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公开(公告)号:CN112304365A
公开(公告)日:2021-02-02
申请号:CN202011026809.3
申请日:2020-09-25
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01D21/02
Abstract: 本发明涉及一种在轨微小空间碎片多参数测量探头及测量方法,本发明属于空间碎片监测测量领域,涉及一种在轨被动微小碎片尺寸、速度、质量多个参数测量方法,用于航天器在轨空间碎片测量载荷。本发明的包括前后薄膜传感器、前后电荷收集电极、电荷测量放大器以及高频脉冲计数器。前后薄膜上镀有金属膜,前薄膜后、后薄膜前装有等间距电荷收集丝,收集电极与薄膜间加负直流电压,用于收集微小碎片撞击到前后薄膜产生的电荷信号。前后薄膜产生的电荷被收集电极收集,并由电荷放大器放大为电压脉冲信号,由高频脉冲计数器测量前后薄膜上的撞击信号的时间差,获得速度和方向信息。由电荷量信号获得撞击碎片能量,结合速度可以得到空间碎片的质量。
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公开(公告)号:CN110677967A
公开(公告)日:2020-01-10
申请号:CN201910883278.0
申请日:2019-09-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种基于法拉第杯的卫星表面等离子体充电电流监测方法。通过确定卫星表面充电电流的测量对象及范围;设计法拉第杯探头;法拉第杯探头在卫星上的安装;确定卫星表面充电电流真实数据与法拉第杯探头测量数据的关系,实现对空间等离子对卫星表面充电电流的包络和有效反演。本发明的方法能够有效反映卫星表面等离子体充电电流大小,为卫星表面带电状态和带电风险的评估提供依据。
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公开(公告)号:CN115391713A
公开(公告)日:2022-11-25
申请号:CN202210838677.7
申请日:2022-07-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F17/10
Abstract: 本发明提出一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法,考虑了斜入射带来的屏蔽厚度增厚、总剂量变低效应,显著降低电离总剂量数据。具体包括以下步骤:步骤一、根据卫星运行轨道参数分析卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽厚度的关系;步骤二、根据所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效铝屏蔽厚度的关系获取所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽铝厚度关系的拟合公式及拟合系数;步骤三、利用所述拟合公式及拟合系数分析考虑斜入射效应的各向同性入射条件下的卫星电离总剂量与等效铝屏蔽厚度的计算公式;步骤四、根据所述计算公式分析卫星内部单机中器件的电离总剂量。
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公开(公告)号:CN112257226A
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN202010982709.1
申请日:2020-09-17
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F30/20
Abstract: 一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法,属于空间辐射技术领域。本发明通过获取器件重离子单粒子翻转截面试验数据及拟合结果;建立器件单粒子翻转率分析模型;计算器件所处轨道的重离子LET谱;分析器件在轨单粒子翻转率。本发明的方法仅采用器件重离子单粒子翻转试验数据,就可以构建确定的单粒子翻转率分析模型,并进行单粒子翻转率分析,解决了以往单粒子模型参数依赖器件工艺参数、难以确定、无法形成统一标准的问题。
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