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公开(公告)号：CN1545701A
公开(公告)日：2004-11-10
申请号：CN02816256.0
申请日：2002-07-18
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/24082 , G11B7/263 , G11B2005/0005
Abstract: 一种具有沿记录光道形成的凹槽(2)、用于在辐照特定波长λ的光L时进行记录和/或再现的光记录与再现介质，其中凹槽(2)的光道间距p最小为200nm，最大为350nm，而凹槽(2)的宽度Wg与光道间距p的比值Wg/p最小为0.24，最大为0.67。
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公开(公告)号：CN101640048A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200910159686.8
申请日：2009-07-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/266 , G11B7/24038 , G11B7/265
Abstract: 本发明提供一种光盘记录介质和制造光盘的方法。该光盘记录介质包括：盘基片；至少一个记录层，设置在盘基片的一个表面侧上；覆盖层，设置在记录层的激光入射表面侧上并由透光树脂层构成；以及硬涂层，设置在覆盖层的激光入射表面侧上，用于表面保护，并且由透光树脂层构成，其中，覆盖层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分减小，硬涂层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分增加，并且，覆盖层和硬涂层的总厚度从盘的中央部分到周边部分是基本均匀的。
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公开(公告)号：CN100533564C
公开(公告)日：2009-08-26
申请号：CN200510128771.X
申请日：2002-07-18
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/24082 , G11B7/263 , G11B2005/0005
Abstract: 一种具有沿记录光道形成的凹槽(2)、用于在辐照特定波长λ的光L时进行记录和/或再现的光记录与再现介质，其中凹槽(2)的光道间距p最小为200nm，最大为350nm，而凹槽(2)的宽度Wg与光道间距p的比值Wg/p最小为0.24，最大为0.67。
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公开(公告)号：CN1267915C
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN02802462.1
申请日：2002-06-26
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/24082 , G11B7/261
Abstract: 光学记录还原介质具有沿着记录轨道形成的凹槽(2)，并且通过照射具有预定波长λ的光可以对光学记录还原介质进行记录和/或还原。当假定n表示从光入射端面延伸到光学记录还原介质的凹槽(2)的介质的折射系数时，凹槽(2)的相位深度x满足以下不等式：λ/16.14n≤x≤λ/4.99n并且所述凹槽(2)的宽度w和轨道间距p之间的比值w/p满足以下不等式：0.391≤(w/p)≤0.594其中所述轨道间距大于300nm并且小于325nm。
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公开(公告)号：CN1465054A
公开(公告)日：2003-12-31
申请号：CN02802462.1
申请日：2002-06-26
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/24082 , G11B7/261
Abstract: 光学记录还原介质具有沿着记录轨道形成的凹槽(2)，并且通过照射具有预定波长λ的光可以对光学记录还原介质进行记录和/或还原。当假定n表示从光入射端面延伸到光学记录还原介质的凹槽(2)的介质的折射系数时，凹槽(2)的相位深度x满足以下不等式：λ/16.14n≤x≤λ/4.99n并且所述凹槽(2)的宽度w和轨道间距p之间的比值w/p满足以下不等式：0.391≤(w/p)≤0.594。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1971731B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200610171919.2
申请日：2006-10-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00688 , G11B7/0053 , G11B7/259 , G11B20/00086 , G11B20/00115 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2220/218 , G11B2220/2541 , Y10T428/21
Abstract: 一种光记录介质，包括衬底上的至少反射膜和覆盖层；组合凹坑和凸台的主数据被记录在衬底上；在所述反射膜上经过照射激光使一次写入记录成为可能；对于反射膜，通过由照射激光形成的标记记录子数据，用于一次写入记录；对于规定长度的凸台，再现信号电平在形成所述标记的部分上升；为通过物理复制制造的光盘记录介质形成标记，其中利用所述标记，再现电平在形成标记的部分下降；反射膜由Ag-合金膜Ag100-xXx(0＜x＜100)组成；而且X是从Ti，W，Ta，V，Mo，Nb和Zr中选出来的。
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公开(公告)号：CN101567199A
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200910134490.3
申请日：2009-04-21
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/26
Abstract: 本发明公开了光盘制造方法、原盘制造方法和光盘，其中，该光盘制造方法包括以下步骤：通过在基板上形成具有记录激光波长的17％以下的厚度的蓄热层并形成无机抗蚀层来制造预曝光原盘；通过执行记录激光照射，对原盘的无机抗蚀层执行具有凹坑和间隙的记录信号图样的曝光；通过在曝光之后执行显影处理来制造具有含凹坑和间隙的凹坑阵列形状的原盘；通过使用具有凹坑阵列形状的原盘来制造被转印凹坑阵列形状的压模；以及制造具有预定层结构的光盘，预定层结构包括被转印压模的凹坑阵列形状并在凹坑阵列形状上形成银或银合金反射膜的记录层。通过本发明，提高了高记录密度光盘的生产率。
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公开(公告)号：CN101467210A
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200780022013.7
申请日：2007-06-15
CPC classification number: G11B7/259 , G11B7/00736 , Y10T428/21
Abstract: 本发明可以确定通过物理转写在光学记录介质的基板上形成的凹坑和平面的形状而制备的盗版光盘记录介质。所述光学记录介质具有卓越的耐候性和长期存储可靠性。在通过凹坑和平面的组合记录了主数据的基板上形成由Ag100－x－yXxCuy的Ag合金膜所形成的反射膜，其中，X为Ti、W、Ta、V、Mo、Nb及Zr中的至少一种元素。可以形成标记，使得在所述反射膜上一次写入的记录辅助数据的记录标记的再生信号电平升高，并且在通过物理转写所述基板的凹坑和平面的表面形状而制备的光学记录介质的再生信号电平降低。以这种方式可以确定盗版光学记录介质。
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公开(公告)号：CN101371303A
公开(公告)日：2009-02-18
申请号：CN200780002828.9
申请日：2007-11-08
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/00451 , G11B7/263 , G11B7/268
Abstract: 在使用压模大量制造光盘基片的阶段，在形成为由凹坑/岸台记录的一系列数据的记录轨道内，没有形成凹坑/岸台的一区域预先形成为附加信息记录区域。金属合金反射膜涂覆在包括这种附加信息记录区域(10)的信息记录表面上。此后，附加信息记录区域(10)中的金属合金反射膜的部分区域被除去或减少，以形成凹坑空位标记(6)，由此记录附加信息。该附加信息记录在信息记录区中的记录轨道的部分区域上，在所述信息记录区中，信息被记录为由凹坑/岸台形成的一系列数据并且包括内容区和控制区比如导入区。凹坑空位标记(6)形成为标记，当被再现时可以从该标记获得类似于凹坑的逻辑值。
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公开(公告)号：CN101151664A
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200680010741.1
申请日：2006-02-07
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B20/00086 , G11B7/24085 , G11B20/00094 , G11B20/00173 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/10 , G11B2020/1453
Abstract: 通过凹坑和平台的组合将主数据记录在光盘(100)的衬底(101)的一侧上。对反射薄膜(102)和涂覆层(103)分层以覆盖在衬底上形成凹坑和平台的表面。通过以记录功率将激光束照射到反射膜形成的标记来记录副数据。在根据合法光盘(其中在具有标记的部分处的再现信号电平增加)制造的伪造盘中，执行标记记录，从而在具有标记的部分处的再现信号电平降低，并且在具有标记的部分处的再现信号的极性在合法盘与伪造盘之间是不同的。而且，通过再现装置检测光盘上记录的副数据，并且判断所检测的副数据具有用合法极性再现的值，从而判断该盘是合法盘还是伪造盘。
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