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公开(公告)号：CN102305911B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201110162065.2
申请日：2011-06-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 利用差值进行二次分配的扫描链平衡方法。它涉及系统芯片SOC测试技术领域。它为了缩短SOC的测试时间，进而降低测试费用。首先，将IP核内部各扫描链按照降序排列，从中找到最大的扫描链S(max)，将最大的扫描链S(max)除以调整系数adj的长度作为基准长度，最接近于基准长度的扫描链设定为基准的扫描链S(adj)；然后，将IP核内部各扫描链的长度与基准的扫描链S(adj)的长度进行比较，大于基准的扫描链S(adj)则设定为长扫描链S＞，小于等于基准的扫描链S(adj)则设定为短扫描链S≤，将所有长扫描链S＞按照基准的扫描链S(adj)的长度进行第一次分配；再计算出每一个长扫描链S＞与基准的扫描链S(adj)的差值di’，将所有短扫描链S≤与所有差值di’从大到小排序后，进行第二次分配。它应用于集成电路中。
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公开(公告)号：CN101976216B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201010519749.9
申请日：2010-10-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F11/22
Abstract: 基于IEEE 1500标准的IP核测试结构及测试方法，涉及IP核测试结构和方法，解决了现有的IP核测试技术耗时长、测试效率低的问题，过程如下：一、开启配置信号生成模块，生成测试所需的配置信号；二、开启命令总线分配模块，在配置信号的作用下将命令总线与被测IP核的命令信号线相连。三、开启测试指令生成模块，在上层控制指令的作用下，给被测IP核提供控制信号和编码后的测试指令。四、开启数据总线分配模块，配置测试数据传输的通路。五、开启相应的测试数据生成模块，给被测IP核提供测试激励。六、使被测IP核正常工作，捕获IP核的测试响应。本发明通过在FPGA内增加测试结构实现了IP核的测试，设计简单而灵活。
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公开(公告)号：CN102495357A
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN201110382188.7
申请日：2011-11-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 一种基于比较器响应分析器的输入向量监测并发内建自测试电路。它涉及SOC的测试装置。它解决了现有测试中存在的硬件成本过高、测试延时过大以至于一些输入引脚较多的电路无法被监测的问题。被测集成电路有n个原始输入信号，在原始输入信号中选择t个作为地址信号，n-t个为非地址信号，t个地址信号的组合后均不相同，通过二选一多路选择器选择信号发给测试集发生器和被测集成电路；比较器对选择器信号与列输出信号进行比较，并向测试集发生器发比较信号；测试集发生器和被测集成电路分别发行输出信号和实际输出信号给响应分析器，响应分析器对两个信号进行比较，并发测试结果。应用于一些原来不可测的电路中进行检测。
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公开(公告)号：CN102279296A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110167193.6
申请日：2011-06-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R1/30
Abstract: SOCs测试封装扫描信号输入单元和扫描结果输出单元，涉及一种SOCs测试封装扫描单元结构，为了解决实现母核和子核的并行测试的不安全问题，SOCs测试封装扫描信号输入单元，它包括一号多路选择器、二号多路选择器、三号多路选择器、一号触发器和二号触发器，它还包括CMOS传输门；SOCs测试封装扫描结果输出单元，它包括四号多路选择器、五号多路选择器、六号多路选择器、七号多路选择器、三号触发器和四号触发器，它还包括CMOS传输门，CMOS传输门包括NMOS管和PMOS管，NMOS管和PMOS管的源极相连作为输入端，漏极相连作为输出端，栅极作为控制端，用于SOCs的测试。
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公开(公告)号：CN102156258A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110057651.0
申请日：2011-03-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法，涉及系统芯片测试技术领域。本发明解决了现有基于BFD算法实现测试封装扫描链平衡方法以及基于平均值近似的SoC扫描链平衡方法中存在的不足。本发明的测试封装扫描链平衡方法的过程为：首先，计算Wrapper扫描链长度平均值；然后，根据获得的长度平均值确定误差限，所述误差限为所述长度平均值的1％至3％；最后，根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间，把该取值区间作为全局优化的指导原则，实现测试封装扫描链平衡。本发明采用Wrapper扫描链平衡算法的原理实现缩短单个IP核测试时间这一目标，进而缩短SoC测试时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102043122A
