一种锂离子电池正极材料电化学比表面积的测算方法及其应用

    公开(公告)号:CN113358019B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202110188009.X

    申请日:2021-02-18

    Abstract: 本发明公开一种锂离子电池正极材料电化学比表面积的测算方法,该测算方法与锂离子电池正极材料的BET比表面积、表观密度和锂离子电池正极材料制作成电极片时的电极片压实密度、电极片上正极材料的质量分数等物理参数建立直接联系,将导电剂和颗粒间接触对电解液的屏蔽效应考虑在内,具有优于现行电化学比表面积测算方法,该测量方法具有使用方便、操作规范等特点;测算出的电化学比表面积更加接近实际值,可应用在电化学测量技术,包括恒电流间歇滴定方法(GITT)、恒电位间歇滴定方法(PITT)、电位弛豫技术(CPR)、电化学阻抗谱技术(EIS)和循环伏安方法(CV),有助于提高锂离子正极材料的检测和开发水平。

    一种层状四氧化三钴材料及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN114249355B

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202111609616.5

    申请日:2021-12-24

    Abstract: 本申请公开了一种层状四氧化三钴材料及其制备方法与应用。该层状四氧化三钴材料包括多个疏松层及多个致密层,所述疏松层与所述致密层由内到外交叠设置,所述疏松层位于中心,所述致密层位于最外层,所述疏松层的密度小于所述致密层的密度。本申请中提供的层状四氧化三钴材料具有规则的形貌,且内部为多层疏松、致密相间的层状结构,结构稳定有序且形貌均一,将其用于制备锂离子电池,能够提升电池材料的循环稳定性能。

    一种层状四氧化三钴材料及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN114249355A

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202111609616.5

    申请日:2021-12-24

    Abstract: 本申请公开了一种层状四氧化三钴材料及其制备方法与应用。该层状四氧化三钴材料包括多个疏松层及多个致密层,所述疏松层与所述致密层由内到外交叠设置,所述疏松层位于中心,所述致密层位于最外层,所述疏松层的密度小于所述致密层的密度。本申请中提供的层状四氧化三钴材料具有规则的形貌,且内部为多层疏松、致密相间的层状结构,结构稳定有序且形貌均一,将其用于制备锂离子电池,能够提升电池材料的循环稳定性能。

    一种粉体材料表观密度的分析方法

    公开(公告)号:CN113109217B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202110418598.6

    申请日:2021-04-19

    Abstract: 本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法,所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度,根据以下公式1求得粉体材料的表观密度:公式1:ED=cf/(V平均*N)其中,ED表示粉体材料的表观密度,V平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积,N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数,cf表示校正因子,可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

    一种锂离子电池正极材料电化学比表面积的测算方法及其应用

    公开(公告)号:CN113358019A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110188009.X

    申请日:2021-02-18

    Abstract: 本发明公开一种锂离子电池正极材料电化学比表面积的测算方法,该测算方法与锂离子电池正极材料的BET比表面积、表观密度和锂离子电池正极材料制作成电极片时的电极片压实密度、电极片上正极材料的质量分数等物理参数建立直接联系,将导电剂和颗粒间接触对电解液的屏蔽效应考虑在内,具有优于现行电化学比表面积测算方法,该测量方法具有使用方便、操作规范等特点;测算出的电化学比表面积更加接近实际值,可应用在电化学测量技术,包括恒电流间歇滴定方法(GITT)、恒电位间歇滴定方法(PITT)、电位弛豫技术(CPR)、电化学阻抗谱技术(EIS)和循环伏安方法(CV),有助于提高锂离子正极材料的检测和开发水平。

    一种粉体材料开孔率的分析表征方法

    公开(公告)号:CN115308109A

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202210949587.5

    申请日:2022-08-09

    Abstract: 本发明属于物性分析检测领域,涉及一种粉体材料开孔率的分析表征方法,该方法按照OPAS=(SSA‑PSA)/SSA*100%计算粉体材料的开孔率,OPAS表示开孔率;SSA表示粉体材料整体的比表面积;PSA表示粉体材料的外比表面积,其为在假设粉体材料颗粒为球形且无孔的前提下获得,为粉体材料颗粒的总面积除以总权重。本发明提供的孔孔隙结构分析方法不仅不受粉体材料的孔径大小限制,而且不受粒径大小限制,可以准确有效表征所有孔径和粒径大小的粉体材料的开孔孔隙结构,分析表征全范围孔径尺寸的开孔孔隙结构,具有良好的可行性,方法简单,操作方便,成本低,应用范围广泛。

    一种粉体材料表观密度的分析方法

    公开(公告)号:CN113109217A

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN202110418598.6

    申请日:2021-04-19

    Abstract: 本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法,所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度,根据以下公式1求得粉体材料的表观密度:公式1:ED=cf/(V平均*N)其中,ED表示粉体材料的表观密度,V平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积,N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数,cf表示校正因子,可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

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