测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质

    公开(公告)号:CN114964447B

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202210173749.0

    申请日:2022-02-24

    Inventor: 小林祥宏

    Abstract: 本申请公开了测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。测量方法包括:高通滤波处理工序,对包括基于观测数据的漂移噪声的速度数据进行高通滤波处理,生成使所述漂移噪声降低了的漂移噪声降低数据;位移数据生成工序,对所述漂移噪声降低数据进行积分,生成位移数据;校正数据推定工序,基于所述位移数据,对与从将所述速度数据进行积分而得的数据去除了所述漂移噪声的数据、和所述位移数据之差相当的校正数据进行推定;以及测量数据生成工序,将所述位移数据和所述校正数据相加,生成测量数据。

    测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质

    公开(公告)号:CN116952496A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310445604.6

    申请日:2023-04-23

    Inventor: 小林祥宏

    Abstract: 本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。提供能够通过计算量比较小的处理高精度地算出在结构物移动的移动体的各车辆的重量相关的系数的测量方法。测量方法包括如下工序:根据结构物的观测点的数据算出第一位移数据;生成观测信息;算出移动体的各车辆引起的结构物的挠曲量;算出各车辆相对于结构物的进入时刻及退出时刻;算出通过将进入时刻及退出时刻按时刻顺序重新排列后的多个时刻分割的各时间区间;算出各时间区间的第一位移数据的振幅量;算出各时间区间的挠曲量的振幅量;设定各时间区间的挠曲量的振幅量与相对于各车辆的加权系数之积的和与各时间区间的第一位移数据的振幅量相等,算出加权系数。

    测量方法、测量装置、测量系统及存储介质

    公开(公告)号:CN115541150A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202210741150.2

    申请日:2022-06-28

    Inventor: 小林祥宏

    Abstract: 本发明提供测量方法、测量装置、测量系统及存储介质,提供能够通过计算量比较小的处理来计算移动体在结构物上移动时的静态响应的测量方法,包括:基于结构物的观测点的观测数据,生成第一测定数据的工序;对第一测定数据进行滤波处理,生成第二测定数据的工序;计算结构物的第一挠曲量的工序;对第一挠曲量进行滤波处理,计算第二挠曲量的工序;利用第二挠曲量的一次函数来近似第二测定数据,计算1次系数及0次系数的工序;基于1次系数及0次系数及第二挠曲量,计算第三挠曲量的工序;基于0次系数、第二挠曲量及第三挠曲量,计算偏移量的工序;以及将1次系数和第一挠曲量的积与偏移量相加,计算静态响应的工序。

    重采样电路、物理量传感器单元及惯性计测装置

    公开(公告)号:CN110411412B

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN201910338068.3

    申请日:2019-04-25

    Inventor: 小林祥宏

    Abstract: 本发明涉及重采样电路、物理量传感器单元及惯性计测装置。提供能够对数据非同步地进行重采样并降低在重采样后的数据中产生的周期性噪声的重采样电路。重采样电路将与第一时钟信号同步更新的第一数据转换为与和上述第一时钟信号为非同步的第二时钟信号同步更新的第二数据后输出,基于上述第一数据,将上述第二数据按比上述第一时钟信号和上述第二时钟信号高的频率的第三时钟信号的时间分辨率算出并输出。

    测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质

    公开(公告)号:CN113494950A

    公开(公告)日:2021-10-12

    申请号:CN202110281936.6

    申请日:2021-03-16

    Inventor: 小林祥宏

    Abstract: 本发明提供测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。该测量方法包括:获取包含移动体的各部位通过第一观测点的时刻以及作为针对作用的响应的物理量的第一观测点信息的步骤;获取包含所述各部位通过第二观测点的时刻以及作为针对作用的响应的物理量的第二观测点信息的步骤;算出所述各部位引起的结构物的挠曲波形的步骤;将所述挠曲波形相加而算出移动体挠曲波形,并根据所述移动体挠曲波形算出所述路径的挠曲波形的步骤;对第三观测点的加速度进行二次积分而算出位移波形的步骤;以及根据所述路径的挠曲波形算出对积分误差进行近似的多项式的各系数的值,并根据各系数的值对所述位移波形进行校正的步骤。

    姿势检测装置
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103257251A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201310157967.6

    申请日:2009-11-12

    CPC classification number: G01B21/045 G01C19/56 G01C25/005 G01P21/00 G06F3/012

    Abstract: 本发明提供姿势检测装置,该姿势检测装置包含:相对于以相互垂直的第1轴、第2轴和第3轴为坐标轴的正交坐标系,将所述第1轴作为检测轴的第1传感器、将所述第2轴作为检测轴的第2传感器、和将所述第3轴作为检测轴的第3传感器;存储部,其存储有校正式的校正参数,该校正式将所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的各检测值,校正成所述正交坐标系中的检测值;A/D转换处理部,其进行将所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的各检测值转换成数字信号的处理;以及校正计算处理部,其进行根据所述数字信号和所述校正参数计算所述校正式的处理。

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