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公开(公告)号:CN108152013A
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201711452063.0
申请日:2017-12-28
Applicant: 西安应用光学研究所
CPC classification number: G01M11/00 , H04N17/002
Abstract: 本发明提出一种光电系统跟瞄精度测量装置光路调校方法,测量装置主要由光学平台以及安装在其上的激光光源、毛玻璃、小孔光阑、分束镜、平行光管准直镜、高帧频CCD相机等组成。本发明采用平面反射镜、光学自准直仪、五棱镜及经纬仪实现了光电系统跟瞄精度测量装置激光光源、小孔光阑及高帧频CCD相机位置的调校,具有精度高、操作简单、方便和直观的特点,解决了光电系统跟瞄精度测量装置的光路调较难题,不仅为空间激光通信跟瞄技术的发展提供了技术保障,还为空间激光通信系统跟瞄精度测量装置的设计提供了参考依据。
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公开(公告)号:CN108152013B
公开(公告)日:2019-08-16
申请号:CN201711452063.0
申请日:2017-12-28
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提出一种光电系统跟瞄精度测量装置光路调校方法,测量装置主要由光学平台以及安装在其上的激光光源、毛玻璃、小孔光阑、分束镜、平行光管准直镜、高帧频CCD相机等组成。本发明采用平面反射镜、光学自准直仪、五棱镜及经纬仪实现了光电系统跟瞄精度测量装置激光光源、小孔光阑及高帧频CCD相机位置的调校,具有精度高、操作简单、方便和直观的特点,解决了光电系统跟瞄精度测量装置的光路调较难题,不仅为空间激光通信跟瞄技术的发展提供了技术保障,还为空间激光通信系统跟瞄精度测量装置的设计提供了参考依据。
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公开(公告)号:CN105973481A
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201610531988.3
申请日:2016-07-07
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/0246
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹源波长测量装置及方法,属于光学测量与计量技术领域。其特点是,用太赫兹源、太赫兹光谱标定器、太赫兹反射光学系统、太赫兹法珀干涉腔体、太赫兹信号采集探测系统和计算机构建了太赫兹源波长测试装置,实现对(0.3~10)THz波段范围内太赫兹源波长参数的准确测试,解决了目前多种太赫兹源波长参数准确测试的难题,具有广阔的应用前景。
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