、和计算机构建了分辨力测量装置,共轭透镜组对经光源系统照射的分辨力靶成像,并投射到被测微光ICCD上,被测微光ICCD视频输出线连接至视频图像采集系统,视频图像采集系统采集被测微光ICCD输出的分辨力靶图像并送入计算机,计算机用于显示视频图像采集系统传输的分辨力靶图像。本发明解决了微光ICCD分辨力测量问题,可推广至EMCCD分辨力测量等其它需要建立分辨力测量装置及研究分辨力测量方法的领域,具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN105973481A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610531988.3
申请日：2016-07-07
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/0246
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹源波长测量装置及方法，属于光学测量与计量技术领域。其特点是，用太赫兹源、太赫兹光谱标定器、太赫兹反射光学系统、太赫兹法珀干涉腔体、太赫兹信号采集探测系统和计算机构建了太赫兹源波长测试装置，实现对(0.3～10)THz波段范围内太赫兹源波长参数的准确测试，解决了目前多种太赫兹源波长参数准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN115389019A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211088327.X
申请日：2022-09-07
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光谱设备技术领域，公开了一种弱光光谱增强器，包括分光器件和阵列式探测芯片，所述的分光器件令不同波长的入射光经过后形成不同的光强分布，分光器件和阵列式探测芯片之间设置有微光像增强器；利用微光像增强器将微弱的可见光区或近红外区的光信号变为较强的可见的光信号，使分光器发射的光谱全部顺次排列在阵列式探测芯片的探测范围内。本发明具有简单简单、成本低、提高全光谱探测灵敏度的优点。
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公开(公告)号：CN115031833A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210481428.7
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测试与计量技术领域，公开了一种制冷式超低弱光光度计，包括外壳体，还包括沿同一水平线依次布置的变焦物镜系统、多视场反射镜驱动系统、准直透镜、衰减片转轮单元、光电倍增管PMT探测器组件、光电倍增管制冷系统，所述多视场反射镜驱动系统和衰减片转轮单元分别与信号处理单元连接；还包括瞄准目镜系统。第一TEC用于光电倍增管阴极端制冷，提高光电转换效率，第二TEC用于光电倍增管管座制冷，为第一TEC制冷提供基础制冷，空气阀用于当滤光片光窗或光电倍增管阴极面所在前舱结霜时，空气阀会因为前舱形成负压自动开启，消除结霜，而后自动关闭。
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公开(公告)号：CN114935446A
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202210482712.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种小型化微光夜视仪分辨力和视场测试系统，其，包括：光源系统、测试靶组、弱光照度计、辐亮度计、成像物镜组件和被测微光夜视仪；光源系统布置在测试靶组前方，为测试靶组提供均匀照明；测试靶组包括分辨力靶和视场靶；弱光照度计和辐亮度计并列排布于测试靶组空位后侧对应位置，用于测量及监测靶面处的辐亮度和照度值；成像物镜组件和被测微光夜视仪依次布置在测试靶组后方，对测试靶组成像并投射于被测微光夜视仪上，测试人员观测分辨力靶或视场靶的图像，给出最终分辨力值或视场值。本发明解决了在现场条件下，工作于可见光波段的夜视仪及近红外波段新型夜视仪分辨力和视场参数的评价问题，具有广阔的应用前景。
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