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公开(公告)号：CN114823940A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210464494.3
申请日：2022-04-29
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： H01L31/0232 , H01L31/105
摘要： 本发明公开了一种斜入射光纤直接耦合的大横截面光波导探测器，包括InP基底和InP基底上的覆盖层、置于覆盖层上的脊波导和两个地电极，两个地电极水平放置在覆盖层上并关于脊波导对称，脊波导从下到上依次包括波导层、收集层、耗尽层、吸收层和阻挡层，信号电极层位于脊波导的阻挡层上，波导探测器的横截面呈“凸”字型；光倾斜一定角度从波导层端面入射，最后传播到吸收层被吸收产生光电流。本发明改善了一般光波导探测器的光电流分布不均匀的问题，针对不同的波导结构，可以调整不同的入射倾角使其达到光电流均匀分布，采用斜入射式的方法，可以不再受超模匹配严苛条件的限制，调整合适的角度最终达到光电流分布均匀。
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公开(公告)号：CN107341803B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201710610674.7
申请日：2017-07-25
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种基于角点检测的数字图像物体微小移动监测算法，包括以下步骤：S1、通过CCD相机采集被监测区域的图像；S2、对采集到的图像进行预处理；S3、采用背景差分法判断图像是否有位移，若有则执行步骤S4，否则返回步骤S1；S4、对图像进行角点检测；S5、计算相关系数进行角点匹配；S6、累计计算得到位移；S7、判断位移是否超过预设的警戒值，若是则产生预警并结束处理，否则返回步骤S1。本发明利用角点匹配技术在相邻帧图像中进行角点匹配，通过计算匹配角点像素的位移信息，该方法计算位移信息时只计算角点的位移而不对其他像素进行计算，因此计算结果仅受角点移动的影响，从而天然地避免了各种干扰物体移动的影响，使得检测稳定而可靠。
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公开(公告)号：CN106080661A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610367898.5
申请日：2016-05-27
申请人： 电子科技大学
CPC分类号： B61K9/10 , B61L23/045 , G01B11/24
摘要： 本发明公开一种火车导轨轮廓波浪磨耗测量方法，通过编码器能够判断车轮走过的短小距离，经过图像处理的一系列算法提取到钢轨轮廓主曲线，然后平移至标准曲线，通过直观对比可计算出磨耗值，不需要经过复杂的运算；并且本发明的方法还能够将每一点的具体图像呈现出来，让用户可以直观明了的看到钢轨磨损情况。系统每隔1mm‐5mm这样短的距离计算磨耗值，可以更加精确的测出这一段波浪磨耗的波长。
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公开(公告)号：CN105865369A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610343470.7
申请日：2016-05-23
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01B11/2441
摘要： 本发明公开了一种基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法；其包括半导体激光器、透镜、平行平板组、CCD相机及数据处理单元。本发明采用非平行的相关光源，通过透镜和平行平板组组成的光学系统向待测量物体投影大面积干涉条纹，并由CCD相机接收经待测量物体所调制的畸变干涉条纹阵列图像，再利用数据处理单元进行图像处理，重建待测量物体表面三维轮廓，实现对待测量物体光学轮廓测量，具有快速、非接触、高精度、大面积的特点，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN105842786A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610357339.6
申请日：2016-05-25
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G02B6/125
CPC分类号： G02B6/125 , G02B2006/12111
摘要： 本发明公开了一种双端输入大功率高速方向耦合光波导探测系统；其包括Y型光纤、两个光纤放大器及方向耦合光波导探测器。本发明采用双端输入方式在方向耦合光波导探测器两端同时输入相同的入射光，使得光电流分布更加均匀，明显的提高了光波导探测器的光电流，从而极大的提高了方向耦合光波导探测器的输出功率。
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公开(公告)号：CN105783776A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610259777.9
申请日：2016-04-25
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01B11/2441
摘要： 本发明公开了一种基于双波面干涉条纹阵列的表面形貌测量装置及方法，基于剪切干涉的自参考干涉原理，建立具有完全共光路、简单、紧密、稳定可靠的结构，实现方便稳定共路的剪切；同时建立包括图像采集、图像处理、测量结果显示三部分在内的软件系统，使得整个测量系统在操作者和计算机的协调控制下进行表面形貌精密测量。本发明能实现精密加工表面形状在线测量，为表面质量在线监测和进一步的适应性表面质量控制创造了条件，对微电子加工、MEMS、光电子信息技术、航空航天技术和其它高技术领域发展和应用中的高精密表面加工具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105206686A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510543910.9
申请日：2015-08-31
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： H01L31/0232 , H01L31/0224
摘要： 本发明公开了一种消除寄生电容的光波导探测器，还包括波导层二、绝缘层二和n电极，波导层二为中间镂空的矩形体，波导层二的一边与波导层一和绝缘层一接触，绝缘层二为中间镂空的矩形体，绝缘层二的底部与波导层二接触，绝缘层二的四壁与波导层二的内壁接触，n电极放置在绝缘层二的中心，底部与波导层二接触。本发明的有益效果：将n电极移动到后部平台后，n电极与衬底之间不再接触，同时衬底也不需要重掺杂来提高导电性能，从而p电极与衬底之间不再产生寄生电容，使得总电容降低，从而提高光波导探测器的响应带宽。
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公开(公告)号：CN104236479A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410487499.3
申请日：2014-09-22
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种线结构光三维测量系统及3D纹理图像构造算法，该系统包括CCD摄像机、二维移位固定支架、线激光器和二维调整平台；所述CCD摄像机固定于所述二维移位固定支架的一端，所述线激光器固定于所述二维移位固定支架的另一端；所述二维调整平台设置于所述二维移位固定支架上，用于放置被测物。基于该系统的3D纹理图像构造算法，以一种新的颜色纹理映射方法来构建由真实图像轮廓线构成的不失真三维轮廓曲面，其核心思想是：通过颜色纹理映射使无任何色彩的二值化的轮廓线具有色彩信息(或灰度信息)。本发明能够重建出具有真实表面纹理的三维纹理模型。
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公开(公告)号：CN107341803A
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201710610674.7
申请日：2017-07-25
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种基于角点检测的数字图像物体微小移动监测算法，包括以下步骤：S1、通过CCD相机采集被监测区域的图像；S2、对采集到的图像进行预处理；S3、采用背景差分法判断图像是否有位移，若有则执行步骤S4，否则返回步骤S1；S4、对图像进行角点检测；S5、计算相关系数进行角点匹配；S6、累计计算得到位移；S7、判断位移是否超过预设的警戒值，若是则产生预警并结束处理，否则返回步骤S1。本发明利用角点匹配技术在相邻帧图像中进行角点匹配，通过计算匹配角点像素的位移信息，该方法计算位移信息时只计算角点的位移而不对其他像素进行计算，因此计算结果仅受角点移动的影响，从而天然地避免了各种干扰物体移动的影响，使得检测稳定而可靠。
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