测定装置
    14.
    发明公开
    测定装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118613744A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202280089183.1

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 测定装置(1)具备:发光部(10),其能够向高度不同的多个测定范围(1~5)分别照射光;曝光部(20),其具有与高度不同的各个所述测定范围(1~5)对应的多个曝光范围(1~5),通过设于各个所述曝光范围(1~5)的多个受光元件(PD)对来自所述测定范围的反射光进行曝光;距离算出部(38),其基于所述曝光部(20)的曝光结果,算出所述测定范围中的到对象物的距离(L)。

    测量装置
    15.
    发明公开
    测量装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118575098A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202280089407.9

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 测量装置(1)具备传感器、信号获取部以及校正部(35),所述传感器具有:受光元件(PD),产生与曝光量对应的电荷;以及多个蓄积部(CS1~CS4),蓄积根据曝光期间而分配的电荷,所述信号获取部分别获取与多个蓄积部(CS1~CS4)的电荷对应的信号值(S1~S4),所述校正部(35)从多个信号值(S1~S4)中确定表示曝光量最小的最小信号值(Smin),基于最小信号值(Smin),校正信号值(S1~S4)。

Patent Agency Ranking