一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法

    公开(公告)号:CN117214213A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311190060.X

    申请日:2023-09-15

    Abstract: 本发明属于元素检测领域,涉及一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法,包括采用熔剂Ⅰ和非还原性脱模剂Ⅰ对铂黄坩埚的底部进行保护处理,获得护底铂黄坩埚;采用熔剂Ⅱ对护底铂黄坩埚的侧壁进行保护处理,获得护底‑护壁铂黄坩埚;将硅氧化物待测样品、助熔剂和添加剂加入护底‑护壁铂黄坩埚中高温熔融后冷却,即得熔片;所述添加剂中含有第一氧化剂、第二氧化剂和碱性调节剂,所述第一氧化剂选自高价态金属氧化物、高价态非金属氧化物、金属过氧化物、金属次氯酸盐和金属高氯酸盐中的至少一种,所述第二氧化剂为硝酸盐。本发明提供的方法能够获得完整熔片、测量结果准确且不易腐蚀铂黄坩埚。

    晶体衍射数据的平滑处理方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117054458A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202311034092.0

    申请日:2023-08-16

    Abstract: 本申请提供一种晶体衍射数据的平滑处理方法、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取晶体衍射数据的小波谱图;从所述小波谱图中分离出高频小波谱图与低频小波谱图;对所述高频小波谱图进行峰值位置提取;对所述低频小波谱图进行数据密度计算,得到所述低频小波谱图的密度计算结果;基于所述峰值位置与所述密度计算结果对所述小波谱图进行数据筛选,得到筛选数据;对所述筛选数据进行平滑处理,得到平滑处理后的小波谱图。本申请能够辅助进行晶体衍射数据的平滑处理,筛选得到更多的小峰数据,提高平滑处理的效果与定量分析的结果的准确率。

    产气测试装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222144975U

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202420588912.4

    申请日:2024-03-25

    Abstract: 本申请提出一种产气测试装置,包括罐体、搅拌机构、恒温机构、气体测量机构和抽真空机构。本申请的产气测试装置通过设置搅拌机构、恒温机构、抽真空机构和气体测量机构等结构,能在尽量还原实际生产的工况下(包括搅拌、恒温等过程),实现对产气量的实时监测,并能自动化记录和导出数据,然后再结合理想气体状态方程进行计算,便能得出精确的产气体积,完成对气体的定量分析。此外,本申请的产气测试装置还设有气体成分分析仪,能够检测所产生气体的成分,完成对气体的定性分析。

Patent Agency Ranking