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公开(公告)号:CN104109589A
公开(公告)日:2014-10-22
申请号:CN201310567460.8
申请日:2013-11-14
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: H01L21/0206 , C08G77/54 , C08G77/62 , C09D183/14 , C09D183/16 , C11D7/266 , C11D7/5022 , C11D11/0047 , H01L21/02087 , H01L21/0209 , H01L21/02164 , H01L21/02214 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L21/02326 , H01L27/1085 , H01L28/40
Abstract: 本发明提供了用于绝缘膜的清洗液以及清洗绝缘膜的方法。公开了包含由以下化学式表示的溶剂的用于绝缘层的清洗液、以及利用所述清洗液清洗绝缘层的方法。在化学式1中,R1和Ra至Re与在详细描述中所定义的相同。
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公开(公告)号:CN103910885A
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201310718120.0
申请日:2013-12-23
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: H01L28/92 , C08G77/00 , C08G77/62 , C09D183/16 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L21/02326
Abstract: 本发明披露了制备间隙填充剂的方法;通过所述方法制备的间隙填充剂;和使用所述间隙填充剂的半导体电容器。制备间隙填充剂的方法包括将卤代硅烷注入碱性溶剂并以约1g/hr至约15g/hr的速度加入基于100重量份卤代硅烷的约50重量份至约70重量份的氨以提供氢化聚硅氮烷。
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公开(公告)号:CN104109589B
公开(公告)日:2018-09-28
申请号:CN201310567460.8
申请日:2013-11-14
Applicant: 第一毛织株式会社
Abstract: 本发明提供了用于绝缘膜的清洗液以及清洗绝缘膜的方法。公开了包含由以下化学式1表示的溶剂的用于绝缘层的清洗液、以及利用所述清洗液清洗绝缘层的方法。在化学式1中,R1和Ra至Re与在详细描述中所定义的相同。[化学式1]
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