公开(公告)号：CN117589640A

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN202311621452.7

申请日：2023-11-29

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 潘瑾 ,  赖兰芳 ,  杨凡 ,  魏丽英 ,  曾雷英 ,  魏国桢

IPC: G01N13/00

Abstract: 本发明涉及一种电解液浸润性能测试装置及测试方法，其包括容器、测试片和电导率仪。测试片包括支撑片和电极活性材料层，支撑片具有相反的两侧面，且至少一侧面上覆盖有电极活性材料层，支撑片上开设有贯穿两侧面的通孔，测试片设于容器内，并将容器分隔成通过通孔相连通的第一腔室和第二腔室。其中，第一腔室用于注入电解液，第二腔室用于注入可溶解锂离子的溶剂，电导率仪用于测量第二腔室内的溶剂的电导率变化。可通过绘制电导率随时间变化的浸润曲线，将极片的浸润过程用曲线可视化、定量化的描述出来。并且，当第二腔室内的溶剂的电导率不再发生变化时能够得到完全浸润所需要的时间，测试操作更简单且具有更高的精度。

公开(公告)号：CN117214213A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311190060.X

申请日：2023-09-15

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 甘毅祥 ,  施艺 ,  谭鸿锦 ,  潘富健 ,  叶淑爱 ,  蔡鹭欣 ,  董清木 ,  魏丽英 ,  曾雷英

IPC: G01N23/2202 ,  G01N23/223

Abstract: 本发明属于元素检测领域，涉及一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法，包括采用熔剂Ⅰ和非还原性脱模剂Ⅰ对铂黄坩埚的底部进行保护处理，获得护底铂黄坩埚；采用熔剂Ⅱ对护底铂黄坩埚的侧壁进行保护处理，获得护底‑护壁铂黄坩埚；将硅氧化物待测样品、助熔剂和添加剂加入护底‑护壁铂黄坩埚中高温熔融后冷却，即得熔片；所述添加剂中含有第一氧化剂、第二氧化剂和碱性调节剂，所述第一氧化剂选自高价态金属氧化物、高价态非金属氧化物、金属过氧化物、金属次氯酸盐和金属高氯酸盐中的至少一种，所述第二氧化剂为硝酸盐。本发明提供的方法能够获得完整熔片、测量结果准确且不易腐蚀铂黄坩埚。

公开(公告)号：CN115308109A

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202210949587.5

申请日：2022-08-09

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 魏丽英 ,  曾雷英 ,  姜龙 ,  魏国祯 ,  洪敏强

IPC: G01N15/08 ,  G01N15/02 ,  G01N9/36

Abstract: 本发明属于物性分析检测领域，涉及一种粉体材料开孔率的分析表征方法，该方法按照OPAS＝(SSA‑PSA)/SSA*100％计算粉体材料的开孔率，OPAS表示开孔率；SSA表示粉体材料整体的比表面积；PSA表示粉体材料的外比表面积，其为在假设粉体材料颗粒为球形且无孔的前提下获得，为粉体材料颗粒的总面积除以总权重。本发明提供的孔孔隙结构分析方法不仅不受粉体材料的孔径大小限制，而且不受粒径大小限制，可以准确有效表征所有孔径和粒径大小的粉体材料的开孔孔隙结构，分析表征全范围孔径尺寸的开孔孔隙结构，具有良好的可行性，方法简单，操作方便，成本低，应用范围广泛。

公开(公告)号：CN113109217A

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN202110418598.6

申请日：2021-04-19

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 洪敏强 ,  魏丽英 ,  林兆荣 ,  赖兰芳

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法，所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度，根据以下公式1求得粉体材料的表观密度：公式1：ED＝cf/(V平均*N)其中，ED表示粉体材料的表观密度，V平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数，cf表示校正因子，可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

公开(公告)号：CN112816392A

公开(公告)日：2021-05-18

申请号：CN202110267148.1

申请日：2021-03-11

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 洪敏强 ,  魏丽英 ,  曾雷英

IPC: G01N15/08

Abstract: 本申请提供一种晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，包括：获取晶态物质的真密度ρ1、理论密度ρ2和系统差ρ3；利用公式[ρ2/(ρ1‑ρ3)‑1]*100％计算得到晶态物质的闭孔孔隙率。本申请所述分析测试方法不受晶态物质的孔径大小限制，并且可以测量全范围粒径大小的晶态物质的闭孔孔隙率，适用范围广、操作简便、成本低。本申请利用X射线粉末衍射仪和真密度分析仪进行测试分析，不会破坏晶态物质结构。本申请仅使用仪器测试值计算得到闭孔孔隙率，不需要使用感光膜、切片等，也不需要化学试剂等有危害物质，对环境友好，绿色环保。

公开(公告)号：CN221199362U

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202323261202.5

申请日：2023-11-29

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 潘瑾 ,  赖兰芳 ,  李现利 ,  魏丽英 ,  曾雷英 ,  魏国桢

IPC: G01N13/00

Abstract: 本实用新型涉及一种电解液浸润性能测试装置及测试方法，其包括容器、测试片和电导率仪。测试片包括支撑片和电极活性材料层，支撑片具有相反的两侧面，且至少一侧面上覆盖有电极活性材料层，支撑片上开设有贯穿两侧面的通孔，测试片设于容器内，并将容器分隔成通过通孔相连通的第一腔室和第二腔室。其中，第一腔室用于注入电解液，第二腔室用于注入可溶解锂离子的溶剂，电导率仪用于测量第二腔室内的溶剂的电导率变化。可通过绘制电导率随时间变化的浸润曲线，将极片的浸润过程用曲线可视化、定量化的描述出来。并且，当第二腔室内的溶剂的电导率不再发生变化时能够得到完全浸润所需要的时间，测试操作更简单且具有更高的精度。