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公开(公告)号：CN115808669A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202210946006.2
申请日：2022-08-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明公开了即便在计测对象物包含粗糙面及镜面的情况下也能适当地测距的光干涉测距传感器。光干涉测距传感器具备：波长扫描光源；干涉仪，包括使从波长扫描光源投射的光分支的分支部，针对该分支出的各个光，基于照射于计测对象物并由计测对象物反射的测定光和沿着与该测定光至少一部分不同的光路的参照光而产生各干涉光；受光部，接受各干涉光；处理部，根据镜面模式或粗糙面模式，使检测出的峰值与斑点相对应而计算出至计测对象物为止的距离，针对被分支出的各个光，设定为光路长度差不同，在镜面模式的情况下，处理部将基于与光路长度差为最短的斑点对应的峰值而计算出的距离作为至计测对象物为止的测距结果。
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公开(公告)号：CN111684244A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201980011576.9
申请日：2019-03-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种在利用了使用光学滤波片的分光方式的波长检测装置中，能够在将作为测定对象的波长范围维持得宽的同时提高波长检测精度的技术。波长检测装置(10)包括：多个光学滤波片(12a、12b)；分割部件(11)，将光分割后使其通过多个光学滤波片(12a、12b)；多个受光元件(13a、13b)，对多个光学滤波片中的各者中通过的光的强度进行检测；运算部(16)，根据多个受光元件的输出，导出与多个光学滤波片的透过率相关的物理量，并且基于多个光学滤波片的与透过率相关的物理量跟光的波长的关系即透过率特性，导出通过多个光学滤波片的光的波长，所述波长检测装置(10)中，多个光学滤波片中的各者的透过率特性在作为测定对象的波长范围中的不同波长范围内具有倾斜部分。
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公开(公告)号：CN110892191A
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201880030543.4
申请日：2018-02-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 光源装置(10)具有照射激光的光源部(11)、聚光透镜(12)和透光性荧光体(13)。聚光透镜(12)会聚从光源部(11)照射的激光。透光性荧光体(13)在内部设置有由聚光透镜(12)会聚的激光的聚光点，在激光透过的部分处发出荧光。
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公开(公告)号：CN107925433A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201780002785.8
申请日：2017-02-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H04B1/59 , G06K19/073 , G06K19/077
Abstract: 本发明防止包含附带有线通信端口的RFID模块的电子设备的误动作。电子设备包括：RFID模块(10)，包含天线(AN)、控制电路(3)、连接于所述控制电路的存储器(6)及有线通信端口(4)；处理器(23)，经由所述有线通信端口而与RFID模块连接；以及开关(SW)，电性连接或阻断所述天线及所述控制电路。
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公开(公告)号：CN107063127A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201611059428.9
申请日：2016-11-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/245 , G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/28
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，通过提高光的利用效率，能够实现更高采样率。光学测量装置具有：光源，其产生具有多个波长成分的照射光；光学系统，其对来自光源的照射光产生轴向色差，并且接收来自至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象物的反射光；分光器，其将在光学系统接收的反射光分离为各个波长成分的光；检测器，其中与分光器的分光方向对应地一维配置有多个受光元件。导光部和受光部构成为，在从光学系统向多个纤芯所包含的第一纤芯提供第一波长的第一光时，多个受光元件中入射该第一光的受光元件，与从光学系统向多个纤芯所包含的第二纤芯提供第一波长的第二光时，多个受光元件中入射该第二光的受光元件的至少一部分共用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116736313A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310159937.2
申请日：2023-02-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明公开了光干涉测距传感器，在预先将一定程度弱的干涉光排除的基础上进行测距的光干涉测距传感器中，提高相对于测量对象物的倾斜校正的精度。本发明一方式涉及的光干涉测距传感器具备的处理部具备：转换部，将第一电信号转换为表示干涉仪至测量对象物的距离的第一距离值；倾斜值计算部，根据第一距离值计算倾斜值；第一距离值校正部，根据倾斜值对第一距离值进行校正；第二距离值计算部，根据通过第一距离值校正部校正后的第一距离值计算表示光干涉测距传感器至测量对象物的距离的第二距离值，当检测到第一电信号的次数小于第二阈值时，第一距离值校正部将第一距离值根据存储部中顺序比与该第一距离值相对应的倾斜值更靠前的倾斜值进行校正。
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公开(公告)号：CN115808694A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211035321.6
申请日：2022-08-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 一种光干涉测距传感器，能够排除对计测对象物的计测产生影响的噪声，并能够高精度地测距。光干涉测距传感器具备波长扫描光源、光耦合器、干涉仪、受光部、处理部，并且具备反射点，该反射点使从波长扫描光源投射而输入至光耦合器的第1端口的光中的被分支至光耦合器的第4端口的光反射。此时，在从光耦合器的第3端口至参照面为止的光路长度为L1、从光耦合器的第4端口至反射点为止的光路长度为L2、从参照面至对计测对象物照射测定光的传感器头的前端为止的光路长度为LH以及计测对象物的计测范围为R的情况下，满足L1‑L2＞(LH+R)＊2或者L1‑L2＜LH＊2。
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公开(公告)号：CN110892191B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN201880030543.4
申请日：2018-02-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: F21V7/04 , G01B11/06 , G02B19/00 , G01C15/00 , F21V9/35 , G01B11/02 , F21V5/04 , G01N21/64 , F21V9/30 , G01S7/481 , G01S7/484 , G01S17/08
Abstract: 光源装置(10)具有照射激光的光源部(11)、聚光透镜(12)和透光性荧光体(13)。聚光透镜(12)会聚从光源部(11)照射的激光。透光性荧光体(13)在内部设置有由聚光透镜(12)会聚的激光的聚光点，在激光透过的部分处发出荧光。
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公开(公告)号：CN113390333A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110178051.3
申请日：2021-02-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B9/02
Abstract: 一种光干涉测量装置，在不导致装置大型化的情况下以低成本提供引导光照射功能。光干涉测量装置具备：第1光源，其输出具有红外区域的波长的测量光；第2光源，其输出具有可见区域的波长的引导光；光纤耦合器，其至少具有输入上述测量光的第1端口、输入上述引导光的第2端口以及输出上述测量光和上述引导光耦合得到的耦合光的第3端口；测量部，其向测量对象照射上述耦合光，接收由上述测量对象反射的返回光；以及处理部，其根据上述返回光和参照光的干涉信号，计算与上述测量对象的距离、速度或振动有关的信息。上述光纤耦合器由截止波长比上述测量光的波长短且比上述引导光的波长长的单模光纤构成。
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公开(公告)号：CN110440686B
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201910267790.2
申请日：2019-04-03
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供即使探头发生位置偏移也能够高精度地测量被测量对象的三维形状的技术。设定曝光时间(步骤11)，多次进行探头的位置测量(步骤12)。计算多个形态的平均次数的位置测量误差(步骤13)。计算测量时间与所计算出的定位误差的对应表(步骤14)。使用所准备的测量时间与手抖误差的对应表，计算设定曝光时间与测量时间(手抖误差+定位误差)的对应表(步骤15)。针对作为设定候补的所有曝光时间来重复步骤11～15，计算测量时间与位置测量误差的对应表(步骤16)。设定可使位置测量误差最小的曝光时间和平均次数(步骤17)。
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