用于低温连接、高温服役的碳纳米球@Ag核壳材料的制备方法与互连工艺

    公开(公告)号:CN116275028A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310314041.7

    申请日:2023-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于低温连接、高温服役的碳纳米球@Ag核壳材料的制备方法与互连工艺,所述碳纳米球@Ag核壳材料的制备方法如下:步骤1、将中空碳纳米球分散在溶剂中,搅拌并超声处理;步骤2、加入银源,在避光条件下搅拌后,加入还原剂;步骤3、将所得溶液在室温下避光搅拌;步骤4、将所得产物进行多次洗涤、离心、再分散,随后经干燥,得到碳纳米球@Ag核壳材料。本发明的碳纳米球@Ag核壳材料具有良好的抗氧化性,通过塑性变形可以有效减少形成接头中的孔隙和孔洞;可实现“低温连接、高温服役”,通过纳米颗粒的塑性变形有效减少形成接头中的孔隙和孔洞,可在低温条件下将芯片与基板互连,完成半导体器件的连接封装。

    一种微米In与纳米Cu@Ag核壳混合材料互连工艺

    公开(公告)号:CN115410934A

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202210853994.6

    申请日:2022-07-20

    Abstract: 本发明公开了一种微米In与纳米Cu@Ag核壳混合材料互连工艺,所述工艺包括如下步骤:步骤一:微米In与纳米Cu@Ag核壳混合焊膏的制备;步骤二:基板的处理;步骤三:焊膏的涂覆/印刷;步骤四:热压/电磁感应烧结。微米In与纳米Cu@Ag核壳能够相互配合,充分利用空间,降低孔隙率,能够大幅度地降低原材料的成本,在产业化大批量生产中发挥巨大优势。本发明可实现低温连接高温服役,不仅降低了互连温度和互连条件,还可有效的减少形成接头中的孔隙和孔洞,可在低温无压条件下将芯片与基板互连,完成半导体器件的连接封装,能够较好的应用于半导体器件的制造和微电子封装、电力电子封装等领域。

    一种Cu@In核壳结构的微米颗粒互连材料的制备方法

    公开(公告)号:CN115194145A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210853603.0

    申请日:2022-07-20

    Abstract: 本发明公开了一种Cu@In核壳结构的微米颗粒互连材料的制备方法,所述方法包括如下步骤:步骤一、在室温下配制含有络合剂、铟盐和抗氧化剂的碱性镀液,在碱性镀液中,络合剂与铟盐反应生成络合In3+,以防止In3+的直接沉淀;步骤二、硼氢化钠作为还原剂将络合In3+还原成In单质,在微米Cu球上进行化学镀In;步骤三、将步骤二的废液倒掉,用无水乙醇和蒸馏水交替超声清洗镀粉,最后一遍为无水乙醇清洗,过后风冷干燥、过筛,得到Cu@In核壳结构金属粉。该方法制备得到的Cu@In核壳结构的微米颗粒互连材料提高了微米铜的抗氧化性和稳定性,在保证互连材料导电性的前提下大大降低了互连温度和互连条件。

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