双X射线能谱采集装置及在线检测设备

    公开(公告)号:CN119492764A

    公开(公告)日:2025-02-21

    申请号:CN202411864516.0

    申请日:2024-12-17

    Abstract: 本发明公开一种双X射线能谱采集装置及在线检测设备,双X射线能谱采集装置包括第一能谱采集模块和第二能谱采集模块;第一能谱采集模块包括低原子序数靶材X射线发射器和第一能谱探测器,低原子序数靶材X射线发射器发出的第一X射线照射待检测样品,以产生第一特征X射线,第一特征X射线被第一能谱探测器接收以获取第一能谱信号;第二能谱采集模块包括高原子序数靶材X射线发射器和第二能谱探测器,高原子序数靶材X射线发射器发出的第二X射线照射待检测样品,以产生第二特征X射线,第二特征X射线被第二能谱探测器接收以获取第二能谱信号。上述方案能够解决在线检测设备的检测精度较差的问题。

    滤光微纳结构和滤波器阵列
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119148275A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202310706024.8

    申请日:2023-06-14

    Abstract: 本申请公开一种滤光微纳结构和滤波器阵列,涉及低照度彩色成像技术领域。其中滤光微纳结构包括:第一微纳调制层,用于设置于滤波器的透明基底,且第一微纳调制层的材质为透明材料和光损耗材料中的一者;第二微纳调制层,设置于第一微纳调制层的背离透明基底的一侧,第二微纳调制层的材质为透明材料和光损耗材料中的另一者;透明保护层,包覆第一微纳调制层和第二微纳调制层,并与透明基底连接;其中,透明材料的折射率高于透明基底和透明保护层的材料的折射率。本申请可在小尺寸像元下用于彩色成像的宽带滤波,同时提高入射光的透过率,从而实现低照度下的彩色成像功能。

    煤样检测系统及煤样检测方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118190798A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202211559159.8

    申请日:2022-12-06

    Abstract: 本申请提供一种煤样检测系统及煤样检测方法。载样平台处于第一位置时,样品检测部位于能谱采集装置的检测范围内,且光谱标定部位于光谱采集装置的检测范围内,能谱采集装置向放置于样品检测部或位于样品检测部正下方的煤样发射初级X射线,获取煤样受初级X射线激发产生的次级X射线荧光的能谱,为煤样能谱;光谱采集装置向光谱标定物发射近红外光,获取光谱标定物反射的近红外光的光谱,为标定光谱;载样平台处于第二位置时,样品检测部位于光谱采集装置的检测范围内,光谱采集装置向煤样发射近红外光,获取煤样反射的近红外光的光谱,为煤样光谱。光谱采集装置和能谱采集装置可同时工作,提高检测效率。

    一种光谱反射率检测方法及系统

    公开(公告)号:CN113358224B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN202110660535.1

    申请日:2021-06-15

    Abstract: 本申请提供一种光谱反射率检测方法及系统,该光谱反射率检测系统包括环境光感知模块、目标光谱采集模块和数据处理模块。环境光感知模块采集目标检测时刻的检测环境光光谱,将检测环境光光谱发送给数据处理模块;目标光谱采集模块采集目标检测时刻的检测目标光谱,将检测目标光谱发送给数据处理模块;数据处理模块确定同一目标波长对应的检测环境光光谱和检测目标光谱,基于该检测环境光光谱和已确定的映射参数确定检测参考光谱,该检测参考光谱是第二环境光的光谱;基于该检测目标光谱和该检测参考光谱确定待测物体的光谱反射率;映射参数表示参考光谱与环境光光谱的映射关系。通过本申请的技术方案,能够准确计算待测物体的光谱反射率。

    物品取放检测系统、方法及装置

    公开(公告)号:CN112052701B

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN201910492987.6

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本申请公开了一种物品取放检测系统、方法及装置。物品取放检测系统,包括:物品取放柜、图像采集单元及取放检测单元;物品取放柜的出入口边缘具有标志物,图像采集单元用于采集物品取放柜的出入口的图像;取放检测单元与图像采集单元连接,用于基于图像采集单元采集到的图像中的标志物信息进行物品取放检测。通过在物品取放柜的出入口边缘设置标志物,检测物品取放柜的出入口图像中的标志物信息,基于检测结果进行物品取放检测,而无需目标物品的检测和跟踪,降低了场景和目标物品的要求,可以应对频繁变化的场景和任意速度取放,检测鲁棒性高。此外,本申请通过标志物信息进行取放检测,提高了检测取放操作的真实性和准确性。

    匀光光学系统
    20.
    发明公开
    匀光光学系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN113418603A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202110612975.X

    申请日:2021-06-02

    Abstract: 本申请提供的匀光光学系统,包括第一匀光件、至少一个棱镜组件、第二匀光件及光谱传感器。棱镜组件包括第一棱镜膜和第二棱镜膜,第一棱镜膜设于第一匀光件的出光面的一侧,第二棱镜膜设于第一棱镜膜的出光面的一侧;第二匀光件设于第二棱镜膜的出光面的一侧;光谱传感器的感光面朝向第二匀光件的出光面。在第一匀光件与第二匀光件之间,叠层设置第一棱镜膜和第二棱镜膜,能够有效控制出射光的角度,提升匀光性能,使光均匀地进入到光谱传感器,获取较为准确的光谱数据。

Patent Agency Ranking