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN201010572388.4
申请日：2011-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法，属于片上系统测试领域，本发明为解决现有基于扫描链的非并发方式的在线测试方法存在对时序的要求比较严格、控制难度大、且无法一次移入多组测试向量的问题。本发明所述改进扫描链单元用于代替片上系统中的D触发器，该单元中有两个触发器和两个选择器，第一触发器是构成原电路扫描链的基本单元，实现与原D触发器相同功能，第二触发器是为进行测试时保存数据而引入的。两个数据选择器通过使能端来控制数据的流向，第一选择器控制第二触发器中的数据是否可以送到第一触发器，第二选择器控制第一触发器的工作状态或扫描状态。此单元可输入多组测试向量连续测试。测试前后不改变电路的运行状态。
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公开(公告)号：CN101995544A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN201010566520.0
申请日：2010-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28 , G01R31/3185
Abstract: 一种具有灵活分配测试存取机制的SOC测试调度方法，本发明涉及集成电路测试领域，能够使IP核测试存取机制的分配方式更加灵活，更好的实现IP核的并行测试，从而缩短测试时间。它包括下述步骤：根据BFD算法，找出待测SOC内部各个IP核的pareto-point；根据vt-1产生N个随机样本；利用B*-Tree二叉树结构计算各个IP核的布局；选择部分IP核进行灵活的TAM分配；利用CE方法求解各个IP核的的总线分配和时间分配，直到满足CE收敛的条件。本发明用于SOC的测试。
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公开(公告)号：CN101738332A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200910312925.9
申请日：2009-12-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01M19/00
Abstract: 小卫星执行机构的状态信息采集装置，它涉及一种信号采集装置，它解决了目前尚无设备能够有效检测多种类的卫星执行机构部件状态信息的问题。小卫星执行机构的状态信息采集装置，包括磁力矩传感器电压采集模块、卫星飞轮转速采集模块、卫星飞轮转速方向采集模块、卫星燃料推进器开关时间采集模块、控制及计算模块、数据组帧模块、启动帧判断模块、50ms周期信号采集模块和动力学计算机；状态信息采集装置接收到50ms周期信号后，采集磁力矩传感器、飞轮和卫星燃料推进器输出的各个信号并处理，将处理后的数据组帧后通过RS-485通讯逻辑程序传送给动力学计算机。本发明克服了已有技术的不足，可用于航天领域执行机构部件的信号采集检测。
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公开(公告)号：CN114595767B
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202210223287.9
申请日：2022-03-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F18/22 , G06N3/0442 , G06N3/0455 , G06N3/048 , G06F17/18
Abstract: 一种具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法，属于工业设备故障检测领域。本发明针对现有工业系统的故障检测依赖故障数据建立检测模型，故障数据获取难度大造成方法难以适用的问题。包括：采集时间序列状态数据作为训练数据；计算训练数据m维特征变量的均值和标准差，并对训练数据进行标准化；对标准化后时间序列数据采用滑动窗口进行分割得到序列数据P，对LSTM自编码网络进行训练；再基于训练后LSTM自编码网络获得训练数据的误差序列；基于极值理论的方法对误差序列进行分析，得到故障阈值；再基于待检测设备序列数据对故障阈值进行调整，得到调整后阈值，进而实现工业设备的故障检测。本发明用于变量具有时序特征的工业设备的故障检测。
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公开(公告)号：CN118739824A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410884224.7
申请日：2024-07-03
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 一种交错并联Boost变换器的容错控制方法及其系统，涉及信息处理技术领域。解决现有交错并联Boost变换器的容错控制方法存在硬件复杂度高、成本增加等问题。容错控制方法为：S1、获取交错并联Boost变换器的PWM控制信号；S2、调整所述PWM控制信号的相移和频率，使剩余相导通对称；S3、采用常导通时间控制恢复输出电压至参考值。本发明适用于考虑设备健康状态影响的寿命预测方法。
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