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公开(公告)号：CN116309038A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211421988.X
申请日：2022-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T3/40 , G06T7/00 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 低分辨图像域迁移网络构建方法及装置、基于域迁移的非配对MR图像超分辨方法及装置，涉及核磁共振成像领域中采集的低分辨核磁共振图像的超分辨领域。针对现有技术中存在的，真实MR图像的退化过程和双三次降采样过程相差甚远，往往存在畸变、模糊、放大未知噪声等缺点、传统的基于单图超分辨方法的MR图像超分辨技术不能满足实际需求的问题，本发明提供的技术方案包括：采集低分辨MR图像集和图像集的降采样高分辨MR图像集；对低分辨MR图像集和降采样高分辨MR图像集进行初步特征提取；将提取到的低分辨MR图像集的低分辨特征和提取到的降采样高分辨MR图像集的高分辨特征作为输入，构建网络。适合应用于提升低分辨核磁共振图像的分辨率的工作中。
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公开(公告)号：CN115629134B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202211305553.9
申请日：2022-10-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及声发射测试技术领域，特别涉及一种声发射测试装置。本发明实施例提供了一种声发射测试装置，沿直线方向依次包括导波杆、管状接头、声发射传感器和固定杆，所述固定杆和所述导波杆插入所述管状接头中，所述声发射传感器的两端分别与所述固定杆和所述导波杆抵接，所述导波杆远离所述固定杆的一端抵接待测件。本发明实施例提供了一种声发射测试装置，能够在高温、低温或震动大的环境下使用。
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公开(公告)号：CN115629134A
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202211305553.9
申请日：2022-10-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及声发射测试技术领域，特别涉及一种声发射测试装置。本发明实施例提供了一种声发射测试装置，沿直线方向依次包括导波杆、管状接头、声发射传感器和固定杆，所述固定杆和所述导波杆插入所述管状接头中，所述声发射传感器的两端分别与所述固定杆和所述导波杆抵接，所述导波杆远离所述固定杆的一端抵接待测件。本发明实施例提供了一种声发射测试装置，能够在高温、低温或震动大的环境下使用。
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公开(公告)号：CN109615003A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811488243.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于ELM-CHMM的电源故障预测方法，本发明涉及电源故障预测方法。本发明的目的是为了解决现有方法故障预测准确度低的问题。过程为：将电压信号数据分为训练和测试数据集，对训练数据集进行预处理，得到重构后的电压信号矩阵；建立ELM模型；把测试数据集输入ELM模型中，输出经过ELM模型预测的电压信号；提取训练数据集的特征参数；建立CHMM状态预测模型；提取经过ELM模型预测的电压信号数据的特征参数，分别输入到CHMM模型中；得到ELM-CHMM模型，得到待测电源故障的状态。本发明用于电源故障预测领域。
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公开(公告)号：CN105572481B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201511030917.7
申请日：2015-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R29/02
Abstract: 一种制导弹药多路时序状态信号测量电路及其测量方法，测量电路包括：通讯插座，输入插座，控制器，控制逻辑，三态门，光耦电路，通讯电路，晶振和存储器，通讯插座通过通讯电路与控制器连接，控制器还分别与控制逻辑、晶振、存储器、三态门连接，三态门通过光耦电路与输入插座连接，控制器依据接收到的上位机命令，配置测量通道，设置触发通道，获取测量数据，并在测量信号的上升沿和下降沿标记时间戳，根据时间戳计算被测信号的时间间隔和脉冲宽度，将测量结果存放在存储器中，当接收到读取测量结果命令时，通过通讯电路将测量结果上传给上位机，完成一次测量过程。本发明可以有效地降低自动测试设备的成本，提高自动测试设备的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104750644A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201510188013.0
申请日：2015-04-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F13/38
Abstract: DSP的EMIF读写时序与FPGA的AVALON读写时序的转换方法，涉及DSP与FPGA读写时序转换领域。解决了DSP读写时序和AVALON总线时序差异较大，读写时序不匹配，DPS不能直接访问AVALON总线资源的问题。FPGA对DSP的写信号进行检测，对要写入外设的地址和要写入的数据进行位宽转换，并对写使能输出信号赋值，实现DSP对FPGA内AVALON总线上外设的写时序转换；FPGA对DSP的读信号进行检测，对要读模块的16位地址进行位宽转换，并对读使能信号和waitrequest进行实时检测，实现DSP对FPGA内AVALON总线上外设的读时序转换。适用于DSP与FPGA之间的读写操作。
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公开(公告)号：CN101000264A
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN200710071635.0
申请日：2007-01-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 光谱极值测温方法，它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄的问题。本发明方法的步骤如下：被测物体(1)的红外辐射射线(2)经聚光镜(3)汇进入傅立叶分析光谱仪(4)，傅立叶光谱仪(4)进行光谱扫描，光谱曲线记录并存入计算机(5)，计算机(5)通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体(1)的温度，最后在显示屏(6)上显示被测物体(1)的温度。本发明方法测量温度的范围为300～3000K。本发明具有测量精度高、测量范围宽的优点。
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公开(公告)号：CN117990535B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202410126037.2
申请日：2024-01-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及基于数字图像相关技术的疲劳刚度退化规律测定方法，属于试验测试技术领域。本发明的目的是为了解决直接在疲劳测试过程中使用数字图像相关(DIC)技术测量刚度退化存在误差的问题。包括以下步骤：步骤一：试件表面处理，在试件表面制作散斑；步骤二：加载，包括以下步骤：步骤2.1：对试件进行准静态加载，同时对静态加载过程中的试件表面图像进行采集；得到准静态加载的试件刚度；步骤2.2：对试件进行疲劳加载；步骤2.3：判断“是”或“否”，“是”则结束加载，“否”则进行步骤二。本发明不需要使用高性能的DIC相机，仅需普通配置的DIC相机就可以得到材料的真实刚度退化规律。
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公开(公告)号：CN117929111A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410157137.1
申请日：2024-02-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于声发射技术的复合材料高温环境下损伤模式识别方法，本发明为了解决现有的纤维增强复合材料损伤模式识别方法在高温下是否适用仍不明确，且高温环境下的声发射采集存在困难的问题，具体包括：步骤一：基于声发射测试装置进行不同温度环境下基体拉伸实验；步骤二：基于声发射测试装置进行不同温度环境下45°单向带拉伸实验；步骤三：基于声发射测试装置进行不同温度环境下0°单向带拉伸实验；步骤四：基于声发射测试装置进行不同温度环境下织物层间拉伸实验。本发明明确了温度对不同损伤模式声发射特征参数的影响，建立了纤维增强复合材料在温度环境下的损伤模式识别方法。本发明属于无损检测技术领域。
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公开(公告)号：CN112611913B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202011548804.7
申请日：2020-12-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供一种实验教学应用的时间与频率测量装置，包括2路测试信号、2路输入电路，主控电路，显示电路，供电电路，晶振电路，测频模式选择开关、测周模式选择开关，闸门时间选择开关和周期倍乘选择开关；主控电路采用FPGA芯片，FPGA芯片内部包括分频器、分频/倍频器、门控电路A、门控电路B、闸门A、闸门B和计数器；测试信号A连接到第一输入电路，送入FPGA的输入管脚作为闸门A的输入；测试信号B连接到第二输入电路，送入FPGA的输入管脚作为分频器的输入，作为门控电路B的输入，晶振电路连接到FPGA芯片的输入管脚作为分频/倍频器的输入。该装置结构简单，特别适合时间与频率测量实验教学。
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