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公开(公告)号：CN103759831A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN103728019A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310706216.5
申请日：2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/433
Abstract: 本发明公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。本发明还公开了一种基于声光调制的光谱测量方法，首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合，并经光谱辐射定标，得到待测入射光的光谱。相比现有技术，本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。
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公开(公告)号：CN102316456A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110228161.2
申请日：2011-08-10
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本方法涉及一种基于数字水印的抗转发攻击方法。通过在源节点处对数据进行水印嵌入，在基站处对水印信息进行提取，以获得数据在传输过程中的被丢弃率和被篡改率，再与安全网络中数据丢包率进行比较，以此判断传输路径中是否存在选择转发攻击节点；在基站一旦判断传输路径中存在恶意节点时，则进行恶意节点检测并排除。采用本发明的检测方法可以对恶意节点随机丢弃数据包的行为做出判断，同时检测并排除恶意节点，提高了网络的安全性。
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公开(公告)号：CN104660344B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201510068163.8
申请日：2015-02-09
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/60 , H04B10/116
Abstract: 本发明公开了一种多输入多输出的光通信系统及其信号复原方法。包括光信号发射端和光信号接收端；光信号发射端包括相互连接的光强调制单元、光信号发送单元，光信号发送单元包括相互之间频谱互有重叠但又不完全相同的n个宽带光源，光强调制单元将n路信号分别调制至n个宽带光源生成相应的光调制信号；光信号接收端包括分光器件、光信号接收器、信号处理单元；所述分光器件可令不同频率的入射光经过后形成不同的光强分布，且相同频率的入射光经过分光器件的不同部位所产生的光强角分布也不同；光信号接收器为具有相同频谱响应的n个光探测器所组成的光探测器阵列。本发明能在照明的同时实现大容量信号的传输，且结构简单、实现容易。
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公开(公告)号：CN103759829B
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201410000783.3
申请日：2014-01-02
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本发明还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法，首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、光谱定标，得到待测入射光的光谱。本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103063299B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN103196557A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201310092371.2
申请日：2013-03-21
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层透明涂层，所述透明涂层中包含有一组尺寸或形状不均匀分布的气泡。相比现有技术，本发明具有制作简单、实现成本低、便携性好，以及较高的分辨率和较宽的光谱测量范围的优点。
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公开(公告)号：CN103063299A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN103913226B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410113837.7
申请日：2014-03-25
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置，包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；经由光学准直装置准直后的入射光经由光散射器件形成散射光，并被阵列式探测芯片接收；所述光散射器件可令不同频率的入射光形成不同的散射光强角分布，且相同频率的入射光在光散射器件的不同部位所产生的散射光强分布也不同。本发明还公开了一种采用上述装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明具有体积更小、结构复杂度及制作成本更低的优点，并提出了一种新的光谱测量技术途径。
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公开(公告)号：CN104142178B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201410357523.1
申请日：2014-07-24
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种基于滤波膜阵列的光谱测量装置，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤波膜在所述探测阵列芯片的测量波段范围内的透射谱线互不相同；所述滤波膜阵列中的每一片滤波膜均有至少一个所述探测阵列芯片的像素元与其正对。本发明还公开了使用上述光谱测量装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明易于制作，成本低廉，利于实现批量生产。
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