公开(公告)号：CN110260784A

公开(公告)日：2019-09-20

申请号：CN201811516896.3

申请日：2018-12-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 奥田贵启 ,  丸川真理子 ,  森野久康

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种进一步提高了测量对象物的位置的检测精度的光学测量装置。本发明的光学测量装置包括：光源(10)，输出多个波长的光；传感头(100)，包括将经由包含多个纤芯的导光部(50)所入射的光转换成平行光的转换透镜(110)、及将产生了色差的光照射于测量对象物(200)的物镜(130)；以及分光器(30)，经由导光部(50)而获取经测量对象物(200)反射并由传感头(100)聚光的反射光，测量反射光的光谱；且传感头(100)中，以抑制从导光部(50)所含的多个纤芯(202)中的一个纤芯出射的光作为反射光而入射至一个纤芯以外的纤芯的方式，在转换透镜(110)与物镜(130)之间配置有遮蔽光的遮蔽物(S)。

公开(公告)号：CN118355306A

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202280080192.4

申请日：2022-11-18

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  驹井和齐 ,  谷沢元春

IPC: G02B7/02 ,  G01C3/06 ,  G02B7/32 ,  G03B13/36 ,  H04N23/50 ,  H04N23/56

Abstract: 透镜支承构造体具备透镜、保持透镜的框体以及支承框体的基座部件，框体具有向不与所保持的透镜的光轴平行的方向延伸的一对臂部以及从臂部的末端向基座部件侧突出设置的突出部，基座部件具有平坦部以及从平坦部向突出部侧隆起且在上表面部设置有贮存粘接剂的凹陷部的隆起部，通过框体的突出部的末端部插入隆起部的凹陷部并被粘接剂包围，框体被基座部件支承。根据这样的透镜支承构造体，能够使粘接剂的涂布平衡稳定，并且针对来自外部的振动、冲击也能够抑制光轴的偏移。

公开(公告)号：CN110672034B

公开(公告)日：2021-08-10

申请号：CN201910999860.3

申请日：2017-01-17

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  的场贤一 ,  菅孝博

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部以及传感器头部光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，基于该比较结果，判断是否正常测定到所述测量对象的所述距离。

公开(公告)号：CN112654832A

公开(公告)日：2021-04-13

申请号：CN201980057877.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  高嶋润

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种测定范围更大的共焦传感器。共焦传感器1包括：光源10，射出多个波长的光；衍射透镜130，相对于光沿光轴方向产生色像差，不经由其他透镜使光聚集于对象物200；针孔120，使光之中、在对象物200上聚焦而反射且经衍射透镜130聚集的反射光通过；测定部40，基于反射光的波长，测定自衍射透镜130至对象物200为止的距离；并且，自针孔120至衍射透镜130为止的距离L2为可变。

公开(公告)号：CN109596045B

公开(公告)日：2021-02-12

申请号：CN201811055176.1

申请日：2018-09-11

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  髙嶋润 ,  奥田贵启 ,  的场贤一 ,  滝政宏章

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供一种测量对象物的位置的检测精度经提高的共焦测量装置。共焦测量装置具备：输出白色光的光源、光耦合器、将产生了色差的光照射到测量对象物的传感头、以及取得经测量对象物反射的反射光并测量反射光的光谱的分光器，光耦合器为使从第一光纤向第二光纤传输光时的第一传输波形、与从第二光纤向第三光纤传输光时的第二传输波形接近的滤波器型耦合器或空间光学系统型耦合器。

公开(公告)号：CN107228635A

公开(公告)日：2017-10-03

申请号：CN201710034921.3

申请日：2017-01-17

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  的场贤一 ,  菅孝博

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源(10)发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部(30)接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部(40)以及传感器头部(30)光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部(40)中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部(50)将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，当多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。

公开(公告)号：CN308854838S

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202330509579.4

申请日：2023-08-10

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 森野久康 ,  驹井和齐 ,  谷沢元春 ,  名田平太 ,  川渊吹野 ,  小田裕介

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：位移传感器检测头的工作显示部。
2.本外观设计产品的用途：整体产品的用途为用于测量对象物的高度或厚度等；请求保护的局部的用途为用于发光显示本产品的工作状态。
3.本外观设计产品的设计要点：在于请求保护的局部的形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.其他需要说明的情形其他说明：点划线表示要求保护的局部与其他部分之间的分界线。