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公开(公告)号:CN104109589B
公开(公告)日:2018-09-28
申请号:CN201310567460.8
申请日:2013-11-14
Applicant: 第一毛织株式会社
Abstract: 本发明提供了用于绝缘膜的清洗液以及清洗绝缘膜的方法。公开了包含由以下化学式1表示的溶剂的用于绝缘层的清洗液、以及利用所述清洗液清洗绝缘层的方法。在化学式1中,R1和Ra至Re与在详细描述中所定义的相同。[化学式1]
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公开(公告)号:CN104684968B
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201380049625.0
申请日:2013-07-15
Applicant: 第一毛织株式会社
Inventor: 宋炫知 , 朴银秀 , 林相学 , 郭泽秀 , 金古恩 , 金美英 , 金补宣 , 金奉焕 , 罗隆熙 , 裵镇希 , 徐珍雨 , 尹熙灿 , 李汉松 , 田钟大 , 韩权愚 , 洪承希 , 黄丙奎
CPC classification number: C08G77/54 , C08G77/60 , C08G77/62 , C09D183/02 , C09D183/14 , C09D183/16 , H01B3/02 , H01B3/303 , H01B3/46 , H01L21/02164 , H01L21/02211 , H01L21/02222 , H01L21/02255 , H01L21/0229 , H01L21/02326
Abstract: 本发明揭示改质氢化聚硅氧氮烷、组合物及其制法、绝缘层及其制法。改质氢化聚硅氧氮烷是藉由氢化聚硅氧氮烷和选自聚硅烷、聚环硅烷与硅烷低聚物的硅烷化合物的反应而制备。改质氢化聚硅氧氮烷的氮原子相较于硅原子有较小的摩尔数比,且从而,改质氢化聚硅氧氮烷可应用在用于形成氧化硅为主的绝缘层的组合物中,用以形成氧化硅为主的绝缘层时,可以显著降低膜收缩率。
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公开(公告)号:CN104620326A
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201380044747.0
申请日:2013-08-16
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: C09D1/00 , B05D3/02 , B05D3/0254 , B05D3/0433 , C08G77/62 , C09D183/14 , C09D183/16 , H01B3/02 , H01B3/303 , H01B3/46 , H01L21/02126 , H01L21/02164 , H01L21/02214 , H01L21/02216 , H01L21/02219 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L21/02326 , H01L21/02337
Abstract: 本发明提供一种用于形成氧化硅类绝缘层的组成物,其包括氢化聚硅氮烷或氢化聚硅氧氮烷,且具有浓度为1,200ppm或小于1,200ppm的环状化合物,所述环状化合物的重量平均分子量为400或小于400。所述用于形成氧化硅类绝缘层的组成物可减小氧化硅类绝缘层形成期间的厚度分布,由此减少在半导体制造制程期间的化学机械抛光(CMP)制程之后在层中的缺陷。
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公开(公告)号:CN102569060A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110430768.9
申请日:2011-12-20
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: H01L21/31
CPC classification number: H01L21/02282 , B05D5/00 , B05D5/12 , B32B9/00 , C08G77/54 , C08G77/62 , C08L83/14 , C08L83/16 , C09D183/00 , C09D183/02 , C09D183/08 , C09D183/14 , C09D183/16 , H01L21/02164 , H01L21/02222 , Y10T428/24355
Abstract: 本发明涉及形成硅氧层的组合物及其生产方法、利用其的硅氧层及生产硅氧层的方法。更具体地,本文公开了一种用于形成硅氧层的组合物,其包含选自氢化聚硅氮烷、氢化聚硅氧硅氮烷以及它们的组合中的一种,其中折算为聚苯乙烯时,重均分子量大于或等于约50000的氢化聚硅氮烷和氢化聚硅氧硅氮烷的总和的浓度范围为小于或等于约0.1wt%。当利用根据本发明的包括氢化聚硅氧硅氮烷的用于形成硅氧层的组合物来形成硅氧层时,缺陷显著减少,从而提高硅氧层所需的绝缘特性和间隙填充性能。
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