保持方法以及保持装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114628284A

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202111489668.3

    申请日:2021-12-08

    Abstract: 保持方法实施:从保持对象物(WK)的一个面(WK1)侧利用支承面(12A)支承该保持对象物(WK)的支承工序;在支承工序的前阶段或者后阶段向支承面(12A)供给流体(WT)的流体供给工序;以及固化工序,实施使流体(WT)固化的固化处理而使该流体(WT)固化,并利用支承面(12A)保持保持对象物(WK),在固化工序中,从隔着流体(WT)支承于支承面(12A)的保持对象物(WK)侧对该流体(WT)实施固化处理。

    定位方法和定位装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113410173A

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202110281171.6

    申请日:2021-03-16

    Abstract: 提供一种定位方法和定位装置,该定位方法利用液体的表面张力将片状体(CP)定位于规定的位置,在该定位方法中,实施以下工序:支承工序,通过支承面(12A)的亲水部(12F)来支承片状体(CP),其中,在支承面(12A)设有具有亲水性的亲水部(12F);液体供给工序,向亲水部(12F)供给液体;液体回收工序,从亲水部(12F)回收液体。

    扩片方法以及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN113366080A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202080011754.0

    申请日:2020-01-29

    Abstract: 本发明提供一种扩片方法,该方法包括:使贴合有多个半导体装置(CP)的第1片(10)伸展,以扩大多个半导体装置(CP)的间隔的工序,多个半导体装置(CP)分别具有第1半导体装置面(W1)、和第1半导体装置面(W1)的相反侧的第2半导体装置面(W3),多个半导体装置(CP)分别是在第2半导体装置面(W3)与上述第1片(10)之间包含着保护层(100)而贴合的。

    扩片方法及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN113366079A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202080011743.2

    申请日:2020-01-29

    Abstract: 本发明提供一种扩片方法,该方法包括:在具有第1晶片面和第2晶片面的晶片的第2晶片面粘贴具有第1粘合剂层(12)和第1基材(11)的第1粘合片(10),切入了深度50μm的切痕的第1基材(11)的拉伸伸长率为300%以上,从第1晶片面侧切入切痕,将晶片单片化为多个芯片(CP),进一步将第1粘合片(10)的第1粘合剂层(12)切断,使第1粘合片(10)伸展,从而扩大多个芯片的间隔(CP)。

    固化密封体的制造方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112262459A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN201980038938.3

    申请日:2019-05-22

    Abstract: 本发明涉及一种固化密封体的制造方法,其是使用粘合片而制造固化密封体的方法,所述粘合片具有基材(Y)、第1粘合剂层(X1)及第2粘合剂层(X2),所述基材(Y)具备包含膨胀性粒子的膨胀性基材层(Y1)及非膨胀性基材层(Y2),该固化密封体的制造方法包括下述工序(1)~(3),·工序(1):将第1粘合剂层(X1)的粘合表面粘贴于硬质支撑体、在第2粘合剂层(X2)的粘合表面的一部分载置密封对象物的工序;·工序(2):将所述密封对象物和第2粘合剂层(X2)的粘合表面用密封材料包覆,使该密封材料进行固化,从而得到固化密封体的工序;·工序(3):使所述膨胀性粒子膨胀,在所述硬质支撑体和第1粘合剂层(X1)的界面P进行分离的工序。

    分离装置以及分离方法
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108933085A

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201810533974.4

    申请日:2018-05-29

    CPC classification number: H01L21/30 H01L21/67092

    Abstract: 一种分离装置,对粘接片(AS)上的板状部件(WF)施加四个方向的张力而扩大由板状部件(WF)形成的多个片状体(CP)的间隔。分离装置(10)具备:多个保持机构(20),其由多个保持部件(21)保持粘接片(AS);伸长机构(30A、30B),其使保持部件(21)向四个方向中针对每个保持机构(20)而不同的一个方向移动,并且使该保持部件(21)向该一个方向的交叉方向移动而使粘接片(AS)伸长;控制机构(40),其对保持部件(21)基于伸长机构(30A,30B)的移动进行控制;控制机构(40)根据片状体(CP)的尺寸和间隔的目标值来计算粘接片(AS)的伸长量的目标值,使保持部件(21)在伸长机构(30A、30B)上移动,以使粘接片(AS)的伸长量成为其目标值。

    粘合片
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114514296B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202080070084.X

    申请日:2020-05-22

    Abstract: 本发明提供一种粘合片(1),其具有基材(10)和粘合剂层(20),所述粘合片的拉伸强度FA1和拉伸强度FB1满足下述数学式1A的关系,所述拉伸强度FA1为:由所述粘合片制作宽度25mm的第一试验片,用夹具(101,102)夹持着第一试验片的长度方向的两端并利用拉伸试验机进行0.5mm拉伸时的拉伸强度;所述拉伸强度FB1为:将纵向尺寸为45mm、横向尺寸为35mm、厚度尺寸为0.625mm的第一半导体芯片(CP1)及第二半导体芯片(CP2)中的第一半导体芯片(CP1)贴合于第一试验片的长度方向上一端侧、将第二半导体芯片(CP2)贴合于该长度方向上另一端侧而制作第二试验片,用夹具(101,102)夹持着第二试验片的长度方向的两端并利用拉伸试验机进行0.5mm拉伸时的拉伸强度。FB1/FA1≤30…(数学式1A)。

    半导体装置的制造方法
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111295739B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN201880070770.X

    申请日:2018-11-07

    Abstract: 本发明涉及一种半导体装置的制造方法,该方法依次具有下述工序(1)~(3),且在工序(3)之后使粘合片(A)的膨胀性粒子膨胀而将粘合片(A)从被粘附物分离。工序(1):将具有基材(Y2)及粘合剂层(X2)的粘合片(B)拉伸而扩大载置于粘合片(B)的粘合剂层(X2)上的多个芯片彼此间的间隔的工序;工序(2):将粘合片(A)的粘合剂层(X1)粘贴于所述多个芯片的与和粘合剂层(X2)相接触的面相反侧的面的工序;工序(3):将粘贴于粘合片(A)的所述多个芯片与粘合片(B)分离的工序。

Patent Agency Ranking