公开(公告)号：CN113109217B

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202110418598.6

申请日：2021-04-19

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 洪敏强 ,  魏丽英 ,  林兆荣 ,  赖兰芳

IPC: G01N9/04 ,  G01N15/0205

Abstract: 本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法，所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度，根据以下公式1求得粉体材料的表观密度：公式1：ED＝cf/(V平均*N)其中，ED表示粉体材料的表观密度，V平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数，cf表示校正因子，可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

公开(公告)号：CN113959816B

公开(公告)日：2024-05-17

申请号：CN202111242679.1

申请日：2021-10-25

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 赖兰芳 ,  康桃 ,  魏丽英 ,  林兆荣

IPC: G01N1/32

Abstract: 本申请提供了一种多个样品的截面制样方法，所述多个样品的截面制样方法包括：提供一箔材。将所述箔材折叠后展开，得到多个折痕，所述折痕用于将所述箔材至少划分为依次相连的第一区、第二区和第三区。取第一样品放置在所述第二区上，将所述第一区向所述第二区翻折，使得所述第一样品包裹于所述第一区和所述第二区之间。取第二样品放置在所述第三区上，将包裹有所述第一样品的所述第二区向所述第三区翻折，使得所述第二样品包裹于所述第一区和所述第三区之间。本申请提供的制样方法可以同时制备多个样品，提高了制样效率。

公开(公告)号：CN113959816A

公开(公告)日：2022-01-21

申请号：CN202111242679.1

申请日：2021-10-25

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 赖兰芳 ,  康桃 ,  魏丽英 ,  林兆荣

IPC: G01N1/32

Abstract: 本申请提供了一种多个样品的截面制样方法，所述多个样品的截面制样方法包括：提供一箔材。将所述箔材折叠后展开，得到多个折痕，所述折痕用于将所述箔材至少划分为依次相连的第一区、第二区和第三区。取第一样品放置在所述第二区上，将所述第一区向所述第二区翻折，使得所述第一样品包裹于所述第一区和所述第二区之间。取第二样品放置在所述第三区上，将包裹有所述第一样品的所述第二区向所述第三区翻折，使得所述第二样品包裹于所述第一区和所述第三区之间。本申请提供的制样方法可以同时制备多个样品，提高了制样效率。

公开(公告)号：CN113109217A

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN202110418598.6

申请日：2021-04-19

Applicant: 厦门厦钨新能源材料股份有限公司

Inventor： 洪敏强 ,  魏丽英 ,  林兆荣 ,  赖兰芳

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法，所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度，根据以下公式1求得粉体材料的表观密度：公式1：ED＝cf/(V平均*N)其中，ED表示粉体材料的表观密度，V平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数，cf表示校正因子，可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。