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公开(公告)号:CN1900745A
公开(公告)日:2007-01-24
申请号:CN200610088286.9
申请日:2006-07-07
Applicant: 南京大学
IPC: G02B5/08 , H01L31/0216 , H01L31/0232 , H01L31/18 , H01L33/00 , H01L51/00 , H01S5/125 , H01S5/187
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 用于紫外探测器的高反射率分布布拉格反射镜结构:从基底到上部的结构为,5-50nm厚的低温LT-GaN、50-2000nm厚的高温HT-GaN和或加入一层厚度为5-100nm的高温HT-AlN;最后为10-50周期的15-80nm高温AlN/15-100nm高温AlxGal-xN,其中Al组分x≥0.3。对反射波长小于360nm的紫外射线的DBR结构;该结构包括:5-50nm厚的低温LT-GaN/50-2000nm厚的高温HT-GaN/和或包括加入一层厚度为5-100nm的高温HT-AlN/最后为10-50周期的15-80nm高温AlN/15-100nm高温AlxGal-xN结构。
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公开(公告)号:CN1763268A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200510094184.3
申请日:2005-09-01
Applicant: 南京大学
IPC: C30B25/02 , C30B29/40 , H01L21/205
Abstract: 一种a面和m面GaN薄膜材料的控制生长方法,在MOCVD系统中用铝酸锂做衬底生长a面或m面的GaN材料,在MOCVD系统中对生长的(302)和(100)铝酸锂衬底在500-1050℃温度下进行材料热处理,时间为10-60分钟,或然后通入氨气进行表面氮化,时间为10-60分钟;然后在500-1050℃温度范围通入载气H2和或N2,NH3气以及金属有机镓源,金属有机镓源流量为1-50sccm;NH3气500-7000sccm;N与Ga之摩尔比为500-3000,在(302)或(100)铝酸锂衬底上合成生长a面或m面的GaN材料,生长温度500-1050℃温度下,时间为10-60分钟。本发明GaN薄膜具有更好的应用价值,且薄膜厚度可以控制。
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公开(公告)号:CN1900745B
公开(公告)日:2011-02-09
申请号:CN200610088286.9
申请日:2006-07-07
Applicant: 南京大学
IPC: G02B5/08 , H01L31/0216 , H01L31/0232 , H01L31/18 , H01L33/00 , H01L51/00 , H01S5/125 , H01S5/187
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 用于紫外探测器的高反射率分布布拉格反射镜结构:从基底到上部的结构为,5-50nm厚的低温LT-GaN、50-2000nm厚的高温HT-GaN和或加入一层厚度为5-100nm的高温HT-AlN;最后为10-50周期的15-80nm高温AlN/15-100nm高温AlxGal-xN,其中Al组分x≥0.3。对反射波长小于360nm的紫外射线的DBR结构;该结构包括:5-50nm厚的低温LT-GaN/50-2000nm厚的高温HT-GaN/和或包括加入一层厚度为5-100nm的高温HT-AlN/最后为10-50周期的15-80nm高温AlN/15-100nm高温AlxGal-xN结构。
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公开(公告)号:CN101777488A
公开(公告)日:2010-07-14
申请号:CN201010101550.4
申请日:2010-01-26
Applicant: 南京大学
IPC: H01L21/205 , H01L31/09
Abstract: 提高铝掺入效率获得高铝组分铝镓氮合金的生长方法,采用MOCVD在α-Al2O3衬底上外延生长AlxGa1-xN合金薄膜层,采用AlN缓冲层或插入层防止薄膜层产生裂纹,通过对Al/Ga摩尔比的控制,实现对AlxGa1-xN的Al组分进行调节,Al组分范围为0≤x≤0.8;Al组分的控制方法是:保持注入Al的摩尔量一定,降低Ga和Al摩尔比范围从5.8至0.46。本发明可获得Al组分x高达0.8的AlxGa1-xN合金,Al掺入效率提高9%;质量优良,AlxGa1-xN(0002)典型的X射线摇摆曲线半峰宽小于300弧秒;发光性能优良,阴极荧光谱展示了显著强烈的带边发光峰;表面光滑平整,典型粗糙度(RMS)小于0.8nm。
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